Microscopía de la fuerza atómica de la AFM multifunción Microscopio de la biología precisa
Número de modelo:Atomedge Pro
Lugar de origen:PORCELANA
Cantidad mínima de pedido:1
Términos de pago:T/T
nombre:Microscopía de fuerza atómica AFM
método de escaneo:XYZ Tres ejes de escaneo completo de muestras
Contacta
Add to Cart
Evaluación de proveedor
Qingdao Shandong China
Dirección:
169 Zhuzhou Road, distrito de Laoshan, Qingdao, provincia de Shandong, China
Proveedor Último login veces:
Dentro de 1 Horas
Detalles del producto
Perfil de la compañía
Detalles del producto
Microscopio de fuerza atómica multifuncional
Modelo de producto:
AtomEdge Pro es un juego de cartas.
Descripción del producto:
El microscopio de fuerza atómica multifuncional AtomEdge Pro puede realizar imágenes tridimensionales de material, dispositivos electrónicos, muestras biológicas, etc.Dispone de múltiples modos de trabajo como el contactoAdemás, integra múltiples modos funcionales, como la microscopía de fuerza magnética, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético, la microscopía de campo magnético y la microscopía de campo magnético.microscopía de fuerza electrostáticaAdemás, los módulos funcionales se pueden personalizar de manera flexible de acuerdo con las necesidades del usuario.proporcionar soluciones específicas para campos de investigación específicos y lograr una plataforma de detección eficiente con múltiples usos en una misma máquina.
Rendimiento del equipo:
| Tamaño de la muestra | 25 mm |
| Método de escaneo | Escaneo de muestra completa en tres ejes XYZ |
| Rango de exploración | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Velocidad de exploración | 0.1 a 30 Hz |
| Nivel de ruido en la dirección XY | 0.4 nm |
| Nivel de ruido en la dirección Z | 0.04 nm |
| No linealidad | 0.15% en la dirección xY y 1% en la dirección Z |
| Imagen Punto de muestreo | La resolución máxima de la imagen de la sonda de exploración es de 4096x4096 |
| Modo de trabajo | Modo de contacto, modo tap, modo de imagen de fase, modo de elevación, modo de escaneo multidireccional |
| Con una capacidad de producción de Medidas | Microscopio de fuerza electrostática (EFM), microscopio de escaneo Kelvin (KPFM), microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM), microscopio de fuerza magnética (MFM), curva de fuerza |
Casos de aplicación:
- Norma de calibración de la red
- Modo de exploración: medición de la topografía
- Rango de exploración: 25 μm * 25 μm
- Película de titanio - Película de titanato de aluminio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza de piezorespuesta (PFM)
- Rango de escaneo: 10 μm * 10 μm
- Película fina de sulfuro de vanadio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza electrostática (EFM)
- Rango de exploración: 5 μm * 5 μm
- Película fina de sulfuro de vanadio
- Modo de exploración: microscopía de fuerza de la sonda Kelvin (KPFM)
- Rango de exploración: 5 μm * 5 μm
- Película delgada de Co/Fe/B
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
- Rango de exploración: 25 μm * 25 μm
- Película delgada
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
- Rango de exploración: 30 μm * 30 μm
- Morfología de la hoja de electrodo rayado de Au-Ti
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de escaneo: 18 μm * 18 μm
- Al2O3 Morfología del bigote
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de exploración: 15 μm * 15 μm
- Morfología del polímero de resina epoxi
- Modo de escaneo: Modo de toque
- Rango de exploración: 7 μm * 7 μm
- Magnetismo de película delgada de Pt-Co
- Modo de escaneo: MFM (modo de elevación)
- Rango de exploración: 5 μm * 5 μm
- Película delgada de niobato de litio
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza de piezorespuesta (PFM)
- Rango de exploración: 35 μm * 35 μm
- Bacilos inmobilis
- Modo de exploración: medición de la topografía
- Rango de exploración: 3 μm * 3 μm
Microscopía de la fuerza atómica de la AFM multifunción Microscopio de la biología precisa
Carro de la investigación
0