Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Es muy preciso.
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3 ranuras Sub tarjeta de conexión en SMU Unidad 1003C Unidad de medición de fuente
El chasis modular 1003C es una solución de prueba de grado profesional diseñada para aplicaciones de alto rendimiento.sirve como una infraestructura crítica de ensayo en los escenarios de investigación científica y validación industrialEsta plataforma ofrece un funcionamiento eficiente, plug-and-play para tareas de prueba de múltiples dominios a través de su arquitectura configurable.
Características del producto
▪ ¿Cómo?Expansión modular: Las ranuras de múltiples subtarjetas permiten combinaciones de módulos funcionales bajo demanda.
▪ ¿Cómo?Confiabilidad industrial: el blindaje EMI de múltiples capas y la gestión térmica inteligente aseguran un funcionamiento estable en ambientes adversos (-40 °C a 85 °C).
▪ ¿Cómo?Interconexión de alta velocidad: las interfaces GPIB/Ethernet/USB integradas logran una latencia de sincronización de datos de < 1 ms.
▪ ¿Cómo?Compatibilidad perfecta: integración enchufable con las subretas de la serie Pusces CS/CBI para una rápida configuración de circuito de prueba.
▪ ¿Cómo?Sincronización de precisión: el ancho de banda del plano trasero de 3 Gbps y el bus de disparo de 16 canales ofrecen una precisión de tiempo multicanal de nivel μs.
Parámetros del producto
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Las partidas |
Parámetros |
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Número de ranuras |
3 canales |
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Interfaces de comunicación |
Modo de corriente continua:10nA4A/Modo de pulso:10nA30A |
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Especificaciones de la fuente de alimentación |
Modo de corriente continua: máximo 40 W/Modo de pulso: máximo 400 W |
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Temperatura del entorno de funcionamiento |
25 ± 10 °C |
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Dimensiones (longitud * anchura * altura) |
552 mm × 482 mm × 178 mm |
Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Prueba de las características de los dispositivos semiconductores discretos, incluidas las resistencias, diodos, diodos emisores de luz, diodos Zener, diodos PIN, transistores BJT, MOSFET, SIC, GaN y otros dispositivos.
▪ ¿Cómo?Pruebas de energía y eficiencia,incluidos LED/AMOLED, células solares, convertidores CC-DC,etc.
▪ ¿Cómo?Prueba de las características del sensor, incluida la resistividad, el efecto Hall, etc.
▪ ¿Cómo?Prueba de las características de los materiales orgánicos, incluida la tinta electrónica, la tecnología electrónica impresa, etc.
▪ ¿Cómo?Prueba de las características de los nanomateriales, incluido el grafeno, los nanocables, etc.