Truth Instruments Co., Ltd.
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AFM avanzada con múltiples modos para la caracterización a nanoescala
El microscopio de fuerza atómica es un instrumento de vanguardia diseñado para el análisis de superficies de alta precisión y la caracterización a nanoescala.Este microscopio ofrece una sensibilidad y precisión excepcionales en la captura de detalles de la superficie.
Una de las características clave de este producto es su generosa capacidad de tamaño de muestra de 25 mm, que permite examinar una amplia gama de muestras de diferentes dimensiones.Esto hace que sea una herramienta versátil para investigadores y científicos que trabajan en diversos campos..
Equipado con el método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, el microscopio de fuerza atómica permite un mapeo completo de las propiedades de la superficie con un control preciso de la trayectoria de escaneo.Este método avanzado de escaneo garantiza un análisis completo y detallado de la muestra, proporcionando información valiosa sobre sus características.
El rango de escaneo del microscopio de la fuerza atómica abarca 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite un examen detallado incluso de las características más pequeñas en la superficie de la muestra.Este amplio rango de escaneo permite a los investigadores capturar detalles finos y estructuras complejas con alta resolución.
Este microscopio, que opera a una velocidad de escaneo de 0,1 a 30 Hz, ofrece flexibilidad para capturar datos de superficie a diferentes velocidades.el microscopio de la fuerza atómica puede acomodar diferentes tasas de escaneo para satisfacer sus requisitos específicos.
En resumen, el microscopio de fuerza atómica es una poderosa herramienta para el análisis de superficies y la caracterización a nanoescala.proporcionar a los investigadores una plataforma sofisticada para estudiar las propiedades de las superficies y realizar mapas detallados de las mismasCon su alta sensibilidad, generosa capacidad de tamaño de muestra, método de escaneo avanzado, amplio rango de escaneo y velocidad de escaneo flexible,Este microscopio es un activo invaluable para los investigadores que buscan profundizar en el complejo mundo de las estructuras a nanoescala y las características de la superficie.
| No linealidad | 00,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z. |
| Tamaño de la muestra | 25 mm |
| Nivel de ruido en la dirección Z | 0.04 Nm |
| Nivel de ruido en la dirección XY | 0.4 Nm |
| Rango de exploración | Se aplicarán las siguientes medidas: |
| Método de escaneo | XYZ Escaneo completo de muestras en tres ejes |
| Velocidad de exploración | 0.1 a 30 Hz |
El microscopio de fuerza atómica de Truth Instruments, modelo AtomEdge Pro, originario de China,es un instrumento de vanguardia diseñado para el mapeo preciso de las propiedades de la superficie en una variedad de aplicaciones científicas e industriales.
Con una velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 y 30 Hz, el AFM AtomEdge Pro es capaz de capturar la topografía de la superficie y las propiedades mecánicas detalladas con una precisión excepcional.El nivel de ruido en la dirección Z es tan bajo como 0.04 Nm, garantizando resultados de imagen de alta calidad.
El método de escaneo empleado por el AtomEdge Pro es el escaneo de muestras completas de tres ejes XYZ, que permite el escaneo integral de muestras con dimensiones de hasta 100 μm x 100 μm x 10 μm.Esta versátil capacidad de escaneo lo hace ideal para una amplia gama de escenarios de investigación y desarrollo.
Con una no linealidad de sólo 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z, el AtomEdge Pro ofrece mediciones fiables y precisas para diversas tareas de análisis de superficie.
El microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro es particularmente adecuado para aplicaciones que requieren imágenes y análisis detallados de la superficie, como la investigación en nanotecnología, estudios de ciencias de los materiales,y caracterización de muestras biológicasSus capacidades de imágenes de alta resolución lo convierten en una herramienta indispensable para investigadores y científicos que trabajan en campos que exigen un mapeo preciso de las propiedades de la superficie.
Ya sea utilizado en laboratorios académicos, instalaciones de investigación industrial o departamentos de control de calidad,el AtomEdge Pro AFM proporciona datos esenciales para comprender las estructuras y propiedades de la superficie a nanoescalaSu avanzada tecnología de microscopio de fuerza de escaneo ofrece una precisión y sensibilidad sin igual para una amplia gama de investigaciones científicas.