XIAMEN POWERWAY AVANZÓ CO. MATERIAL, LTD.

XIAMEN POWERWAY ADVANCED MATERIAL CO., LTD.

Manufacturer from China
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6 Años
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Substrato libre de U-GaN GaN (nitruro del avión de M del galio) - oblea de Powerway

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XIAMEN POWERWAY AVANZÓ CO. MATERIAL, LTD.
Ciudad:xiamen
Provincia / Estado:fujian
País/Región:china
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Substrato libre de U-GaN GaN (nitruro del avión de M del galio) - oblea de Powerway

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Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1-10,000pcs
Condiciones de pago :T/T
Capacidad de la fuente :10.000 obleas/mes
Plazo de expedición :5-50 días laborables
Detalles de empaquetado :Empaquetado en un ambiente del sitio limpio de la clase 100, en solo envase, bajo atmósfera del nitr
Elemento :PAM-FS-GAN MU
Nombre del producto :Substrato libre de U-GaN GaN
Tipo de la conducción :Tipo de N
Dimensión :5 x 10 mm2
Espesor :350 ±25 μm los 430±25μm
El otro nombre :oblea gan
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Substrato libre de U-GaN GaN (nitruro del avión de M del galio) - oblea de Powerway

 

PAM-XIAMEN ha establecido la tecnología de fabricación para (nitruro del galio) la oblea libre del substrato de GaN que está para UHB-LED y el LD. Crecido por la tecnología de (HVPE) de la epitaxia de la fase de vapor del hidruro, nuestro substrato de GaN tiene densidad baja del defecto y menos o densidad macra libre del defecto.

 

PAM-XIAMEN ofrece la gama completa de GaN y los materiales relacionados de III-N incluyendo los substratos de GaN de diversas orientaciones y conductividad eléctrica, las plantillas del crystallineGaN&AlN, y los epiwafers de encargo de III-N.

 

Aquí muestra la especificación de detalle:

Substrato libre de U-GaN GaN del avión de M

Artículo PAM-FS-GaN MU
Dimensión 5 x 10 milímetros2
Grueso 350 ±25 µm del µm 430 ±25
Orientación

Avión de M (1-100) del ángulo hacia Uno-AXIS 0 ±0.5°

Avión de M (1-100) del ángulo hacia C-AXIS -1 ±0.2°

Tipo de la conducción N-tipo
Resistencia (300K) < 0="">
TTV µm del ≤ 10
ARCO -10 µm del ≤ 10 del ARCO del ≤ del µm
Aspereza superficial

Parte delantera: Ra<0>

Lado trasero: Tierra fina o pulido.

Densidad de dislocación A partir de la 1 de x 10 5 a 5 de x 10 6 cm-2
Densidad macra del defecto 0 cm2s
Área usable > el 90% (exclusión del borde)
Paquete cada uno en solo envase de la oblea, bajo atmósfera del nitrógeno, llena en sitio limpio de la clase 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Substrato libre de U-GaN GaN del avión de M

La demanda creciente para las capacidades de alta velocidad, das alta temperatura y altas del manejo de la potencia ha hecho que la industria del semiconductor repiensa la opción de los materiales usados como semiconductores. Por ejemplo, como se presentan los diversos dispositivos computacionales más rápidos y más pequeños, el uso del silicio está haciendo difícil sostener la ley de Moore. Pero también en electrónica de poder, las propiedades del silicio son no más suficientes permitir otras mejoras en eficacia de conversión.

 

 

Debido a su voltaje de avería único de las características (alto actual máximo, alto, y alta frecuencia que cambia), nitruro del galio (o GaN) es el material único de la opción para solucionar los problemas de energía del futuro. GaN basó sistemas tiene eficacia de mayor potencia, los apagones así de reducción, cambian en una frecuencia más alta, así reduciendo tamaño y el peso.

 

Constante del enrejado del substrato de GaN

 

Los parámetros del enrejado del nitruro del galio fueron medidos usando la alta difracción del rayo del ‐ de la resolución x del ‐

Substrato libre de U-GaN GaN (nitruro del avión de M del galio) - oblea de Powerway

 

 

GaN, sructure de la wurzita. Los constantes a del enrejado contra temperatura.

 

Substrato libre de U-GaN GaN (nitruro del avión de M del galio) - oblea de Powerway

 

 

GaN, sructure de la wurzita. Los constantes c del enrejado contra temperatura

 

Propiedades del substrato de GaN

 

PROPIEDAD/MATERIAL GaN (beta) cúbico GaN (alfa) hexagonal
Estructura Blenda de cinc Wurzite
Grupo de espacio F bar4 3M C46v (= P63mc)
Estabilidad Metaestable Estable
Parámetros del enrejado en 300K 0,450 nanómetros a0 = 0,3189 nanómetros
c0 = 0,5185 nanómetros
Densidad en 300K 6,10 g.cm -3 6,095 g.cm -3
Módulos de elástico en 300 K . . . .
Coeficientes lineares de la extensión termal.
en 300 K
. . A lo largo de a0: 5.59x10-6 K-1
A lo largo de c0: 7.75x10-6 K-1
Polarizaciones espontáneas calculadas No aplicable – 0,029 C m-2
Bernardini y otros 1997
Bernardini y Fiorentini 1999
Coeficientes piezoeléctricos calculados No aplicable e33 = + 0,73 C m-2
e31 = – 0,49 C m-2
Bernardini y otros 1997
Bernardini y Fiorentini 1999
Energías del fonón PARA: MeV 68,9 
LO: MeV 91,8
A1 (A): MeV 66,1
E1 (A): MeV 69,6
E2: MeV 70,7
A1 (LO): MeV 91,2
E1 (LO): MeV 92,1
Temperatura de Debye   600K (estimado)
Slack, 1973
Conductividad termal
300K cercano
. . Unidades: Wcm-1K-1

1,3,
Tansley y otros 1997b

2.2±0.2
para densamente, GaN libre
Vaudo y otros, 2000

2,1 (0,5)
para el material de LEO
donde pocas dislocaciones (muchos)
Florescu y otros, 2000, 2001

circa 1,7 a 1,0
para n=1x1017 a 4x1018cm-3
en material de HVPE
Florescu, Molnar y otros, 2000

2,3 ± 0,1
en material FE-dopado de HVPE
de CA 2 x108 ohmio-cm,
y densidad de dislocación CA 105 cm2s
(efectos de T y de la densidad de dislocación también dados).
Mion y otros, 2006a, 2006b
Punto de fusión . . . .
Constante dieléctrica
en la frecuencia baja/baja
. . A lo largo de a0: 10,4
A lo largo de c0: 9,5
Índice de refracción 2,9 en 3eV
Tansley y otros 1997b
2,67 en 3.38eV
Tansley y otros 1997b
Naturaleza de la energía Gap Eg. Directo Directo
Energía Gap Eg. en 1237K   eV 2,73
Ching-Hua Su y otros, 2002
Energía Gap Eg. en 293-1237 K   3.556 - 9.9x10-4T2/eV (T+600)
Ching-Hua Su y otros, 2002
Energía Gap Eg. en 300 K eV 3,23
Ramírez-Flores y otros 1994
.
eV 3,25
Logothetidis y otros 1994
eV 3,44
Monemar 1974
.
eV 3,45
Koide y otros 1987
.
eV 3,457
Ching-Hua Su y otros, 2002
Energía Gap Eg. en CA 0 K eV 3,30
Ramírez-Flores y al1994
Ploog y otros 1995
eV 3,50
Dingle y otros 1971
Monemar 1974
Conc. del portador intrínseco en 300 K . . . .
Energía de ionización… del donante . …. . ….
Masa eficaz del electrón yo */m0 . . 0,22
Moore y otros, 2002
Movilidad de electrón en 300 K
para n = 1x1017 cm-3:
para n = 1x1018 cm-3:
para n = 1x1019 cm-3:
. . CA 500 cm2V-1s-1
CA 240 cm2V-1s-1
CA 150 cm2V-1s-1

Montó y Gaskill, 1995
Tansley y otros 1997a
Movilidad de electrón en 77 K
para n =.
. …. . ….
Energía de ionización de aceptadores . . Magnesio: MeV 160
Amano y otros 1990

Magnesio: MeV 171
Zolper y otros 1995

Ca: MeV 169
Zolper y otros 1996
Movilidad de pasillo del agujero en 300 K
para el p=….
. . . ….
Movilidad de pasillo del agujero en 77 K
para el p=….
. …. . .
. GaN (beta) cúbico GaN (alfa) hexagonal

 

Uso del substrato de GaN

El nitruro del galio (GaN), con un hueco de banda directo del eV 3,4, es un material prometedor en el desarrollo de los dispositivos luminescentes de la cortocircuito-longitud de onda. Otras aplicaciones para dispositivos ópticas para GaN incluyen los lasers del semiconductor y los detectores ópticos.

 

 

 
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