Combinación de serie del sistema de prueba unitaria MUE1
1. Funcionamiento confiable
2. Ampliamente utilizado en la prueba elegante de la subestación
3. Interfaz fácil de usar de la prueba
4. Altas estabilidad y exactitud
5. Rastreabilidad de la exactitud del laboratorio de alto nivel
6. Compatible con IEC61850-9-1, IEC61850-9-2, IEC61850-9-2LE, protocolo IEC60044-FT3
Índice técnico
| Clase de la exactitud |
0,05 |
| Prueba convencional del voltaje |
| Gama |
0-120V, gama de medición 100V, 100/√3V |
| Gama y exactitud ajustables |
20%-150%, 0,05% |
| Prueba actual convencional |
| Gama |
0-20A, gama de medición 5A y 1A |
| Gama y exactitud ajustables |
1%-120% |
| Prueba de la frecuencia |
| Gama |
45-65HZ |
| Exactitud |
0.002HZ |
| Exactitud de la prueba de la energía entrada |
| Poder activo |
0,05 clases |
| Poder reactivo |
0,1 clases |
| Interfaz de fibra óptica |
| Interfaz de fibra óptica del ST de 1 grupo |
|
| Envío de poder |
>-6dBm |
| Óptico reciba la sensibilidad |
-38dBm |
| Señal de sincronización |
| Entrada y salida ópticas de la sincronización |
2Nos |
| Salida óptica de la sincronización IRIG-B (DC) |
1No |
| Exactitud del tiempo de la salida de la sincronización |
mejor que 100ns |
| Fuente de alimentación |
| Voltaje entrado |
El AC220V±10%, 50/60Hz |
| Consumo de energía |
<20w>
|
| Dimensión y peso: 360x400x160m m, 7.5KGS |
Característica
1) Usando fuente estándar de la alta exactitud de 3 fases, colector de datos del A/D de la alta exactitud, sincronización
unidad de reloj de tiempo, estándar básico del muestreo de la CA y unidad de prueba de MU
2) Modo de operación: por el software de la PC
3) Usando algoritmo de alto nivel de la sincronización y 512times sobre tecnología de muestreo
4) Adopción de la lengua de LabView y de la tecnología virtual del instrumento, HMI y conveniente amistosos para la operación
5) Con pequeña salida de la señal de la simulación
6) Error de la exactitud y prueba de funcionamiento de la sincronización y de la comunicación de combinar la unidad con la colección de
canales múltiples digitales o entrada análoga
7) Prueba del error de la exactitud de combinar la unidad con la entrada análoga de la colección con el VT convencional y el CT
8) Test de precisión de combinar la unidad con la entrada digital digital de CT/VT
9) Prueba del error de la exactitud del VT digital del CT y calibración del valor análogo
10) Prueba del grado de la dispersión de muestrear el mensaje
11) Prueba de la integridad de muestrear el mensaje
12) Prueba del error de comparación de tiempo de combinar la unidad
13) Tiempo que guarda la prueba del error de combinar la unidad
14) Muestreo de la prueba del tiempo de respuesta
15) Análisis completo del mensaje del marco
