enchufe de ensayo

Lugar de origen:Cantón, China
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Evaluación de proveedor
Dongguan China
Dirección: 5to. Piso, edificio 5, Valle de Yunchuang, ciudad de Fenggang, ciudad de Dongguan
Proveedor Último login veces: Dentro de 47 Horas
Detalles del producto Perfil de la compañía
Detalles del producto
Conector de prueba de IC
Comprensión de las tomas de prueba
Una toma de prueba es una toma de IC diseñada específicamente para medir las características eléctricas de los dispositivos semiconductores y verificar el cumplimiento de las especificaciones requeridas.Basado en los requisitos de la solicitud, las tomas de ensayo se clasifican generalmente en dos tipos principales:
  • Enchufes de ensayo funcional para líneas de producción en serie- Se utiliza en las etapas de post-procesamiento de la fabricación de semiconductores
  • Enlaces de evaluación características para las etapas de desarrollo- Se utiliza para evaluar el rendimiento de los primeros artículos o prototipos de dispositivos
Comparación entre el soquete de prueba y el soquete de incendio
A diferencia de las tomas de prueba,enchufes de combustión internaestán diseñados para ensayos acelerados de larga duración en condiciones de potencia para evaluar la durabilidad y fiabilidad del producto.Las tomas de combustión deben soportar ambientes de alta temperatura y generalmente se soldan directamente en las tablasPor el contrario, las tomas de prueba se utilizan en todos los procesos de producción en serie y cuentan con un montaje en superficie o fijado por tornillo para facilitar el mantenimiento y el reemplazo.
Soluciones de ensayo flexibles y semi-personalizadas
Nuestros enchufes y contactores de ensayo semi-personalizados ofrecen soluciones de ensayo adaptables y rentables adaptadas a sus requisitos específicos:
  • Soluciones para la fabricación de equipos y aparatos de ensayo
  • Diseños de base fácilmente adaptablespara cumplir con requisitos específicos
  • Soluciones de ensayo personalizadas rentables
  • Configuraciones múltiples:diseños de caparazón, de tapa abierta, de tapa abierta y de tapa separada
  • Apoyo paratamaños de dispositivos no estándar e irregulares
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