| 010 |
Ámbito de tiempo |
| 014 |
Opción configurable del sistema de la prueba (lazos del acceso del panel de delante entre la salida de la fuente y la entrada del acoplador) |
| 016 |
Añada los atenuadores del receptor (el DB 35 en 5 pasos del DB) |
| 022 |
Memoria extendida 512MB |
| 067 |
Kit de actualización de 67 gigahertz para el sistema sin opción de 014 pruebas. |
| 068 |
Kit de actualización de 67 gigahertz para los sistemas de la prueba de la opción 014 y 014/080 |
| 080 |
Compensación de frecuencia (para el uso con los mezcladores, los convertidores y los amplificadores) |
| 081 |
Interruptor de canal de la referencia (añade el interruptor interno a la trayectoria R1) |
| 082 |
Medidas calibradas escalares del convertidor |
| 083 |
Uso S/W de la medida del convertidor de frecuencia |
| 084 |
Medidas integradas de LO |
| 1A7 |
Calibración obediente del ISO 17025 |
| EL 1CM |
Equipo montado en rack |
| 1CP |
Equipo montado en rack y de la manija |
| 550 |
Uso portuario de la medida 4 (permite por completo 4 medidas portuarias de la corrección y del diferencial de error en 2 N/A. portuarios) |
| 551 |
Añade medidas calibradas N-puerto |
| 700 |
Sistema estándar de la prueba |
| 720 |
MB de la memoria extendida 512 |
| 810 |
Sistema de la prueba y rango de potencia estándar del estándar (700+711) |
| 811 |
Prueba estándar y rango de potencia extendido (700-UNL) |
| 812 |
Cubierta del sistema de la prueba y rango de potencia configurables del estándar (014-711) |
| 813 |
Cubierta configurable y rango de potencia extendido (014-UNL) del sistema de la prueba |
| 830 |
Paquete del paquete de la opción de UNL, de 014.016.080.081, y de H11 |
| 831 |
Paquete del paquete de la opción de UNL, de 014.080.081, y de H11 |
| A6J |
Calibración obediente del ANSI Z540 con datos de prueba |
| AB1 |
Guía de usuarios rápida de Corea (localización coreana) |
| AB2 |
Guía de usuarios rápida de China (localización china) |
| ABA |
U.S. Guía de usuarios rápida (localización inglesa) |
| ABD |
Guía de usuarios rápida de Alemania (localización alemana) |
| ABE |
Guía de usuarios rápida de España (localización española) |
| ABF |
Guía de usuarios rápida de Francia (localización francesa) |
| ABJ |
Guía de usuarios rápida de Japón (localización japonesa) |
| ABZ |
Guía de usuarios rápida de Italia (localización italiana) |
| H08 |
Capacidad de la medida Pulsar-RF |
| H11 |
SI acceso (para la antena, punto en pulso, perfil del pulso y medidas de banda ancha de la onda milimétrica.) |
| H85 |
Opción del poder más elevado sin las camisetas diagonales. (permite los amplificadores del RF entre la fuente del RF y la entrada del acoplador) |
| N4688A |
Impulsión del CD R/W del USB, una unidad de CD de lectura/grabación externa con un cable del USB |
| N4689A |
Eje del USB para conectar los periférico adicionales del USB con el analizador de red de PNA |
| P02 |
Unidad portuaria 2 |
| R-51B-001-3C |
1 año Vuelta--Agilent a garantía extendió a 3 años |
| RMKT |
Producto restaurado de Agilent (no utilice - la opción de Certiprime) |
| UK6 |
Calibración comercial con datos de los resultados de la prueba |
| UNL |
Medida de poder más elevado con la configuración diagonal de las camisetas (permite a Ext. Amplifiers entre la fuente del RF y la entrada del acoplador) |
| Z5623A-H81 |
2 gigahertz - sistema Uni direccional de la prueba del pulso de 20 gigahertz |
| Z5623A-H83 |
2 gigahertz - sistema direccional dual de la prueba del pulso de 20 gigahertz. |
| Z5623A-H84 |
sistema direccional dual de la prueba del pulso del gigahertz 2GHz-40 |
| Z5623A-H85 |
sistema direccional dual de la prueba del pulso del gigahertz 1GHz-40 |
| Z5623A-H86 |
sistema Uni direccional de la prueba del pulso del gigahertz 2GHz-40 |
| Z5623A-H87 |
sistema direccional dual de la prueba del pulso del gigahertz 1GHz-50 |
| Z5623A-H88 |
prueba direccional dual del pulso del gigahertz 1GHz-50 fijada (ningún HPIB) |
| Z5623A-H89 |
10 megaciclos - prueba Uni direccional del pulso de 5 gigahertz fijada (ningún HPIB) |
| Z5623A-H90 |
prueba direccional dual del pulso del gigahertz 1GHz-50 fijada (puertos de la prueba en sistema de la prueba) |
