Grosor de la oblea de nitruro de galio GaN 325um - 375um Independiente

Number modelo:JDCD01-001-009
Lugar del origen:Suzhou China
Condiciones de pago:T/T
Capacidad de la fuente:10000pcs/Month
Plazo de expedición:3-4 días de la semana
Detalles de empaquetado:Envasado al vacío en un entorno de sala limpia de clase 10000, en casetes de 6 piezas o contenedores
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Shanghai Shanghai China
Dirección: Edificio 11, carril 1333, avenida Jiangnan, ciudad de Changxing, distrito de Chongming, Shanghái
Proveedor Último login veces: Dentro de 2 Horas
Detalles del producto Perfil de la compañía
Detalles del producto

5*10,5mm2Espesor de sustratos de GaN independientes de cara M 350 ±25 µm

5*10,5mm2Sustrato monocristalino de GaN independiente de tipo SI sin dopar de cara M Resistividad > 106Oblea de dispositivos RF de Ω·cm




El sustrato de GaN independiente tiene un gran potencial para la homoepitaxia de dispositivos optoelectrónicos y electrónicos con alta confiabilidad y rendimiento.Aquí, nos dimos cuenta del crecimiento de GaN a granel independiente en grafeno multicapa de doble pila como una capa de inserción mediante el método de epitaxia en fase de vapor de hidruro (HVPE).

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Artículo

GaN-FS-MUS


GaN-FS-MNS


GaN-FS-M-SI-S


Observaciones:

Se utiliza un ángulo de arco circular (R < 2 mm) para distinguir la superficie delantera y la trasera.

Dimensiones5x10mm2
Espesor350 ±25 micras
Orientación

Plano M (1- 100) fuera de ángulo hacia el eje A 0 ±0,5°

Plano M (1- 100) fuera del ángulo hacia el eje C - 1 ±0,2°

Tipo de conduccióntipo Ntipo NSemiaislante
Resistividad (300K)< 0,1 Ω·cm< 0,05 Ω·cm> 106Ω·cm
TTV≤ 10 micras
ARCO- 10 µm ≤ ARCO ≤ 10 µm
Rugosidad de la superficie frontal

< 0,2 nm (pulido);

o < 0,3 nm (pulido y tratamiento superficial para epitaxia)

Rugosidad de la superficie trasera

0,5 ~ 1,5 micras

opción: 1~3 nm (molienda fina);< 0,2 nm (pulido)

Densidad de dislocaciónDesde 1x105a 3 x 106cm-2
Densidad de macrodefectos0cm-2
Área utilizable> 90% (exclusión de bordes)
PaqueteEmpaquetado en un ambiente de sala limpia de clase 100, en un contenedor de 6 PCS, bajo una atmósfera de nitrógeno

Apéndice: El diagrama del ángulo de corte incorrecto


Si δ1= 0 ±0,5 grados, entonces el plano M (1-100) fuera del ángulo hacia el eje A es 0 ±0,5 grados.

Si δ2= - 1 ±0,2 grados, luego el plano M (1- 100) fuera del ángulo hacia el eje C es - 1 ±0,2 grados.


Sobre nosotros

Nos especializamos en el procesamiento de una variedad de materiales en obleas, sustratos y piezas de vidrio óptico personalizadas. Componentes ampliamente utilizados en electrónica, óptica, optoelectrónica y muchos otros campos.También hemos estado trabajando en estrecha colaboración con muchas universidades, instituciones de investigación y empresas nacionales y extranjeras, proporcionando productos y servicios personalizados para sus proyectos de I+D.Nuestra visión es mantener una buena relación de cooperación con todos nuestros clientes gracias a nuestra buena reputación.


Preguntas más frecuentes

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Somos fábrica.
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Grosor de la oblea de nitruro de galio GaN 325um - 375um Independiente

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