Microscopio Kerr de 250 Nm, efecto magnetoóptico Kerr de alta resolución

Términos de pago:T/T
Lugar de origen:PORCELANA
Nombre:Microscopio Kerr
Medidor de fuente eléctrica:Keithley 6221, Keithley 2182a
Campo magnético en el plano:1 T@Gap de aire 5 mm, 0.5 T@Gap de aire 10 mm;, 0.3 T@Gap de aire 16 mm
Objetivos:5x, 20x, 50x, 100x, no magnético
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Qingdao Shandong China
Dirección: 169 Zhuzhou Road, distrito de Laoshan, Qingdao, provincia de Shandong, China
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Detalles del producto

Microscopio Kerr magnético óptico multifuncional de prueba de giro

Modelo de producto:

KMPL-S

Descripción del equipo:

Este instrumento permite la obtención de imágenes de dominio magnético de alta resolución de materiales magnéticos y chips espintrónicos, con una resolución de hasta 250 nm.Está equipado con un sistema de control altamente inteligente y una estación de sonda de campo magnético multifuncional., integrando imágenes ópticas, campos magnéticos multidimensionales, caracterización de transporte eléctrico, pruebas de microondas y módulos de temperatura variable.puede observar la dinámica magnética bajo diversas condiciones de excitación, tales como campos magnéticos, corrientes, torque de giro en órbita y torque de transferencia de giro.Cuenta con campos magnéticos de respuesta rápida a nivel de microsegundos para mediciones de velocidad de dominio magnético y DMI de alta precisión.


Rendimiento del equipo
Resolución óptica:250 nm
Objetivos:5x, 20x, 50x, 100x, no magnético
Campo magnético en el plano:1 T@espacio de aire 5 mm; 0,5 T@espacio de aire 10 mm; 0,3 T@espacio de aire 16 mm
Campo magnético vertical:0.25 T@palo único
Resolución del campo magnéticoRegulación de retroalimentación de circuito cerrado PID, resolución 0,05 mT
El campo magnético vertical de pulso ultrarrápido de microsegundos60 mT, tiempo de elevación 0,5 μs, ancho de pulso 1 μs - 10 μs
Estación de sondaCompatible con 4-8 juegos de porta sondas no magnéticas
Medidor de fuente eléctrica- ¿Qué es esto?
Funciones de ensayoObservación dinámica del dominio magnético, mapeo de bucles de histeresis global/microrregional basado en señales de Kerr, medición de velocidad de pared del dominio, medición de DMl, resistencia anómala de Hall, conmutación SOT,Escaneo de circuito de histeresis IR con imágenes Kerr sincronizadas, y el mapeo de curvas de los cambios de la resistencia de Hall en dispositivos electrónicos bajo variaciones magnéticas y de corriente, junto con los correspondientes Kerrimages

Distribución del dominio magnético en películas finas

MgO ((substrato) /Co/PtMuestra**: Defectos magnéticos causados por el desajuste de la red entre el sustrato cristalino de MgO y Co.


Películas magnéticas de mala calidad**:Dominios magnéticos similares a copos de nieve durante la fisura de los magneti.


Películas magnéticas de alta calidad**Estructuras de dominio magnético uniformes con bordes lisos.


Caracterización de los parámetros intrínsecos magnéticos locales


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Microscopio Kerr de 250 Nm, efecto magnetoóptico Kerr de alta resolución

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