Fuente de alimentación ATE con prueba de alto voltaje Fuente de alimentación automática de batería Tester integral

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Dongguan Guangdong China
Dirección: Habitación 5072, unidad 1, edificio 1, número 2, sección de Nancheng, Tiyu Road, calle Nancheng, ciudad de Dongguan, provincia de Guangdong
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Venta directa de fábrica de fuente de alimentación ATE con fuente de alimentación de prueba de alto voltaje, probador automático, probador integral de baterías


Los ocho beneficios del sistema de prueba automático de fuente de alimentación son:

1. Velocidad rápida, alta eficiencia y gran fiabilidad;

2. La producción a gran escala puede reducir significativamente el costo de uso (en comparación con las pruebas manuales).

3. Puede generar automáticamente informes de prueba para una referencia conveniente en cualquier momento.

4. Posee capacidades de análisis estadístico para productos defectuosos y puede ayudar a los ingenieros a analizar las causas de los productos defectuosos

5. El diseño del sistema es flexible y se puede personalizar según las propias necesidades del cliente.

6. Estable y fiable, seleccione la mejor combinación de equipos para completar varias pruebas;

7. El precio del sistema de prueba de fuente de alimentación es controlable. Según las propias necesidades del cliente, pueden elegir algunos equipos de prueba con el mejor rendimiento de costos durante el uso para reducir el precio de todo el sistema.

8. Económico y rentable, el equipo adecuado existente del cliente se puede aplicar al sistema de prueba de fuente de alimentación, evitando el desperdicio del equipo original causado por la actualización del equipo del cliente.


Abierto

• Una plataforma de hardware abierta que permite la adición o eliminación de varios dispositivos de prueba según las necesidades del cliente (incluidos dispositivos con interfaces GPIB, RS-232, USB, etc.)

• El sistema de prueba de fuente de alimentación ATE admite pruebas simultáneas de múltiples fuentes de alimentación de salida de un solo grupo/múltiples grupos, lo que aumenta significativamente la capacidad de la línea de producción.

• Una plataforma de software abierta, el sistema de prueba de fuente de alimentación ATE se puede ampliar con nuevos elementos y funciones de prueba basados en los requisitos de prueba del cliente.

• El sistema de prueba de fuente de alimentación ATE admite el escaneo previo y el escaneo de códigos de barras simultáneos de múltiples carriles durante las pruebas, lo que mejora la velocidad general de las pruebas.


Universal

• El sistema de prueba de fuente de alimentación ATE admite pruebas de varias fuentes de alimentación (fuentes de alimentación LED, adaptadores/cargadores, fuentes de alimentación de PC, inversores, fuentes de alimentación de comunicación, etc.)

• Cumple con los requisitos de medición de ENERGY STAR e IEC 62301.

• Admite la interfaz del Sistema de Información de Fabricación (ShopFloor).

• El sistema de prueba de fuente de alimentación ATE admite pruebas de varios parámetros de alimentación en los modos CV, CC, CR, LED.

• Optimiza el modo de visualización, lo que permite cualquier combinación de configuraciones de hardware.


Alta velocidad

• El sistema de prueba de fuente de alimentación ATE admite pruebas simultáneas de múltiples fuentes de alimentación de salida de un solo grupo/múltiples grupos, lo que aumenta significativamente la capacidad de la línea de producción. (La velocidad de prueba para fuentes de alimentación LED/adaptadores/cargadores es más del doble que la de los sistemas automáticos de alimentación de la serie 6000 ampliamente utilizados).

• Realiza el escaneo de códigos de barras en paralelo durante las pruebas, lo que mejora en gran medida la velocidad de las pruebas.


Elementos de prueba del sistema de prueba de fuente de alimentación Top-Smart 2000 ATE:

Elementos de pruebaElementos de prueba integrales
Prueba CECPrueba de cortocircuito
Corriente CC en modo C.V.Corriente de cortocircuito
Ruido pico a picoProtección OV
Prueba de tiempo de reacción en serieProtección UV
Tiempo de respuesta transitoriaProtección OL
Pico transitorioProtección OP
SeguimientoPrueba de ajuste en prueba
Regulación de voltajeCaída de ciclo de CA
Regulación de corrienteSimulación PLD
Tiempo de encendidoPrueba de corriente de salida CC
Tiempo de subidaPrueba de voltaje de salida CC
Tiempo de caídaPrueba de lectura de forma de onda
Tiempo de esperaPrueba de corriente de impulso de entrada
Corriente de irrupciónPotencia de entrada
Señal de buena alimentaciónControl de relé
Señal de fallo de alimentaciónEscaneo de código de barras
Señal P/S ONPrueba dinámica
Secuencia de encendidoEspecificación en modo C.P.
Secuencia de apagadoCorriente de pico de entrada
Prueba de eficienciaPrueba de medición de expansión adicional
Estabilidad generalCorriente RMS de entrada
Prueba de velocidad del ventiladorControl de señal TTL
Factor de potencia de entradaLectura/escritura LAN
Rampa de voltaje de entradaLectura/escritura RS485
Rampa de frecuencia de entradaLectura/escritura USB
Extender la prueba de medición232 lectura/escritura
Prueba automáticaGPIB lectura/escritura

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