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Rango espectral | 200 nm - 1100 nm |
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Píxeles efectivos | 1024*122 |
Eficiencia cuántica | QE92%Peak@650nm, 83%@232nm |
SNR | 1000: 1 |
Esencial para aplicaciones de tecnología semiconductora, fotovoltaica y tecnología de visualización, nuestro espectrómetro proporciona mediciones de espesor de película de alta velocidad no destructivas. Combinando la instrumentación óptica avanzada con algoritmos de IA, este sistema optimiza los procesos de producción de películas al tiempo que garantiza un control de calidad superior.
Especificaciones de detector | ||
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Detector | Back-iluminado TE-refrigerado Hamamatsu S7031 | |
Píxel efectivo | 1024*122 | |
Tamaño de píxel | 24*24 μm | |
Área de detección | 24.576*2.928 mm | |
Parámetros ópticos | ||
Diseño óptico | F/4 Tipo cruzado | |
Apertura numérica | 0.13 | |
Longitud focal | 100 mm | |
Ancho de hendidura de entrada | 10 μm, 25 μm, 50 μm, 100 μm, 200 μm (personalizable) | |
Interfaz de fibra | SMA905, espacio libre | |
Parámetros eléctricos | ||
Tiempo de integración | 8ms-3600s | |
Interfaz de salida de datos | USB3.0, rs232, rs485, conector de 20pin | |
Profundidad de bits ADC | De 16 bits | |
Fuente de alimentación | 5V | |
Corriente operativa | <3.5a | |
Parámetros físicos | ||
Temperatura de funcionamiento | 10 ℃ ~ 40 ℃ | |
Temperatura de almacenamiento | -20 ℃ ~ 60 ℃ | |
Humedad operativa | <90%HR (sin condensación) | |
Dimensiones | 180 mm*120 mm*50 mm | |
Peso | 1.2 kg |
Modelo | Rango espectral (NM) | Resolución (NM) | Hendidura (μm) |
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SR100Q-G21 | 200 ~ 950 | 6.8 | 200 |
SR100Q-G22 | 350 ~ 1100 | 2.2 | 50 |
SR100Q-G23 | 200 ~ 775 | 1.6 | 50 |
SR100Q-G24 | 350 ~ 925 | 1.0 | 25 |
SR100Q-G25 | 532 ~ 690 (4400cm-1*) | 13cm-1 | 50 |
SR100Q-G26 | 638 ~ 800 (3200cm-1*) | 10 cm-1 | 25 |
SR100Q-G27 | 785 ~ 1050 (3200cm-1*) | 11 cm-1 | 50 |
Nota: Los modelos marcados con * están diseñados principalmente para aplicaciones Raman.
Cuando la luz de la sonda de fibra óptica interactúa con la película, se producen reflejos duales tanto en la superficie de la película de aire como en la interfaz de suslate de película. Los patrones de interferencia resultantes producen franjas espectrales detectadas por el espectrómetro. La diferencia de ruta óptica permite una determinación precisa del grosor utilizando el método extremo, con entradas que incluyen θ, N y picos espectrales. Las películas más gruesas exhiben un espacio frecar más estricto, mientras que las longitudes de onda más largas crean un espaciado más amplio. La precisión de la medición se optimiza a través de la longitud de onda adecuada y la configuración de resolución.
Jinsp Company Limited ("Jinsp") se especializa en tecnología de detección espectral con más de 17 años de experiencia en tecnologías Raman, FT-IR y LIBS. Nuestras tecnologías principales han logrado el liderazgo internacional con más de 200 solicitudes de patentes.
Con sede en Beijing con una instalación de fabricación en Jiangsu, China, Jinsp posee certificaciones ISO9001: 2015, ISO14001: 2015 e ISO45001: 2018. Proporcionamos certificaciones integrales que incluyen aprobación del Ministerio de Seguridad Pública, Certificación del Instituto Nacional de Metrología, Certificación a nivel ambiental, calificación IP, certificación de CE y certificación de la UE ECAC.
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