Sistema de inspección CT de rayos X automatizado de alta velocidad
Caso de estudio VT-X750
El X750 está diseñado para la inspección no destructiva de
infraestructura/módulos 5G y componentes eléctricos en vehículos,
ofreciendo una inspección de alta definición y alta calidad
utilizando tecnología 3D-CT completa. En los últimos años, el
VT-X750 se ha utilizado ampliamente para:
- Inspección de vacíos de soldadura y llenado de conectores de
orificio pasante en el ensamblaje final de dispositivos de potencia
(IGBT, MOSFET)
- Inspección de componentes integrados de máquinas y energía
eléctrica
- Aplicaciones en las industrias aeroespacial, de equipos
industriales y de semiconductores
Cobertura de inspección completa en línea [Patente de Omron]
El VT-X750 representa un avance significativo con respecto a la
tecnología 3D-CT anterior de Omron, estableciéndolo como el sistema
de inspección de rayos X más rápido disponible*.
Las mejoras clave incluyen:
- Lógica de inspección automatizada mejorada para varios componentes
(filetes de soldadura de circuitos integrados, dispositivos PoP,
componentes de orificio pasante, conectores de ajuste a presión)
- Mayor velocidad de inspección que permite una cobertura completa en
línea mediante la metodología 3D-CT
* Basado en una investigación interna realizada en octubre de 2021
Medición de tiempo basada en la inspección completa de PCB de
sustrato de tamaño M (excluyendo el tiempo de carga/descarga).
Incluye la inspección 3D de ambos lados de la placa con 2
componentes BGA (2000-3000 pines cada uno) o SiP.
Visualizar la resistencia de la unión de soldadura
Los algoritmos de reconstrucción 3D-CT patentados de OMRON ofrecen
capacidades excepcionales de reconocimiento de forma de soldadura y
detección de defectos. El análisis cuantitativo permite:
- Procesos de inspección automatizados con riesgo minimizado de
escape de defectos
- Operación rápida y repetible para una garantía de calidad
consistente
Operación sin restricciones de diseño
La tecnología 3D-CT de Omron supera los desafíos planteados por los
diseños de placas densas y de doble cara, eliminando las
limitaciones de la inspección tradicional de rayos X.
Características de inspección avanzadas
- Configuración de criterios de auto-juicio [Patente pendiente]: Reduce la dependencia del programador mediante el análisis
dinámico utilizando la IA de Omron con toma de decisiones
cuantitativa
- Visualización tridimensional transversal integrada: Simplifica la comprensión de los criterios de inspección
- Creación rápida de programas [Patente de Omron]: Desarrollo de nuevos programas asistido por IA con generación
automatizada a partir de datos CAD
- Simulación acelerada [Patente de Omron]: Determina el tacto y la dosis de exposición óptimos para cada
componente
Operación sin tiempo de inactividad
La infraestructura de soporte global de Omron garantiza una
producción continua con servicios de mantenimiento integrales que
incluyen:
- Monitoreo de máquinas para mantenimiento predictivo
- Acceso remoto para soporte de emergencia
Reducción de la exposición a la radiación
El sistema incorpora tecnologías avanzadas de gestión de la
radiación:
- Imágenes de alta velocidad y baja radiación con filtros protectores
estándar
- Simulador de exposición a la radiación de piezas [Patente de Omron]
para una predicción precisa de la exposición de los componentes de
PCB de la parte superior/inferior
Inspección automatizada de rayos X, tecnología de imágenes CT,
inspección de rayos X en línea, sistemas CT de rayos X 3D, escaneo
CT de alta velocidad, inspección de rayos X para electrónica,
pruebas no destructivas (NDT), aplicaciones de tomografía
computarizada de rayos X, garantía de calidad en la fabricación,
detección automatizada de defectos, software de imágenes de rayos
X, análisis de rayos X en tiempo real, imágenes de rayos X de alta
resolución, sistemas de inspección de rayos X para semiconductores,
IA en inspección de rayos X, sistemas robóticos de carga de
muestras, CT de rayos X para componentes aeroespaciales, soluciones
de inspección de alto rendimiento, metrología de precisión con CT
de rayos X, técnicas de imagen avanzadas en la fabricación