Tipo de N, substrato del INP (fosfuro de indio), 3", grado primero - semiconductor compuesto

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N mecanografía, el substrato del INP, 3", grado primero

 

PAM-XIAMEN ofrece la oblea del INP – fosfuro de indio que son crecidos por LEC (Czochralski encapsulado líquido) o VGF (helada vertical de la pendiente) como grado epi-listo o mecánico con el tipo de n, el tipo de p o semiaislante en diversa orientación (111) o (100).

El fosfuro de indio (InP) es un semiconductor binario integrado por el indio y el fósforo. Tiene (“blenda de cinc ") una estructura cristalina cúbica cara-centrada, idéntica a la del GaAs y la mayor parte de los semiconductores de III-V. El fosfuro de indio se puede preparar de la reacción del yoduro del fósforo blanco y del indio [clarificación necesaria] en 400 °C., [5] también por la combinación directa de los elementos purificados en la temperatura alta y la presión, o por la descomposición termal de una mezcla de un compuesto y de un fosfuro del indio del trialkyl. El INP se utiliza en la electrónica de alta potencia y de alta frecuencia [citación necesaria] debido a su velocidad superior del electrón en cuanto a los semiconductores mas comunes silicio y al arseniuro de galio.

 

N mecanografía, el substrato del INP, 3", grado primero

3" especificación de la oblea del INP   
ArtículoEspecificaciones
Tipo de la conducciónN-tipoN-tipo
DopanteSin impurificarAzufre
Diámetro de la oblea3"
Orientación de la oblea100±0.5°
Grueso de la oblea600±25um
Longitud plana primaria16±2m m
Longitud plana secundaria8±1m m
Concentración de portador≤3x1016cm-3(0.8-6) x1018cm-3(0.6-6) x1018cm-3N/A
Movilidad(3.5-4) x103cm2/V.s(1.5-3.5) x103cm2/V.s50-70cm2/V.s>1000cm2/V.s
ResistenciaN/AN/AN/A>0.5x107Ω.cm
EPD<1000cm-2<500cm-2<1x103cm-2<5x103cm-2
TTV<12um
ARCO<12um
DEFORMACIÓN<15um
Marca del lasera petición
Final de SufaceP/E, P/P
Epi listo
PaqueteSolo envase o casete de la oblea
 
 

 

¿Cuál es una oblea de la prueba?

La mayoría de las obleas de la prueba son las obleas que han caído de especificaciones primeras. Las obleas de la prueba se pueden utilizar para funcionar con los maratones, equipo de prueba y para R y la D. de gama alta. Son a menudo una alternativa rentable para preparar las obleas.

 

La movilidad de pasillo del electrón contra la temperatura para diverso doping nivela.
Curva inferior - no=Nd-Na=8·1017 cm-3;
Curva media - no=2·1015 cm-3;
Curva superior - no=3·1013 cm-3.
(Razeghi y otros [1988]) y (  de Walukiewicz   y otros [el an o 80]).
Movilidad de pasillo del electrón contra la temperatura (temperaturas altas):
Curva inferior - no=Nd-Na~3·1017 cm-3;
Curva media - no~1.5·1016 cm-3;
Curva superior - no~3·1015 cm-3.
(Galavanov y Siukaev [1970]).

Para el n-INP débil dopado en las temperaturas cerca de la movilidad de deriva del electrón de 300 K:

µn = (4.2÷5.4)·103·(300/T) (cm2V-1 S1)

Movilidad de pasillo contra la concentración del electrón para diversos ratios de la remuneración.
θ = Na/Nd, 77 K.
Las curvas rayadas son cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(  del   de Walukiewicz y otros [el an o 80]).
La línea llena es valores observados del medio (  del   de Anderson y otros [1985]).
Movilidad de pasillo contra la concentración del electrón para diversos ratios de la remuneración
θ =Na/Nd, 300 K.
Las curvas rayadas son cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(  del   de Walukiewicz y otros [el an o 80]).
La línea llena es valores observados del medio (  del   de Anderson y otros [1985]).

Fórmula aproximada para la movilidad de pasillo del electrón

Μ=ΜOH/[1+ (Nd/107) el 1/2],
donde ΜOH=5000 cm2V-1 S1,
Nd en cm-3 (Hilsum [1974])

En 300 K, el factor rn≈1 de Pasillo del electrón en el n-INP.
para Nd > 1015 cm-3.

Agujeree la movilidad de pasillo contra la temperatura para diversos niveles de doping (del Zn).
Concentración de agujero en 300 K: 1. 1,75·1018 cm-3; 2. 3,6·1017 cm-3; 3. 4,4·1016 cm-3.
θ=Na/Nd~0.1.
(  del   de Kohanyuk y otros [1988]).

Para el p-INP débil dopado en la temperatura cerca de 300 K la movilidad de pasillo

µpH~150·(300/T) 2,2 (cm2V-1 S1).

Movilidad de pasillo del agujero contra la densidad del agujero, 300 K (Wiley [1975]).
La fórmula aproximada para la movilidad de pasillo del agujero:
µp=µpo/[1 + (Na/2·1017) 1/2], donde µpo~150 cm2V-1 S1, Na en cm-3

En 300 K, el factor del agujero en el p-INP puro: rp~1

 

Usos optoelectrónicos

El INP basó los lasers y el LED puede emitir la luz en la gama muy amplia de 1200 nanómetro hasta el µm 12. Esta luz se utiliza para los usos basados fibra de las telecomunicaciones y del Datacom en todas las áreas del mundo numerado. La luz también se utiliza para detectar usos. Por un lado hay usos espectroscópicos, donde está necesaria cierta longitud de onda obrar recíprocamente con la materia para detectar los gases altamente diluidos por ejemplo. El terahertz optoelectrónico se utiliza en los analizadores espectroscópicos ultrasensibles, medidas del grueso de polímeros y para la detección de capas de múltiples capas en la industria del automóvil. Por otra parte hay una ventaja enorme de los lasers específicos del INP porque son caja fuerte del ojo. La radiación se absorbe en el cuerpo vítreo del ojo humano y no puede dañar la retina. Los lasers del INP en el LiDAR (detección ligera y alcance) serán un componente clave para la movilidad del futuro y de la industria de la automatización.

 

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