nombre:Color blanco de SMD LED 2016
Flujo luminoso (lm):28-30lm
Índice de representación de color (Ra):80
CCT:6500K
Poder:0.2W
voltaje del nput (V):3V
Contacta
Add to Cart
Miembro del sitio
Suzhou Jiangsu China
Dirección:
Bld#20, NINGÚN camino de 88 Lingshan, distrito de wuzhong, Suzhou, Jiangsu, China
Proveedor Último login veces:
Dentro de 26 Horas
Detalles del producto
Perfil de la compañía
Detalles del producto
Hacer excursionismo la alta luz del PCT SMD LED CHIP Phone Flash
del lumen 2016 3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K
1.Product Freatures
. Eficacia de 140 lm/W típicos para 6500K, CRI 80
. Adopte el microprocesador y el marco, buena estabilidad antiestática de la buena calidad ultra de poca atenuación
. Alto brillo, representación de alto color de poca atenuación
. Opciones del CRI del mínimo 80, 90 y 95
. Soldadura fuerte y buena luz de los undead de la estabilidad
. Serie de productos y logotipo de la compañía en el frente
. Certificación del CE ROHS LM80
. Ángulo de visión: 120 grados
el soldar sin plomo obediente de .RoHS compatible
estructura 2.Package
grados máximos 3.Absolute
| Artículo | Símbolo | Grados máximos absolutos | Unidad |
| Corriente delantera | SI | 60 | mA |
| Voltaje reverso | Vr | 5 | V |
| Corriente delantera pulsada | IFP* | 90 | mA |
| Disipación de poder | Paladio | 0,2 | W |
| Temperatura de funcionamiento | TOP | -40~85 | ℃ |
| Temperatura de almacenamiento | Prueba | -40~85 | ℃ |
| Descarga electrostática | ESD | 2000 (HBM) | V |
| Temperatura de empalme | Tj | 110 | ℃ |
| Resistencia termal del LED | S-j de Rth | 27 | ℃/W |
curvas de características electrópticas 4.Typical
Lista de pruebas de la confiabilidad 5.LED
| Artículo de la prueba | Condiciones de prueba | Estándar | Qty (PC) |
| Prueba de vida | 25℃, 1000Hrs@60mA | / | 22 |
| Temperatura alta | 85℃, 1000Hrs@60mA | / | 22 |
| Baja temperatura | -40℃, 1000Hrs@60mA | / | 22 |
| Calor de la humedad alta | 85℃, 85%RH, 1000Hrs@60mA | / | 22 |
| Almacenamiento de la baja temperatura | -40℃, 1000Hours | JEITA ED-4701 200 202 | 22 |
| Almacenamiento de alta temperatura | 100℃, 1000Hours | JEITA ED-4701 200 201 | 22 |
| Ciclo de la temperatura | (- 40' C 30mins --25' C (5mins)--100 ' C (30mins), tarifa cambiante de los temporeros: 3+/-0.6' C/min) | JEITA ED-4701 100 105 | 22 |
| Choque termal | -40 ' C (15mins) --100 ' C (15mins), tiempo cambiante <5mins> | MIL-STD-202G | 22 |
| Prueba de vida del pulso | Tp=1ms, DC=0.1, D=Tp/T @ 3×60mA, 1000Hours | / | 22 |
| Prueba del ESD (HBM) | prueba 3times de 2000V, de 200V/Step, delantera y reversa | AEC (Q101-001) | 22 |
| Resistencia que suelda | 260±5℃, 10S, 3times Tratamiento previo 30℃, 70%RH | JEITA ED-4701 300 302 | 22 |
| Decaimiento del flujo IV | 260±5℃, 10S, 1time Tratamiento previo 30℃, 70%RH, 168Hours | / | 22 |
| Criterios del juicio | |||
| Voltaje delantero VF | Máximo-aumento de VF < 1=""> | ||
| IR actual reverso | Máximo-aumento del IR < IRmax=""> | ||
| Intensidad luminosa IV | IV decaimiento < 40=""> | ||
| El ※ suelda criterios de prueba de capacidad: la cobertura no es menos del 95% | |||
| Nota: La medida será tomada después de que las muestras probadas se hayan vuelto a las condiciones ambiente normales (generalmente después de dos horas) | |||
Carro de la investigación
0