substrato libre semipolar del cristal de N-GaN GaN del avión (de 20-21)

Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1-10,000pcs
Condiciones de pago:T/T
Capacidad de la fuente:10.000 obleas/mes
Plazo de expedición:5-50 días laborables
Detalles de empaquetado:Empaquetado en un ambiente del sitio limpio de la clase 100, en solo envase, bajo atmósfera del nitr
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substrato libre semipolar del cristal de N-GaN GaN del avión (de 20-21)

 

PAM-XIAMEN ha establecido la tecnología de fabricación para (nitruro del galio) la oblea libre del substrato de GaN que está para UHB-LED y el LD. Crecido por la tecnología de (HVPE) de la epitaxia de la fase de vapor del hidruro, nuestro substrato de GaN tiene densidad baja del defecto y menos o densidad macra libre del defecto.

 

PAM-XIAMEN ofrece la gama completa de GaN y los materiales relacionados de III-N incluyendo los substratos de GaN de diversas orientaciones y conductividad eléctrica, las plantillas del crystallineGaN&AlN, y los epiwafers de encargo de III-N.

 

Aquí muestra la especificación de detalle:

substrato libre de N-GaN GaN del avión (de 20-21)

ArtículoPAM-FS-GaN (20-21) - N
Dimensión5 x 10 milímetros2
Grueso350 ±25 µm del µm 430±25
Orientación

(20-21)/avión (de 20-2-1) del ángulo hacia Uno-AXIS 0 ±0.5°

(20-21)/avión (de 20-2-1) del ángulo hacia C-AXIS -1 ±0.2°

Tipo de la conducciónN-tipo
Resistencia (300K)< 0="">
TTVµm del ≤ 10
ARCO-10 µm del ≤ 10 del ARCO del ≤ del µm
Aspereza superficial:

Parte delantera: Ra<0>

Lado trasero: Tierra fina o pulido.

Densidad de dislocaciónA partir de la 1 de x 10 5 a 5 de x 106 cm-2
Densidad macra del defecto0 cm2s
Área usable> el 90% (exclusión del borde)
Paquetecada uno en solo envase de la oblea, bajo atmósfera del nitrógeno, llena en sitio limpio de la clase 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

substrato libre de N-GaN GaN del avión (de 20-21)

El substrato de GaN de PAM-XIAMEN (nitruro del galio) es substrato monocristal con de alta calidad, que se hace con método de HVPE y tecnología de proceso originales de la oblea. Son uniformidad arriba cristalina, buena, y calidad superficial superior. Los substratos de GaN se utilizan para muchas clases de usos, para LED blanco y LD (violeta, azul y verde), además el desarrollo ha progresado para el poder y las aplicaciones para dispositivos electrónicas de alta frecuencia.

 

GaN es un muy duro (12±2 GPa, material ancho mecánicamente estable del semiconductor del bandgap con capacidad de alto calor y conductividad termal. En su forma pura resiste el agrietarse y puede ser depositado en película fina en el carburo del zafiro o de silicio, a pesar de la unión mal hecha en sus constantes del enrejado. GaN se puede dopar con el silicio (Si) o con el n-tipo del oxígeno y con el p-tipo de (Mg) del magnesio. Sin embargo, cambio de los átomos del Si y del magnesio la manera que los cristales de GaN crecen, introduciendo tensiones extensibles y haciéndolas frágiles. Los compuestos de Galliumnitride también tienden a tener una alta densidad de dislocación, por orden de 108 a 1010 defectos por centímetro cuadrado. El comportamiento amplio de banda-Gap de GaN está conectado con los cambios específicos en la estructura de banda electrónica, el empleo de la carga y las regiones del vínculo químico.

 

Estructura cristalina de la blenda de cinc

  ObservacionesReferens
Huecos de energía, e.g.eV 3,280 KBougrov y otros (2001)
Huecos de energía, e.g.eV 3,2300 K
Afinidad de electróneV 4,1300 K
Banda de conducción   
Separación de la energía entre el valle y los valles EΓ de Γde XeV 1,4300 KBougrov y otros (2001)
Separación de la energía entre el valle y L valles ELde Γ1,6 eV del ÷ 1,9300 K
Densidad eficaz de la banda de conducción de estados1,2 x 1018 cm-3300 K
Banda de la valencia  
Energía de E que parte vuelta-orbitaltan0,02 eV300 K
Densidad eficaz de la banda de la valencia de estados4,1 x 1019 cm-3300 K

Estructura de banda para la blenda de cinc GaN

Estructura de banda de la blenda de cinc GaN (cúbico). Los mínimos importantes de la banda de conducción y de los máximos de la valencia congriegan.
300K; E.g. eVeV =3.2; EVde EX= 4,6; EVde EL= 4.8-5.1; Etan = 0,02 eV
Para los detalles vea Suzuki, Uenoyama y a Yanase (1995).


 

Zona de Brillouin del enrejado cúbico centrado cara, del enrejado de Bravais del diamante y de las estructuras del zincblende.

 

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substrato libre semipolar del cristal de N-GaN GaN del avión (de 20-21)

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