punta de prueba dual del ultrasonido de la alta de la sensibilidad serie de DA con las líneas de retardo del reemplazo

Número de modelo:DA
Lugar del origen:CHINA
Cantidad de orden mínima:1PC
Condiciones de pago:T/T, Western Union, Paypal
Capacidad de la fuente:100pcs/una semana
Plazo de expedición:4-6 días del trabajo
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puntas de prueba duales de la alta de la sensibilidad serie de DA con las líneas de retardo del reemplazo

 

Transductores duales del elemento con el elemento dual rectangular y conector dual del Microdot – fines generales

Recomendado para usos más rugosos

Usos que requieren mayor cobertura

Las líneas de retardo y las barreras de la interferencia son reemplazables

Líneas de retardo das alta temperatura disponibles

Conectores del Microdot

 

Características:

Los transductores duales del elemento estos transductores producen la resolución próxima a la superficie mejorada en comparación con los solos transductores normales del contacto del elemento. Utilizado en los instrumentos que aíslan las conexiones impulsores/del receptor (modo de la por-transporte-misión en muchos instrumentos), cada uno de las funciones de los elementos independientemente, una como transmisor, la otra como receptor. Teniendo una combinación notable de sensibilidad, de penetración y de resolución, los transductores duales del elemento se utilizan en usos que calibran del grueso de la precisión, y para la detección de corrosión, de erosión, de hoyos y de pequeños defectos laminares o alargados internos.

 

ModelofrecuenciaTamaño cristalino (milímetros)Tamaño cristalino (pulgada)
DA2.25P7X122.25Mhz7*12m mequv. pulgada 1/4*1/2
DA5P7X125Mhz7*12m mequv. pulgada 1/4*1/2
DA2.25P7X242.25Mhz7*24m mequv. pulgada 1/4*1.00
DA5P7X245Mhz7*24m mequv. pulgada 1/4*1.00
DA1P7x241Mhz7*24m mequv. pulgada 1/4*1.00
DA3.5P7x243.5Mhz7*24m mequv. pulgada 1/4*1.00
DA1P7x121Mhzpulgada 0.5X0.5pulgada 0.5x1
DA3.5P7x123.5Mhzpulgada 0.5X0.5pulgada 0.5x1

 

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