Microscopio grande de la inspección de la oblea del viaje 50X de 1 micrón
Number modelo:SPC500
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1 pedazo
Condiciones de pago:L/C, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente:50, 000PCS/Year
Detalles de empaquetado:paquete exportador estándar
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Dongguan Guangdong China
Dirección:
101 Building, No. 105. Dafen Education Road, Wanjiang District, Dongguan City, Guangdong Province, P. R. China
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Oblea que examina el microscopio Inspect500
Uso
EXAMINE la serie que mide el microscopio metalúrgico son
ampliamente utilizado en los paquetes del semiconductor, cojines de
la soldadura, altura del lazo, los paneles de FPD (LCM), nivel CSPS
de la oblea y así sucesivamente.
Características y ventajas de la oblea que examinan el microscopio
■Base, tabla de alta precisión y columna de mármol para asegurar altas estabilidad y rigidez
■El diseño de mármol de la tabla, con el carril cruzado de forma de V de la precisión, se asegura que el uso a largo plazo sin deforme, que garantice con eficacia la alta precisión mecánica
■El sistema óptico de alta calidad y el CCD de alta resolución aseguran los bordes de la imagen aguda
■la fuente de luz de la fuente de luz fría de la superficie del anillo del Tres-anillo y de la ocho-zona LED y del contorno, evita la deformación de las piezas de precisión causadas por el calor de la luz
■Nikon opcional que inclina el tubo trinocular + visera del yelmo quíntupla
■Investigación y desarrollo independiente del software de medición de la imagen, potente y fácil actuar
Datos técnicos
| Modelo | INSPECT300 | INSPECT400 | INSPECT500 | ||||
| X, viaje del eje de Y (milímetros) | 300*200 | 400*300 | 500*400 | ||||
| Tamaño de cristal de la etapa (milímetros) | 357*257 | 457*357 | 557*457 | ||||
| Viaje del eje de Z (milímetros) | 100 | ||||||
| X, Y, resolución del eje de Z (μm) | 1 | ||||||
| Unidad de la longitud | Escala linear | ||||||
| Exactitud de medición (μm) | longitud de 2.5+L/150 L=measuring (milímetros) | ||||||
| Modo de operación (X, Y) | Manual | ||||||
| Modo de operación (Z) | CNC | ||||||
| Sistema de la imagen | Cámara CCD de alta resolución | ||||||
| Visera del yelmo quíntupla | 5X | 10X | 20X | 50X | |||
| Ocular | WF10X | ||||||
| Software de medición | 2.o software de medición | ||||||
| Iluminación | Transmitido | sistema de la Epi-iluminación | |||||
| Contorno | Luz paralela del contorno del LED | ||||||
| Fuente de alimentación | AC100~240V 50/60Hz | ||||||
Microscopio grande de la inspección de la oblea del viaje 50X de 1 micrón
Carro de la investigación
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