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Truth Instruments Co., Ltd.

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Casa / Productos / Atomic Force Microscope / 0.1 Hz - 30 Hz Microscopio de fuerza atómica 0.04 Nm Microscopio de alta precisión con múltiples modos /

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Microscopio de fuerza atómica

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Microscopio Kerr

 [30]

Magnetómetro de muestra vibrante

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Criostato óptico magneto

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Estación de sonda criogénica

 [15]

Probador MRAM

 [8]

Estación de sonda magnética

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Truth Instruments Co., Ltd.
Ciudad:qingdao
Provincia / Estado:shandong
País/Región:china
Persona de contacto:MrAlex TANG
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0.1 Hz - 30 Hz Microscopio de fuerza atómica 0.04 Nm Microscopio de alta precisión con múltiples modos
0.1 Hz - 30 Hz Microscopio de fuerza atómica 0.04 Nm Microscopio de alta precisión con múltiples modos
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AFM avanzada con múltiples modos para la caracterización a nanoescala Descripción del producto: El microscopio de fuerza atómica es un instrumento de ...
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