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Fabricante de un sistema de prueba de potencia ATE y un probador de equipos inteligentes para la integración automatizada de cargadores de alto voltaje
Características del sistema de ensayo de suministro de energía Top-Smart 2000 ATE:
Abierto
• Una plataforma de hardware abierta que permite la adición o eliminación de varios dispositivos de prueba según las necesidades del cliente (incluidos los dispositivos con interfaces GPIB, RS-232, USB, etc.)
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE admite ensayos simultáneos de múltiples fuentes de alimentación de salida de un solo grupo/múltiples grupos, aumentando significativamente la capacidad de la línea de producción.
• Una plataforma de software abierta, el sistema de pruebas de alimentación ATE puede ampliarse con nuevos elementos y funciones de prueba basados en los requisitos de prueba del cliente.
• El sistema de prueba de la fuente de alimentación ATE admite el preescaneo simultáneo de códigos de barras de varios carriles y el escaneo durante el ensayo, mejorando la velocidad general de ensayo.
El uso universal
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE admite ensayos de varias fuentes de alimentación (fuentes de alimentación LED, adaptadores/cargadores, fuentes de alimentación de PC, inversores, fuentes de alimentación de comunicaciones, etc.)
• Cumple con los requisitos de medición ENERGY STAR y IEC 62301.
• Soporta la interfaz del sistema de información de fabricación (ShopFloor).
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE admite el ensayo de varios parámetros de potencia en los modos CV, CC, CR, LED.
• Optimiza el modo de visualización, permitiendo cualquier combinación de configuraciones de hardware.
Velocidad
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE admite ensayos simultáneos de múltiples fuentes de alimentación de salida de un solo grupo/múltiples grupos, aumentando significativamente la capacidad de la línea de producción.(La velocidad de ensayo de las fuentes de alimentación/adaptores/cargadores LED es más del doble que la de los sistemas automáticos de potencia de la serie 6000 ampliamente utilizados¿ Por qué?
• Realiza el escaneo de códigos de barras paralelos durante la prueba, mejorando en gran medida la velocidad de prueba.
Trabajo profesional
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE admite ensayos completos de las fuentes de alimentación del conductor LED.
• Puede leer con precisión la corriente media y la corriente efectiva del controlador LED probado.
• Comience fácilmente las fuentes de alimentación del controlador LED de baja potencia sin tirar del controlador LED debido a la alta corriente de arranque de la carga electrónica.
• El sistema de ensayo de la fuente de alimentación ATE establece valores realistas del LED en el umbral y la resistencia del punto de funcionamiento después de encendido a través de la configuración del sistema,haciendo que las formas de onda de corriente y voltaje probadas se acerquen mucho a los LED reales.
• Formas de onda de corriente de alta frecuencia más realistas.
• Prueba de la función de atenuación: corriente de atenuación, frecuencia de atenuación, período de atenuación (se requieren dispositivos de hardware adicionales relacionados).
1Optimización del rendimiento: durante la fase de investigación y desarrollo de la fuente de alimentación,El sistema ATE puede ayudar a los ingenieros a medir rápida y exactamente los parámetros de rendimiento de la fuente de alimentación y analizar sus cuellos de botella de rendimientoPor ejemplo, si el ensayo revela que la eficiencia de conversión de la fuente de alimentación es baja,Los ingenieros pueden ajustar la topología del circuito y seleccionar los componentes adecuados para mejorar la eficiencia de conversión.
2"Análisis de fallos: Cuando la fuente de alimentación no funcione correctamente o muestre un funcionamiento anormal,El sistema ATE puede ayudar a los ingenieros a identificar rápidamente la causa del fallo a través de datos detallados de prueba y herramientas de análisisEsto ayuda a acortar el ciclo de desarrollo, reducir los costes y mejorar la calidad y fiabilidad del suministro de energía.
3Pruebas de compatibilidad: para las fuentes de alimentación que deben utilizarse junto con una variedad de dispositivos, como adaptadores y cargadores, el sistema ATE puede realizar pruebas de compatibilidad.Detecta el grado de coincidencia entre la fuente de alimentación y los diferentes dispositivos y si hay problemas de compatibilidad, para garantizar que la fuente de alimentación pueda funcionar normalmente en aplicaciones prácticas.
Los elementos de ensayo del sistema de ensayo de suministro de energía Top-Smart 2000 ATE:
Objetos de ensayo | Puntos de ensayo completos |
Prueba CEC | Prueba de cortocircuito |
Corriente continua en modo C.V. | Corriente de cortocircuito |
Ruido de pico a pico | Protección contra el OV |
Prueba de tiempo de reacción en serie | Protección UV |
Tiempo de respuesta transitorio | Protección OL |
Pico transitorio | Protección OP |
Seguimiento | Prueba de ajuste durante el ensayo |
Regulación del voltaje | El ciclo de CA se ha caído |
Reglamento vigente | Simulación del PLD |
Tiempo de encendido | Prueba de corriente de salida de corriente continua |
Tiempo de elevación | Prueba de tensión de salida de corriente continua |
Tiempo de caída | Prueba de lectura de forma de onda |
Tiempo de espera | Prueba de corriente de impulso de entrada |
Prueba de corriente de entrada | Potencia de entrada |
Potencia buena señal | Control del relé |
Señal de falla de energía | Escaneo de código de barras |
P/S señal encendida | Prueba dinámica |
Secuencia de encendido | Especificación en el modo C.P. |
Secuencia de apagado | Corriente máxima de entrada |
Prueba de eficacia | Prueba adicional de medición de la expansión |
Prueba de estabilidad general | Corriente RMS de entrada |
Prueba de velocidad del ventilador | Control de la señal TTL |
Factor de potencia de entrada | Lectura/escritura de la red local |
Rampa de voltaje de entrada | RS485 lectura/escritura |
frecuencia de entrada. rampa | USB para leer y escribir |
Extender el ensayo de medición | 232 lectura/escritura |
Prueba automática | GPIB lectura/escritura |