Equipo de difracción de rayos X de escritorio bidimensional AL-Y500 Instrumento de análisis XRD

Número de modelo:Al-Y500
Lugar de origen:Porcelana
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Capacidad de suministro:200
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Equipo de difracción de rayos X AL-Y500 bidimensional de escritorio, instrumento de análisis XRD

Descripción:

El difractómetro AL-Y500 es el último modelo de difractómetro de rayos X bidimensional de sobremesa. Adopta el método de detección de cámara fija, que es diferente de los difractómetros tradicionales de tipo escaneo. El detector de semiconductores de fotones de tipo matriz de rayos X permite modos de compatibilidad de 0D, 1D y 2D para puntos, líneas y superficies.

Se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de muestras policristalinas, incluido el análisis cuantitativo sin muestras de referencia, la determinación de la cristalinidad, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, la medición del tamaño del grano, el refinamiento de la estructura, el análisis de microáreas, el análisis de películas delgadas y tensión de textura, etc. Es aplicable a varios campos e industrias como minerales, productos farmacéuticos, productos químicos, metales y aleaciones, materiales de construcción, nanomateriales, baterías, muestras de alimentos, muestras biológicas, etc.


Características:

1.El detector realiza fotografías fijas, lo que es diferente del instrumento de difracción de tipo escaneo tradicional. El modo de fotografía es muy eficiente y rápido, aproximadamente 5-30 veces más rápido que el modo de escaneo. Es adecuado para el análisis in situ, y la información de difracción de todos los ángulos se puede recopilar simultáneamente. Tiene una alta resolución energética, lo que reduce eficazmente el fondo de fluorescencia.

2.El instrumento de medición de ángulos θs y θd adopta un accionamiento de servomotor y tecnología de control de codificación óptica. El detector puede realizar un movimiento de doble posición a lo largo del eje 2θ. La rotación del instrumento de medición de ángulos es más estable, la medición del ángulo de difracción es más precisa y la linealidad es mejor. Cuando la muestra gira a lo largo del eje θ, la precisión del control es de 0,01°, y la precisión del ángulo del eje 2θ es de ±0,02°.

3.Los componentes del detector se componen de múltiples unidades de detector, que se distribuyen uniformemente a lo largo del círculo de difracción y proporcionan una cobertura perfecta para todos los ángulos; los detectores de matriz plana de doble capa de 21 placas (o de una sola capa de 10 placas) cubren el rango de 2θ: -3° a 150°. Se logra la imagen 2D, recopilando simultáneamente la información del ángulo γ, datos de difracción bidimensionales, y la información es más abundante.

4.Detector de semiconductores de conteo fotónico plano de rayos X, con alta sensibilidad, capaz de contar fotones individuales, amplio rango dinámico, umbrales dobles; fuentes de luz de punto y línea intercambiables, que combinan geometrías ópticas Debye-Scherrer y BB, compatibles con muestras planas y cilíndricas, compatibles con los modos 2D, 1D y OD del detector. Además, tiene una fuerte resistencia a la radiación y una larga vida útil.

5.El dispositivo de protección contra la radiación dispersa es más seguro y confiable. Durante la medición de la muestra, la puerta de protección contra la radiación se bloqueará automáticamente, lo que garantiza que los operadores no estén expuestos a la radiación dispersa bajo ninguna circunstancia.

6.El tamaño compacto permite instalarlo en un banco de laboratorio, sin necesidad de un entorno de laboratorio específico. Es simple de usar, operar y mantener.


Parámetro técnico

Modelo

AL - Y500

Potencia de funcionamiento

600W

Voltaje del tubo

15 - 40KV, 1KV/Paso

Corriente del tubo

5 - 15mA, 1mA/Paso

Tubo de rayos X

Tubo de cerámica metálica, objetivo de cobre (material del objetivo opcional)

Tamaño del punto focal

0,41×10mm/1×10mm (punto/línea intercambiables)

Estabilidad del voltaje y la corriente del tubo

≤0,01% (fluctuación del voltaje de la fuente de alimentación 10%)

Estructura del goniómetro

Muestra horizontal θs - θd

Radio del círculo de difracción

150mm

Rango de medición

- 3° ~ 150° cuando θs/θd está vinculado

Velocidad de escaneo continuo del eje θ

0,125 - 30°/min

Modo de trabajo

Fotografía segmentada/fija

Ángulo de paso mínimo

0,0001°

Repetibilidad del ángulo 2θ

≤±0,001°

Precisión de la medición

≤±0,02°

Detector

Detector de conteo de fotones individuales en forma de arco

Tamaño de píxel

70×70μm²

Tasa de conteo lineal máxima

3×10⁶cps/píxel

Resolución energética

380eV

Estabilidad integral del instrumento

≤0,2%

Medición de radiación dispersa

Protección de plomo + vidrio plomado, enclavamiento puerta-máquina, ≤0,2μSv/h

Dimensiones generales del host

770×520×880mm


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Equipo de difracción de rayos X de escritorio bidimensional AL-Y500 Instrumento de análisis XRD

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