Guía de las tomas de prueba de semiconductores
Resumen del producto
La guía de enchufe de prueba de semiconductores está diseñada para ofrecer un rendimiento constante a través de miles de inserciones de prueba.impide la accionamiento fuera del eje que pueda causar una fuerza de contacto desigual o un desgaste prematuro de la sondaLos orificios de guía de precisión, con conducciones chanfradas y perfiles de espacio libre optimizados, aseguran una compresión suave de los pines pogo.y confiabilidad superior en entornos ATE de alto rendimiento.
Superficie y acabado
- Canales de contacto:Ra ≤ 0,2 μm (finitura de espejo)
- Superficies sin contacto:Ra ≤ 0,8 μm
- No tiene burro:Los bordes micro-desgravados, conforme a la norma ISO 13715
Opciones de revestimiento y revestimiento protector
- Anodizado en capa dura (aluminio)
- Niquel sin electro (50-100 μin)
- Flash de oro (0,1-0,3 μin) para una conductividad mejorada
Limpieza y embalaje
- Envases para salas limpias de la clase 100
- Residuos no volátiles < 5 μg/cm2
- Opción libre de iones disponible
Certificaciones
ISO 9001:2015 IPC-9592 (Alta confiabilidad) MIL-STD-883 y el sistema de certificación ISO 9001:2015
Ventajas técnicas
- Construidos a partir de polímeros o compuestos llenos de cerámica CTE para su resistencia a la distorsión térmica
- Se mantiene la estabilidad dimensional a temperaturas > 150 °C durante los procedimientos HTOL y de combustión
- Evita la deformación, desalineación o desacoplamiento de la sonda durante el ciclo térmico
- Diseñados para > 100 000 inserciones con compuestos de alta dureza y materiales resistentes a la abrasión
- Los rellenos de PTFE o los recubrimientos de película seca reducen la fricción, la irritación y la generación de partículas
Con su ingeniería de precisión, la Guía de Enchufe de Prueba de Semiconductores asegura la integridad dimensional, durabilidad a largo plazo,y resultados fiables de los ensayos, incluso en condiciones mecánicas y térmicas exigentes.
