Zócalo de prueba BGA de alto rendimiento Soluciones de prueba de circuitos integrados personalizadas
Número de modelo:Top abierto
Lugar de origen:PORCELANA
Cantidad mínima de pedido:1
Paso:≥0.3mm
Recuento de alfileres:2-2000+
Paquetes compatibles::BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
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Evaluación de proveedor
Shenzhen China
Dirección:
Planta 6, Edificio 4, Parque Industrial 10, GM Tianliao, distrito nuevo de Guangming, Shenzhen, RPC
Proveedor Último login veces:
Dentro de 27 Horas
Detalles del producto
Perfil de la compañía
Detalles del producto
Sockets de prueba BGA - Soluciones personalizadas para pruebas de circuitos integrados
- Amplio rango de sonido: 0,3 mm a 1,5 mm para todos los tipos de envases BGA
- Soporte de alta y baja temperatura: -55°C a +140°C (combustión y validación)
- Diseños múltiples: cubierta abierta, con caparazón, ATE, CT;
- Todas las necesidades de prueba: Incendio, pruebas funcionales, programación
- Persistente: más de 50.000 ciclos, alta fiabilidad
Personalización rápida- ¡Cuéntanos sus requisitos, obtén un enchufe de prueba perfecto!
Conector de prueba BGA personalizado: Especificaciones básicas
Propiedad | Parámetro | Valor típico |
Mecánica | Ciclos de inserción | Ciclos ≥ 30K ∼ 50K |
| Fuerza de contacto | 20-30 g/pin |
| Temperatura de funcionamiento | Comercial -40 ~ +125 |
| Las normas de seguridad | ± 0,01 mm |
Eléctrico | Resistencia de contacto | Se aplican las siguientes medidas: |
| Impedancia | 50Ω (± 5%) |
| En la actualidad | 1.5A ~ 3A |
Soluciones de enchufes de prueba BGA Pruebas de precisión para aplicaciones exigentes
Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestros enchufes de prueba BGA personalizados aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.
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Carro de la investigación
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