Equipo de prueba de la subestación 65HZ con fuente estándar de 3 fases

Number modelo:Serie MUE1
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1
Capacidad de la fuente:20 sistemas por mes
Plazo de expedición:30-45 días
Detalles de empaquetado:PAQUETE DEL CARTÓN
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Miembro activo
Zhengzhou Henan China
Dirección: No.1207-1, #1 constructivo, el parque nacional de la Sci-tecnología de la universidad de provincia de Henan, camino de No.11 Changchun, Zhengzhou, Henan 450000
Proveedor Último login veces: Dentro de 38 Horas
Detalles del producto Perfil de la compañía
Detalles del producto

 

Combinación de serie del sistema de prueba unitaria MUE1

 

1. Funcionamiento confiable

2. Ampliamente utilizado en la prueba elegante de la subestación

3. Interfaz fácil de usar de la prueba

4. Altas estabilidad y exactitud

5. Rastreabilidad de la exactitud del laboratorio de alto nivel

6. Compatible con IEC61850-9-1, IEC61850-9-2, IEC61850-9-2LE, protocolo IEC60044-FT3

 

Índice técnico

 

Clase de la exactitud0,05
Prueba convencional del voltaje
Gama0-120V, gama de medición 100V, 100/√3V
Gama y exactitud ajustables20%-150%, 0,05%
Prueba actual convencional
Gama0-20A, gama de medición 5A y 1A
Gama y exactitud ajustables1%-120%
Prueba de la frecuencia
Gama45-65HZ
Exactitud0.002HZ
Exactitud de la prueba de la energía entrada
Poder activo0,05 clases
Poder reactivo0,1 clases
Interfaz de fibra óptica
Interfaz de fibra óptica del ST de 1 grupo 
Envío de poder>-6dBm
Óptico reciba la sensibilidad-38dBm
Señal de sincronización
Entrada y salida ópticas de la sincronización2Nos
Salida óptica de la sincronización IRIG-B (DC)1No
Exactitud del tiempo de la salida de la sincronizaciónmejor que 100ns
Fuente de alimentación
Voltaje entradoEl AC220V±10%, 50/60Hz
Consumo de energía<20w>
Dimensión y peso: 360x400x160m m, 7.5KGS

 

Característica

 

1) Usando fuente estándar de la alta exactitud de 3 fases, colector de datos del A/D de la alta exactitud, sincronización

    unidad de reloj de tiempo, estándar básico del muestreo de la CA y unidad de prueba de MU

2) Modo de operación:  por el software de la PC

3) Usando algoritmo de alto nivel de la sincronización y 512times sobre tecnología de muestreo

4) Adopción de la lengua de LabView y de la tecnología virtual del instrumento, HMI y conveniente amistosos para la operación

5) Con pequeña salida de la señal de la simulación

6) Error de la exactitud y prueba de funcionamiento de la sincronización y de la comunicación de combinar la unidad con la colección de

    canales múltiples digitales o entrada análoga

7) Prueba del error de la exactitud de combinar la unidad con la entrada análoga de la colección con el VT convencional y el CT

8) Test de precisión de combinar la unidad con la entrada digital digital de CT/VT

9) Prueba del error de la exactitud del VT digital del CT y calibración del valor análogo

10) Prueba del grado de la dispersión de muestrear el mensaje

11) Prueba de la integridad de muestrear el mensaje

12) Prueba del error de comparación de tiempo de combinar la unidad

13) Tiempo que guarda la prueba del error de combinar la unidad

14) Muestreo de la prueba del tiempo de respuesta

15) Análisis completo del mensaje del marco

 


 

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Equipo de prueba de la subestación 65HZ con fuente estándar de 3 fases

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