estadísticas grandes de la memoria cinco del indicador del 1250μM Film Coating Thickness

Number modelo:Uee922

Lugar del origen:China

Cantidad de orden mínima:1 sistema

Condiciones de pago:T/T, Paypal, Western Union, L/C

Capacidad de la fuente:500 sistemas por mes

Plazo de expedición:En 7-10 días del trabajo

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Chongqing Leeb Instrument Co. , Ltd

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Chongqing Chongqing China

Dirección: Parque industrial de la tecnología de High&New, distrito de Yubei, Chongqing, China

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estadísticas grandes de la memoria cinco del indicador del 1250μM Film Coating Thickness

FE grande de Shell Coating Thickness Gauge With del metal de las estadísticas de la memoria cinco y función de NFe

Funciones y características

●Con las puntas de prueba y la cáscara de alta calidad del metal.
●Memoria grande para ahorrar 4 tipos de materiales y de 1560 valores de prueba.
●Software para la conexión de PC y la transmisión de datos, análisis.
●Dos métodos de medida: continuo y solo;
●Modo de trabajo dos: directo y lote;
●Función de ajuste del límite.
●Interruptor apagado automáticamente o manualmente.
●3 maneras para la calibración fácil: por un espécimen, dos especímenes o cinco especímenes a calibrar.
●Cinco estadísticas: Épocas medias, máximas, mínimas, de prueba, desviación estándar.
●3 años de garantía y servicios permanentes

Parámetros técnicos

Parámetros técnicos
Modelo no.		Uee922
Principio de medición		Inducción magnética (FE) y corriente de Foucault (NFe)
Gama de medición (µm)		los 0~1250μm
Punta de prueba		Cambiable
Shell		Metal
Exactitud		± (2%H+1) μm; H refiere al grueso de la muestra
Resolución mínima (µm)		los 0.1μm
Curvatura mínima del área mínima (milímetros)		Convex1.5 Concave9
Diámetro del área mínima (milímetros)		Φ7
Grueso crítico del substrato (milímetros)		0,5
Memoria		1560
Dimensiones		1307030m m
Fuente de alimentación		Acumulador alcalino 2*AA
Configuración estándar		Máquina principal, probe1 (FE o NFe), substrate1 (FE o NFe), software y USB, calibración specimens*5, el manual de los usuarios, certificado calificado, destornillador de la moneda, lista de embalaje, tarjeta de garantía
Accesorios opcionales		Puntas de prueba, especímenes

Substrato

a) Los métodos estándar para las propiedades magnéticas del metal magnético del substrato y la aspereza superficial, probados deben permanecer con el metal del substrato magnético y la aspereza superficial es similar. Para el método de la corriente de Foucault, los pedazos estándar de las propiedades eléctricas de la matriz del metal, y probado deben permanecer con el substrato similar a las propiedades eléctricas del metal. Para confirmar la aplicabilidad del pedazo estándar, disponible

pedazo estándar de metal bajo y bajo prueba en comparar del metal del substrato medido por las lecturas.

b) Si bajo muestras del substrato del metal el grueso es no más que el grueso crítico estipulado en el cuadro 1, los dos métodos siguientes se pueden utilizar para la calibración:

1) Estancia con las mismas muestras del estándar de la calibración del en-microprocesador del metal del grueso del substrato del metal;

2) Con un suficiente grueso, propiedades eléctricas del estándar o del espécimen similar del metal del trazador de líneas del metal, pero él debe ser hecho entre el metal bajo

y metal del trazador de líneas sin liquidación. En los dos lados tenga especímenes del revestimiento, no puede utilizar método del trazador de líneas.

c) Si la curvatura de la capa bajo prueba ha alcanzado la calibración no puede en el avión, tiene la capa de recubrimiento de la curvatura del pedazo estándar o de la curvatura del metal del substrato debajo de hojas de la calibración, será lo mismo con la curvatura de

Software de la PC:

Software para la conexión de PC y la transmisión de datos, análisis.

Caja de embalaje: Caja impermeable de alta calidad