El CS400 es una solución SMU modular diseñada para pruebas de dispositivos de alto volumen, con una innovadora arquitectura de terreno común con 4 canales por subcarta.Cuando esté integrado con el sistema de acogida CS1010C, consigue un control sincronizado de hasta 40 canales, reduciendo los costes de integración del sistema en un 50% en comparación con los instrumentos tradicionales de un solo canal.Optimizado para aplicaciones de alto rendimiento, incluidas las pruebas de envejecimiento de la línea de producción de LED/OLED y la inspección paralela de múltiples sondas de obleas de semiconductores.

Características del producto

▪ ¿Cómo?± 0,1% Precisión básica:Mantiene la precisión a través de rangos completos en los modos de abastecimiento y hundimiento.

▪ ¿Cómo?Operación multifunción:Combina la fuente de voltaje/corriente, el voltímetro/amperímetro y las capacidades de carga electrónica.

▪ ¿Cómo?El sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero se utilizará en el caso de las emisiones de gases de efecto invernadero.Polaridad del gatillo configurable (borde ascendente/descendiente) para la secuenciación automática de ensayos.

▪ ¿Cómo? Control independiente del canal:Cada canal funciona de forma autónoma para escenarios de ensayo de dispositivos mixtos.

▪ ¿Cómo?Diseño eficiente en el espacio:La arquitectura modular compacta maximiza la densidad de rack en entornos de producción.

▪ ¿Cómo?Compatibilidad con SCPI:El conjunto de comandos estándar permite una integración perfecta con los marcos de automatización LabVIEW / Python.

Parámetros del producto

Las partidas	Parámetros
Número de canales	4 canales
Rango de tensión	1 ~ 10V
Resolución de tensión mínima	Las demás:
Rango de corriente	5 uA ̇ 500 mA
Resolución mínima de corriente	Las demás:
Potencia de salida máxima de onda continua (CW)	Canal 5W, fuente de 4 cuadrantes o modo sumidero
Capacidad de carga estable	< 22nF
Ruido de banda ancha (20MHz)	2mV RMS (valor típico), < 20mV Vp-p (valor típico)
Tasa máxima de muestreo	1000 S/s
Precisión de medición de la fuente	0.10%
Anfitriones con los que es compatible	Las demás partidas del anexo II

Aplicaciones

▪ ¿Cómo?Pruebas de dispositivos semiconductores:Análisis de parámetros estáticos/dinámicos de dispositivos discretos (MOSFET, diodos, BJT).

▪ ¿Cómo? Nanomateriales y electrónica orgánica:Pruebas de resistividad y efecto Hall para grafeno, nanocables y materiales de tinta electrónica.

▪ ¿Cómo?Evaluación del dispositivo energético:Pruebas de eficiencia y escaneo de curvas IV para células solares, convertidores CC-CC y baterías.

▪ ¿Cómo?Calibración del sensor:Caracterización de la sensibilidad y la respuesta de las resistencias sensibles al gas y a la presión y de los sensores de temperatura.

▪ ¿Cómo?Pruebas paralelas multicanal:Pruebas de envejecimiento de paneles LED/AMOLED y control de calidad de la producción en gran volumen para la validación de lotes de varios dispositivos.

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