Sistema de ensayo Sistema de ensayo integral para el probador de ATE suministro de energía LED Equipo de detección de gabinete de envejecimiento
Número de modelo:Top-Smart 1100 es el más inteligente
Lugar de origen:China.
Cantidad mínima de pedido:Un conjunto
Condiciones de pago:T/T
Capacidad de suministro:10 juegos /30 días
Tiempo de entrega:2 a 3 semanas
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Dongguan Guangdong China
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Habitación 5072, unidad 1, edificio 1, número 2, sección de Nancheng, Tiyu Road, calle Nancheng, ciudad de Dongguan, provincia de Guangdong
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Sistema de ensayo Sistema de ensayo integral para el probador ATE, equipo de detección de envejecimiento del gabinete de alimentación LED
Las funciones principales del sistema de ensayo ATE incluyen los siguientes aspectos:
Pruebas automatizadas:
- El sistema de ensayo ATE es capaz de ejecutar automáticamente los procedimientos de ensayo sin necesidad de intervención humana, mejorando así significativamente la eficiencia de los ensayos.
- Las pruebas automatizadas simplifican los procedimientos de prueba complejos, recopilan y almacenan automáticamente los datos de las pruebas, mejoran la eficiencia y precisión de las pruebas y liberan mano de obra.
Apoyo para diversos contenidos de pruebas:
- El sistema de pruebas ATE admite múltiples tipos de pruebas, como pruebas funcionales, pruebas de confiabilidad, pruebas de tiempo, pruebas de propiedades eléctricas y más.
- El sistema puede simular una variedad de entornos de ensayo para garantizar la calidad y la estabilidad de los productos.
Pruebas por lotes:
- El equipo de ensayo automático ATE admite ensayos por lotes, que pueden satisfacer las necesidades de ensayos masivos de las empresas.
- A través de las pruebas por lotes, las empresas pueden detectar rápidamente los productos no conformes y mejorar la eficiencia de la producción.
Análisis de datos e información:
- El sistema de ensayo ATE registrará y analizará automáticamente los datos de ensayo y generará informes detallados de datos.
- Estos informes ayudan a las empresas a comprender las condiciones de calidad del producto, a mejorar la calidad y a tomar decisiones.
Detección de fallas y alerta temprana:
- El sistema de ensayo ATE es capaz de controlar en tiempo real el estado de funcionamiento de los productos sometidos a ensayo.evitar daños a los productos.
Flexibilidad y escalabilidad:
- El sistema de pruebas ATE suele tener una arquitectura flexible y funciones escalables, y puede ser personalizado y ampliado de acuerdo con las necesidades específicas de las empresas.
Compatibilidad y universalidad:
- El sistema de ensayo ATE suele tener una buena compatibilidad y puede admitir múltiples tipos de modelos de instrumentos de ensayo y tipos de interfaz.
- Esto ofrece a las empresas más opciones y reduce los costes de las pruebas.
Elementos de ensayo del sistema de ensayo de alimentación móvil Top-Smart 1100:
Prueba de entrada | Prueba de carga |
| Rampa de voltaje de entrada | Prueba de corriente de carga |
| frecuencia de entrada. rampa | Prueba de carga completa |
| El ciclo de CA se ha caído | Prueba de carga lenta |
| Modo de distorsión de la fuente de alimentación | Prueba de configuración de la ID de carga lenta |
| Corriente RMS de entrada | Descarga durante el ensayo de carga |
| potencia de entrada | Prueba de indicación de electricidad |
| Factor de potencia de entrada | Función de la batería de simulación |
| Prueba de la corriente máxima de entrada | Prueba de carga inalámbrica |
| Prueba de salida | Prueba de tiempo / dinámica |
| Voltado de salida de corriente continua | Tiempo de encendido |
| Corriente de salida de corriente continua | Tiempo de elevación |
| Secuencia de encendido | Tiempo de caída |
| Secuencia de apagado | Tiempo de espera |
| Seguimiento | Prueba especial |
| Prueba de eficacia | Prueba de tensión y estado de la lámpara LED |
| Ensayos de voltaje de sobrecarga | Prueba de la frecuencia de parpadeo del LED |
| Ruido de pico a pico | Prueba en modo de reposo |
| Prueba de estabilidad | Prueba de tensión D + / D |
| Regulación del voltaje | Pruebas de comunicación y calibración de la MCU |
| Reglamento vigente | Prueba de descarga |
| Prueba de efecto mixto | GPIB lectura/escritura |
| Prueba de protección | USB para leer y escribir |
| Prueba de cortocircuito | RS232 lectura / escritura |
| Protección contra el OV | Control de la señal TTL |
| Protección UV | Control del relé |
| Prueba de protección de carga | Escaneo de código de barras |
| Prueba de protección contra descargas | Función de medición extendida |
| Prueba de protección contra sobrecorrientes | |
| Prueba de carga rápida ((Aplicable a QC2.0, QC3.0 y otros ensayos de carga rápida) |
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Sistema de ensayo Sistema de ensayo integral para el probador de ATE suministro de energía LED Equipo de detección de gabinete de envejecimiento
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