Analizador Integrado XRD-XRF AL-Y3500xrdf Instrumento de Difracción de Rayos X Espectrómetro XRF
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Analizador Integrado XRD-XRF AL-Y3500xrdf Instrumento de Difracción de Rayos X Espectrómetro XRF
Descripción:
El instrumento AL-Y3500xrdf es un dispositivo analítico de alta gama que integra la tecnología de difracción de rayos X (XRD) y la tecnología de espectroscopía de rayos X (EDS). Se utiliza principalmente para el análisis de la composición elemental y la caracterización estructural de materiales. A través de una sola medición, puede obtener simultáneamente información clave como la composición elemental, la estructura cristalina, la composición de fase y el tamaño de grano del material. Se aplica ampliamente en campos como la ciencia de materiales, geología, física, química, biología, semiconductores, caracterización de catalizadores, análisis de matriz metálica y nanotecnología.
Características:
1.Integración eficiente: Una sola medición puede obtener
simultáneamente datos de difracción y espectroscopía, eliminando el
proceso de medición paso a paso tradicional que consume mucho
tiempo y es propenso a errores.
2. Alta sensibilidad y precisión: Utilizando detectores y
algoritmos avanzados, el límite de detección es tan bajo como el
nivel de ppm, y la precisión de la resolución estructural alcanza
el nivel atómico.
3. Expansión multifuncional: Varios accesorios funcionales
satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
Admiten varias formas de muestra (polvo, bloque, película, etc.),
son compatibles con entornos especiales como alta temperatura, baja
temperatura y alta presión, y están equipados con un sistema de
control de generador de rayos X de alta estabilidad para lograr una
precisión de medición repetida más estable.
4. Integración de hardware: Compartir la fuente de rayos X, la
platina de muestra y el sistema de control para garantizar la
sincronización de las trayectorias ópticas y la coincidencia de
señales de las dos tecnologías.
5. Fusión de datos: A través de software dedicado, los patrones de
difracción y los datos espectrales se analizan conjuntamente. Al
integrar la información de la estructura cristalina de la
difracción de rayos X (XRD) y los datos de composición elemental de
la espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF), se logra la
caracterización de la sustancia en todas las dimensiones.
6. La identificación de una o más fases cristalinas en muestras
desconocidas se puede llevar a cabo simultáneamente, y se pueden
analizar 40 elementos al mismo tiempo.
7. Utilizando múltiples colimadores y un sistema de rendija solar,
cuenta con tecnología de propiedad intelectual patentada.
8. Se lleva a cabo el análisis de la estructura cristalina
(análisis de la estructura de Rietveld), incluidos los parámetros
básicos, el método del coeficiente empírico, etc.
9. En condiciones no convencionales (como altas y bajas
temperaturas), la estructura cristalina puede cambiar, y se pueden
acomodar múltiples plataformas de muestra.
10. Análisis de muestras de película delgada, incluida la fase
cristalina de la película, el grosor de las películas multicapa, la
rugosidad de la superficie y la densidad de carga.
11. Análisis de muestras de microárea, textura de material metálico
y análisis de tensión.
Parámetro técnico
Potencia nominal | 3kW (tecnología de control de alto voltaje y alta frecuencia) |
Voltaje del tubo | 10 - 60kV |
Corriente del tubo | 5 - 50mA |
Tubo de rayos X | Tubo de cerámica metálica, materiales: Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc., potencia: 2.4kW |
Tamaño del punto focal | 1×10mm, 0.4×14mm, 2×12mm |
Estabilidad | ≤0.005% |
Rango de detección de elementos | Na (Sodio) ~ U (Uranio) |
Estructura del goniómetro | Muestra horizontal (θ - θ) |
Radio del círculo de difracción | 225mm (o personalizado según sea necesario: 185 - 325mm opcional) |
Grosor de detección | Grosor analizable de la capa de recubrimiento metálico 0.0025μm |
Rango de medición del contenido de elementos | 1PPM - 99.99% |
Rango de medición 2θ | - 110° ~ 168° |
Velocidad de escaneo | 0.0012° ~ 50°/min |
Velocidad de posicionamiento angular | 1500°/min |
Modo de escaneo | θ/s/θ/d enlace, acción única; continuo, escalonado, 0mg |
Ángulo de paso mínimo | 1/10000° |
Repetibilidad angular | 1/10000° |
Linealidad angular 2θ | La desviación angular de todos los picos dentro del rango espectral completo de las muestras estándar internacionales (Si, Al2O3) no excede ±0.01° |
Detector | Detector de centelleo (SC), detector de fotón único, detector de matriz de alta velocidad + detector de energía de alta resolución |
Tasa máxima de conteo lineal | 5×10⁵CPS (SC con función de compensación de conteo de desbordamiento), 3×10⁵CPS (fotón único), 9×10⁵CPS (matriz), 1.5×10⁵CPS (energía) |
Resolución de energía | ≤50% (SC), ≤200eV (fotón único), ≤25% (matriz), ≤140eV (energía) |
Modo de conteo | Modo diferencial o integral, PHA automático, corrección del tiempo muerto |
Estabilidad de la medición del sistema | ≤0.01% |
Dosis de radiación dispersa | ≤1μSv/h (excepto dispositivo de protección contra rayos X) |
Estabilidad integral del instrumento | ≤0.1% |
Dimensiones generales | 1320×1000×1800mm |
Analizador Integrado XRD-XRF AL-Y3500xrdf Instrumento de Difracción de Rayos X Espectrómetro XRF
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