Oblea de GaSb usada para los detectores infrarrojos, LED y lasers infrarrojos y transistores, y sistemas de Thermophotovoltaic

Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1-10,000pcs
Condiciones de pago:T/T
Capacidad de la fuente:10.000 obleas/mes
Plazo de expedición:5-50 días laborables
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Xiamen Fujian China
Dirección: #506B, centro de negocios de Henghui, No.77, Lingxia Nan Road, zona de alta tecnología, Huli, Xiamen 361006, China
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Oblea de GaSb usada para los detectores infrarrojos, LED y lasers infrarrojos y transistores, y sistemas de Thermophotovoltaic

Descripción de producto

PAM-XIAMEN ofrece la oblea de GaSb del semiconductor compuesto – antimoniuro de galio que son crecidos por LEC (Czochralski encapsulado líquido) como grado epi-listo o mecánico con el tipo de n, el tipo de p o semiaislante en diversa orientación (111) o (100).

El antimoniuro de galio (GaSb) es un compuesto semiconductor del galio y del antimonio de la familia de III-V. Tiene un constante del enrejado de cerca de 0,61 nanómetros. GaSb se puede utilizar para los detectores infrarrojos, el LED y los lasers infrarrojos y los transistores, y los sistemas thermophotovoltaic.

Aquí está la especificación de detalle:

especificación de la oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)

especificación de la oblea de GaSb de 3 ″ (50.8m m)

especificación de la oblea de GaSb de 4 ″ (100m m)

especificación de la oblea de GaSb de 2 ″

ArtículoEspecificaciones
DopanteSin impurificarCincTelurio
Tipo de la conducciónP-tipoP-tipoN-tipo
Diámetro de la oblea2 ″
Orientación de la oblea(100) ±0.5°
Grueso de la oblea500±25um
Longitud plana primaria16±2m m
Longitud plana secundaria8±1m m
Concentración de portador(1-2) x1017cm-3(5-100) x1017cm-3(1-20) x1017cm-3
Movilidad600-700cm2/V.s200-500cm2/V.s2000-3500cm2/V.s
EPD<2>3cm2s
TTV<10um>
ARCO<10um>
DEFORMACIÓN<12um>
Marca del lasera petición
Final de SufaceP/E, P/P
Epi listo
PaqueteSolo envase o casete de la oblea

especificación de la oblea de GaSb de 3 ″

ArtículoEspecificaciones
Tipo de la conducciónP-tipoP-tipoN-tipo
DopanteSin impurificarCincTelurio
Diámetro de la oblea3 ″
Orientación de la oblea(100) ±0.5°
Grueso de la oblea600±25um
Longitud plana primaria22±2m m
Longitud plana secundaria11±1m m
Concentración de portador(1-2) x1017cm-3(5-100) x1017cm-3(1-20) x1017cm-3
Movilidad600-700cm2/V.s200-500cm2/V.s2000-3500cm2/V.s
EPD<2>3cm2s
TTV<12um>
ARCO<12um>
DEFORMACIÓN<15um>
Marca del lasera petición
Final de SufaceP/E, P/P
Epi listo
PaqueteSolo envase o casete de la oblea

especificación de la oblea de GaSb de 4 ″

ArtículoEspecificaciones
DopanteSin impurificarCincTelurio
Tipo de la conducciónP-tipoP-tipoN-tipo
Diámetro de la oblea4 ″
Orientación de la oblea(100) ±0.5°
Grueso de la oblea800±25um
Longitud plana primaria32.5±2.5m m
Longitud plana secundaria18±1m m
Concentración de portador(1-2) x1017cm-3(5-100) x1017cm-3(1-20) x1017cm-3
Movilidad600-700cm2/V.s200-500cm2/V.s2000-3500cm2/V.s
EPD<2>3cm2s
TTV<15um>
ARCO<15um>
DEFORMACIÓN<20um>
Marca del lasera petición
Final de SufaceP/E, P/P
Epi listo
PaqueteSolo envase o casete de la oblea

1)″ 2 (50.8m m), oblea de GaSb de 3 ″ (76.2m m)

Orientación: (100) ±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 600±25
Tipo/dopante: P/undoped; P/Si; P/Zn
Nc (cm-3): (1~2) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 600~700
Método del crecimiento: CZ
Polaco: SSP

2)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (100) ±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 600±25
Tipo/dopante: N/undoped; P/Te
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP

3)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) A±0.5°
Grueso (μm): 500±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP

4)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) B±0.5°
Grueso (μm): 500±25; 450±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP

5)oblea de GaSb de 2 ″ (50.8m m)
Orientación: (111) B 2deg.off
Grueso (μm): 500±25
Tipo/dopante: N/Te; P/Zn
Nc (cm-3): (1~5) E17
Movilidad (cm2/V ·s): 2500~3500; 200~500
Método del crecimiento: LEC
Polaco: SSP

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El antimoniuro de galio (GaSb) se puede suministrar como obleas los finales del como-corte, grabado al agua fuerte o pulido y está disponible en una amplia gama de concentración, de diámetro y de grueso de portador.

El material de GaSb presenta las propiedades interesantes para los dispositivos thermophotovoltaic de (TPV) del solo empalme. GaSb: El solo cristal de Te crecido con Czochralski (Cz) o métodos modificados del chralski de Czo- (MES-CZ) se presenta y el problema de la homogeneidad de Te se discute. Pues la movilidad de portador es uno de los puntos claves para el cristal a granel, se realizan las medidas de Pasillo. Presentamos aquí algunos progresos complementarios basados en el punto de vista del tratamiento de materiales: el crecimiento cristalino a granel, la preparación de la oblea, y la aguafuerte de la oblea. Los pasos subsiguientes después de éstos se relacionan con el p/ninguna elaboración del empalme de r n/p. Algunos resultados obtenidos para diversos acercamientos de capa delgada de la elaboración se presentan. Tan del proceso de difusión simple de la fase de vapor o del proceso líquido de la epitaxia de la fase hasta el proceso orgánico de la deposición de vapor químico del metal divulgamos una cierta especificidad material.

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