

Add to Cart
PAM-XIAMEN ofrece la oblea de GaSb del semiconductor compuesto – antimoniuro de galio que son crecidos por LEC (Czochralski encapsulado líquido) como grado epi-listo o mecánico con el tipo de n, el tipo de p o semiaislante en diversa orientación (111) o (100).
El antimoniuro de galio (GaSb) es un compuesto semiconductor del galio y del antimonio de la familia de III-V. Tiene un constante del enrejado de cerca de 0,61 nanómetros. GaSb se puede utilizar para los detectores infrarrojos, el LED y los lasers infrarrojos y los transistores, y los sistemas thermophotovoltaic.
Aquí está la especificación de detalle:
especificación de la oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
especificación de la oblea de GaSb de 3 ″ (50.8m m)
especificación de la oblea de GaSb de 4 ″ (100m m)
especificación de la oblea de GaSb de 2 ″
Artículo | Especificaciones | ||
Dopante | Sin impurificar | Cinc | Telurio |
Tipo de la conducción | P-tipo | P-tipo | N-tipo |
Diámetro de la oblea | 2 ″ | ||
Orientación de la oblea | (100) ±0.5° | ||
Grueso de la oblea | 500±25um | ||
Longitud plana primaria | 16±2m m | ||
Longitud plana secundaria | 8±1m m | ||
Concentración de portador | (1-2) x1017cm-3 | (5-100) x1017cm-3 | (1-20) x1017cm-3 |
Movilidad | 600-700cm2/V.s | 200-500cm2/V.s | 2000-3500cm2/V.s |
EPD | <2>3cm2s | ||
TTV | <10um> | ||
ARCO | <10um> | ||
DEFORMACIÓN | <12um> | ||
Marca del laser | a petición | ||
Final de Suface | P/E, P/P | ||
Epi listo | sí | ||
Paquete | Solo envase o casete de la oblea |
especificación de la oblea de GaSb de 3 ″
Artículo | Especificaciones | ||
Tipo de la conducción | P-tipo | P-tipo | N-tipo |
Dopante | Sin impurificar | Cinc | Telurio |
Diámetro de la oblea | 3 ″ | ||
Orientación de la oblea | (100) ±0.5° | ||
Grueso de la oblea | 600±25um | ||
Longitud plana primaria | 22±2m m | ||
Longitud plana secundaria | 11±1m m | ||
Concentración de portador | (1-2) x1017cm-3 | (5-100) x1017cm-3 | (1-20) x1017cm-3 |
Movilidad | 600-700cm2/V.s | 200-500cm2/V.s | 2000-3500cm2/V.s |
EPD | <2>3cm2s | ||
TTV | <12um> | ||
ARCO | <12um> | ||
DEFORMACIÓN | <15um> | ||
Marca del laser | a petición | ||
Final de Suface | P/E, P/P | ||
Epi listo | sí | ||
Paquete | Solo envase o casete de la oblea |
especificación de la oblea de GaSb de 4 ″
Artículo | Especificaciones | ||
Dopante | Sin impurificar | Cinc | Telurio |
Tipo de la conducción | P-tipo | P-tipo | N-tipo |
Diámetro de la oblea | 4 ″ | ||
Orientación de la oblea | (100) ±0.5° | ||
Grueso de la oblea | 800±25um | ||
Longitud plana primaria | 32.5±2.5m m | ||
Longitud plana secundaria | 18±1m m | ||
Concentración de portador | (1-2) x1017cm-3 | (5-100) x1017cm-3 | (1-20) x1017cm-3 |
Movilidad | 600-700cm2/V.s | 200-500cm2/V.s | 2000-3500cm2/V.s |
EPD | <2>3cm2s | ||
TTV | <15um> | ||
ARCO | <15um> | ||
DEFORMACIÓN | <20um> | ||
Marca del laser | a petición | ||
Final de Suface | P/E, P/P | ||
Epi listo | sí | ||
Paquete | Solo envase o casete de la oblea |
1)″ 2 (50.8m m), oblea de GaSb de 3 ″ (76.2m m)
Orientación: (100) ±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 600±25
Tipo/dopante: P/undoped; P/Si; P/Zn
Nc (cm-3): (1~2) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 600~700
Método del crecimiento: CZ
Polaco: SSP
2)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (100) ±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 600±25
Tipo/dopante: N/undoped; P/Te
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP
3)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) A±0.5°
Grueso (μm): 500±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP
4)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) B±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 450±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP
5)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) B 2deg.off
Grueso (μm): 500±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP
Productos relativos:
Oblea de InAs
Oblea de InSb
Oblea del INP
Oblea del GaAs
Oblea de GaSb
Oblea de Gap
El antimoniuro de galio (GaSb) se puede suministrar como obleas los finales del como-corte, grabado al agua fuerte o pulido y está disponible en una amplia gama de concentración, de diámetro y de grueso de portador.
El material de GaSb presenta las propiedades interesantes para los dispositivos thermophotovoltaic de (TPV) del solo empalme. GaSb: El solo cristal de Te crecido con Czochralski (Cz) o métodos modificados del chralski de Czo- (MES-CZ) se presenta y el problema de la homogeneidad de Te se discute. Pues la movilidad de portador es uno de los puntos claves para el cristal a granel, se realizan las medidas de Pasillo. Presentamos aquí algunos progresos complementarios basados en el punto de vista del tratamiento de materiales: el crecimiento cristalino a granel, la preparación de la oblea, y la aguafuerte de la oblea. Los pasos subsiguientes después de éstos se relacionan con el p/ninguna elaboración del empalme de r n/p. Algunos resultados obtenidos para diversos acercamientos de capa delgada de la elaboración se presentan. Tan del proceso de difusión simple de la fase de vapor o del proceso líquido de la epitaxia de la fase hasta el proceso orgánico de la deposición de vapor químico del metal divulgamos una cierta especificidad material.