
Add to Cart
N mecanografía, la oblea del fosfuro de indio, 6", grado de la prueba - oblea de Powerway
PAM-XIAMEN proporciona la oblea del INP del solo cristal (fosfuro de indio) para la industria microelectrónica (HEMT de HBT/) y optoelectrónica (LED/DWDM/PIN/VCSELs) en diámetro hasta 6 pulgadas. El cristal de (InP) del fosfuro de indio es formado por dos elementos, indios y fosfuros, crecimiento por el método encapsulado líquido de Czochralski (LEC) o el método de VGF. La oblea del INP es un material importante que tengan propiedades eléctricas y termales superiores, oblea del semiconductor del INP tiene una movilidad de electrón más alta, una frecuencia más alta, el bajo consumo de energía, una conductividad termal más alta y funcionamiento de poco ruido. PAM-XIAMEN puede proporcionar la oblea lista del INP del grado del epi para su uso epitaxial del MOCVD y del MBE. Entre en contacto con por favor a nuestro equipo del ingeniero para más información de la oblea.
N mecanografía, la oblea del fosfuro de indio, 6", grado de la prueba
6" especificación de la oblea del INP | ||||
Artículo | Especificaciones | |||
Tipo de la conducción | N-tipo | N-tipo | ||
Dopante | Sin impurificar | Azufre | ||
Diámetro de la oblea | 6" | |||
Orientación de la oblea | 100±0.5° | |||
Grueso de la oblea | ||||
Longitud plana primaria | ||||
Longitud plana secundaria | ||||
Concentración de portador | ≤3x1016cm-3 | (0.8-6) x1018cm-3 | (0.6-6) x1018cm-3 | N/A |
Movilidad | (3.5-4) x103cm2/V.s | (1.5-3.5) x103cm2/V.s | 50-70cm2/V.s | >1000cm2/V.s |
Resistencia | N/A | N/A | N/A | >0.5x107Ω.cm |
EPD | <1000cm>-2 | <1x10>3cm-2 | <1x10>3cm-2 | <5x10>3cm-2 |
TTV | ||||
ARCO | ||||
DEFORMACIÓN | ||||
Marca del laser | a petición | |||
Final de Suface | P/E, P/P | |||
Epi listo | sí | |||
Paquete | Solo envase o casete de la oblea |
Hechos del fosfuro de indio
![]() |
La movilidad de pasillo del electrón contra la temperatura para diverso doping nivela. Curva inferior - no=Nd-Na=8·1017 cm-3; Curva media - no=2·1015 cm-3; Curva superior - no=3·1013 cm-3. (Razeghi y otros [1988]) y ( de Walukiewicz y otros [el an o 80]). |
![]() |
Movilidad de pasillo del electrón contra la temperatura (temperaturas altas): Curva inferior - no=Nd-Na~3·1017 cm-3; Curva media - no~1.5·1016 cm-3; Curva superior - no~3·1015 cm-3. (Galavanov y Siukaev [1970]). |
µn = (4.2÷5.4)·103·(300/T) (cm2V-1 S1)
![]() |
Movilidad de pasillo contra la concentración del electrón para diversos ratios de la remuneración. θ = Na/Nd, 77 K. Las curvas rayadas son cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8; ( del de Walukiewicz y otros [el an o 80]). La línea llena es valores observados del medio ( del de Anderson y otros [1985]). |
![]() |
Movilidad de pasillo contra la concentración del electrón para diversos ratios de la remuneración θ =Na/Nd, 300 K. Las curvas rayadas son cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8; ( del de Walukiewicz y otros [el an o 80]). La línea llena es valores observados del medio ( del de Anderson y otros [1985]). |
Μ=ΜOH/[1+ (Nd/107) el 1/2],
donde ΜOH=5000 cm2V-1 S1,
Nd en cm-3 (Hilsum [1974])
En 300 K, el factor rn≈1 de Pasillo del electrón en el n-INP.
para Nd > 1015 cm-3.
![]() |
Agujeree la movilidad de pasillo contra la temperatura para diversos niveles de doping (del Zn). Concentración de agujero en 300 K: 1. 1,75·1018 cm-3; 2. 3,6·1017 cm-3; 3. 4,4·1016 cm-3. θ=Na/Nd~0.1. ( del de Kohanyuk y otros [1988]). |
µpH~150·(300/T) 2,2 (cm2V-1 S1).
![]() |
Movilidad de pasillo del agujero contra la densidad del agujero, 300 K (Wiley [1975]). La fórmula aproximada para la movilidad de pasillo del agujero: µp=µpo/[1 + (Na/2·1017) 1/2], donde µpo~150 cm2V-1 S1, Na en cm-3 |
En 300 K, el factor del agujero en el p-INP puro: rp~1
Células fotovoltaicas con las eficacias más altas de los substratos del INP del instrumento del hasta 46% (comunicado de prensa, Fraunhofer ISE, 1. diciembre de 2014) para alcanzar una combinación óptima del bandgap para convertir eficientemente la radiación solar en energía eléctrica. Hoy, solamente los substratos del INP alcanzan el enrejado constante para crecer los materiales bajos requeridos del bandgap con alta calidad cristalina. Los grupos de investigación por todo el mundo están buscando los reemplazos debido a los altos costes de estos materiales. Sin embargo, el resto de las opciones rinden hasta ahora calidades materiales más bajas y por lo tanto eficacias de conversión más bajas. La investigación adicional se centra en la reutilización del substrato del INP como plantilla para la producción de otras células solares.
Las células solares de gran eficacia avanzadas también de hoy para el photovoltaics (CPV) del concentrador y para los usos del espacio utilizan (GA) el INP y otros compuestos de III-V para alcanzar las combinaciones requeridas del bandgap. Otras tecnologías, tales como células solares del Si, proporcionan solamente mitad del poder que las células de III-V y además muestran una degradación mucho más fuerte en el ambiente duro del espacio. Finalmente, las células solares Si-basadas son también mucho más pesadas que las células solares de III-V y rinden a una cantidad más alta de ruina de espacio. Una manera de aumentar perceptiblemente eficacia de conversión también en sistemas terrestres del picovoltio es el uso de las células solares similares de III-V en los sistemas de CPV donde solamente cerca de un décimo de un por ciento del área es cubierto por las células solares de gran eficacia de III-V
¿Usted está buscando un substrato del INP?
PAM-XIAMEN es orgulloso ofrecer el substrato del fosfuro de indio para todos los diferentes tipos de proyectos. Si usted está buscando las obleas del INP, envíenos la investigación hoy para aprender más sobre cómo podemos trabajar con usted para conseguirle las obleas del INP que usted necesita para su proyecto siguiente. ¡Nuestro equipo del grupo está mirando adelante a proporcionar productos de calidad y el servicio excelente para usted!