máquina de 2D Microfocus X Ray para la inspección del marco de la ventaja del semiconductor de IC con el CE FDA

Máquina de rayos X de microfoco 2D para inspección de marco de plomo de semiconductores IC con cumplimiento CE FDA

CARACTERÍSTICAS de la máquina de rayos X IC AX7900:

• Tubo de rayos X de 90KV y 5 μm, detector de FPD.
• Estación de trabajo multifunción, movimiento multieje XY.Movimiento de "arco" de ±60° (opción).
• Los controles de movimiento incluyen: movimiento de la mesa X/Y más tubo del eje Z y movimiento del detector, movimiento de inclinación de ±60° (opcional).
• Sistema de procesamiento de imágenes DXI multifunción.
• Función de programación X/Y para múltiples rutinas de inspección de imágenes
• máx.área de carga 420 mm x 420 mm, máx.área de detección de 380 x 380 mm, con aumento del sistema de ~300X.
• Medición automática de áreas/vacíos de BGA más generación de informes.

APLICACIÓN de la máquina de rayos X IC AX7900:

• Inspección de LED, SMT, BGA, CSP, Flip Chip.
• Semiconductores, Componentes de embalaje, Industria de baterías.
• Componentes electrónicos, Autopartes, Industria Fotovoltaica.
• Fundición a presión de aluminio, moldeo de plástico.
• Cerámica, Otras Industrias Especiales

Especificaciones técnicas de AX7900

Descripción de la máquina de rayos X IC AX7900:

Tubo de rayos X de 90KV y 5 μm, detector de FPD.Estación de trabajo multifunción, estándar de movimiento multieje XY con movimiento de inclinación de ±60° (opción).Movimiento del eje Z para tubo de rayos X y FPD para aumentar/disminuir aumento/FOV.Práctico sistema de posicionamiento de puntos de destino.Sistema de procesamiento de imágenes DXI multifunción con programación XY para múltiples rutinas de inspección de imágenes.máx.área de carga 420 mm x 420 mm, máx.área de detección de 380 x 380 mm, con aumento del sistema de ~300X.

Imágenes de inspección de la máquina de rayos X IC AX7900: