Nanjing Crylink Photonics Co.,Ltd

Creciendo cristalino, valor de Lingling.

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Detector de centelleo CdWO4

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Nanjing Crylink Photonics Co.,Ltd
Ciudad:shanghai
Provincia / Estado:shanghai
País/Región:china
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Detector de centelleo CdWO4

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Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1 piezas
Detalles de empaquetado :caja de cartón
Plazo de expedición :3-4 semanas
Condiciones de pago :TT
Capacidad de la fuente :100 pedazos de /month
Número de modelo :Cristal de CRYLINK-CdWO4 Scintillator
Nombre :Detector de centelleo CdWO4
Producción ligera (fotón/MeV) :13000
Decaiga el tiempo (s) :12-15
Emisión máxima (nanómetro) :480
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Detalles del producto

El tungstate CdWO4 (CWO) del cadmio, debido a su fondo y posluminiscencia intrínsecos bajos así como la producción ligera suficientemente alta, es el más prometedor para la espectrometría y la radiometría de las actividades bajas de radio de los núclidos debajo extremadamente -, y también para la tomografía de ordenador.

El cristal es transparente y emite la luz cuando es golpeado por los rayos gamma y las radiografías, haciéndolo útil como detector de la radiación ionizante. Su longitud de onda máxima del centelleo es 480 nanómetro (con la gama de la emisión entre 380-660 nanómetro), y eficacia de 13000 fotones/MeV. Tiene una producción ligera relativamente alta, su salida ligera es el cerca de 40% de NaI (TL), pero la época del centelleo es muy larga (s 1215). Es de uso frecuente en tomografía computada. Combinar el cristal del scintillator con el pedazo externamente aplicado de carburo del boro permite la construcción de detectores compactos de rayos gamma y de la radiación de neutrón.

 

Especificaciones

Propiedades del centelleo

Materiales

CdWO4

Producción ligera (fotón/MeV)

13000

Decaiga el tiempo (s)

12-15

Emisión máxima (nanómetro)

480

Después de resplandor

0.1%@6ms

Densidad (g/cm3)

7,9

Higroscopicidad

No

Especificación de pulido para el grado óptico

 

StandardPrecision

Alta precisión

Precisión estupenda

Tolerancia de la orientación

< 1°

< 0.5°

< 0.2°

Tolerancia del grueso/del diámetro

±0.10 milímetro

±0.05 milímetro

±0.02 milímetro

Flatness@633nm superficial

<-2

</2-/4

/4-/6

Distorsión del frente de onda

< (2-4)

< (1-2)

< (- /2)

Calidad superficial

60/40

40/20

20/10

Paralelo

45

1

10

Perpendicular

60

30

20

Abertura clara

el >90%

Chammfer

<0.2mm×45°

Capa

Disponible a petición

Carro de la investigación 0