1010C Unidad SMU multicanal para pruebas de semiconductores y caracterización de materiales
El chasis modular 1010C integra tecnología de vanguardia con ingeniería innovadora,ofrecer una solución de ensayo de alto rendimiento adaptada a las diversas demandas de la I+D moderna y de las aplicaciones industrialesEsta plataforma altamente adaptable cuenta con una arquitectura unificada que admite la adaptación sin problemas de sub-tarjetas funcionales intercambiables.permitir la ejecución precisa de escenarios de ensayo complejos en la validación de semiconductores, caracterización avanzada de materiales y calibración de sensores multicanal.
Características del producto
▪ ¿Cómo?Sincronización multicanal:Configuración flexible de la cantidad/tipos de subretas.
▪ ¿Cómo?Transmisión de alta velocidad:El ancho de banda del plano trasero de 3 Gbps y el bus de disparador de 16 canales garantizan una precisión de sincronización de nivel μs.
▪ ¿Cómo?Tamaño estándar:Compatibilidad de rack estándar de 19 pulgadas para una integración eficiente en el espacio.
▪ ¿Cómo?Confiabilidad industrial:Escudo EMI de múltiples capas y sistema inteligente de enfriamiento por aire.
▪ ¿Cómo?Interfaces multiprotocolo:Interfaces GPIB/RS-232/Gigabit Ethernet para una conectividad perfecta.
▪ ¿Cómo?Apoyo al comando del SCPI:Permite el control en cascada de dispositivos multiplataforma.
▪ ¿Cómo?Compatibilidad general:Integración perfecta con las tarjetas de la serie Pusces CS/CBI.
Parámetros del producto
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Las partidas
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Parámetros
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Número de ranuras
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10 canales
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Interfaces de comunicación
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RS-232 y GPIB, Ethernet
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Especificaciones de la fuente de alimentación
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AC 100-240V, 50/60Hz, potencia máxima de 1000W
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Temperatura del entorno de funcionamiento
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25 ± 10 °C
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Las dimensiones
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Las medidas siguientes se aplicarán a los productos de la categoría 1 del presente anexo:
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Aplicaciones
▪ ¿Cómo?Semiconductores de potenciaSe utiliza para diversos ensayos de semiconductores de potencia representados por SiC (carburo de silicio) y GaN (nitruro de galio), incluidos los ensayos de voltaje de ruptura y ensayos de envejecimiento,proporcionar apoyo de datos para la investigación y el desarrollo y la inspección de calidad de semiconductores de potencia.
▪ ¿Cómo?Disparidad de los dispositivos:Puede realizar pruebas de tensión resistente en dispositivos discretos como diodos y transistores, asegurando que el rendimiento de estos dispositivos cumpla con los estándares en diferentes entornos de voltaje.
▪ ¿Cómo?Circuitos integrados:En el campo de los circuitos integrados y la microelectrónica, se utiliza para pruebas relacionadas con chips para garantizar la estabilidad y fiabilidad de los chips en entornos de alto voltaje.
▪ ¿Cómo?Investigación de materiales:Para el estudio de las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores, a través de la salida de alto voltaje y las funciones de medición, se analizan las características de los materiales,contribución a la investigación y desarrollo de nuevos materiales semiconductores.
▪ ¿Cómo?Los sensores:Proporciona soluciones de prueba de verificación de rendimiento para varios sensores, simula entornos de alto voltaje y detecta el rendimiento de los sensores en condiciones de voltaje extremo.
▪ ¿Cómo?El campo de enseñanza:Proporciona equipos profesionales para laboratorios de enseñanza de circuitos integrados y microelectrónica,ayudar a los estudiantes a aprender los principios y métodos de operación de pruebas de alto voltaje y mejorar sus habilidades prácticas.
