Analizador de espectro óptico de Ando AQ6317B 50GHz
Descripción de Ando AQ6317B
El AQ6317B es un analizador de espectro óptico avanzado para una
amplia gama de usos, incluyendo la evaluación de la fuente de luz,
la medida de las características de la longitud de onda de la
pérdida en dispositivos ópticos, y el análisis de forma de onda de
los sistemas del WDM (multiplexación de división de longitud de
onda).
Especialmente en la C-banda y la banda L, la unidad alcanza altas
exactitud de la longitud de onda y linearidades de la longitud de
onda, y puede evaluar los dispositivos ópticos para el WDM. Las
funciones del análisis hacen la operación y la capacidad de
expansión simples.
El AQ6317B contiene la última tecnología de Ando para los
analizadores de espectro ópticos. Un equipo de la referencia para
la siguiente generación.
En comparación con el modelo anterior, la exactitud de la longitud
de onda del AQ6317B se ha mejorado a ±20 P.M., y se especifica como
para la banda L también. Se mejoran las funciones del análisis de
la función del análisis del WDM y de la anchura de la muesca, y la
función de varios canales de la función del análisis del N-F y del
análisis de filtro óptico se añade nuevamente. Ha llegado a ser
mucho más fácil utilizar con otras mejoras, tales como barrido
acelerar.
Características:
- Amplio rango dinámico para las WDM-señales de 50 gigahertz: El
rango dinámico es 70 DB en ±0.4 máximo nanómetro, y DB 60 en ±0.2
máximo nanómetro.
- La medida de alta resolución alcanza el amplio rango dinámico con
el sistema del WDM del espaciamiento de 50 gigahertz.
- Alta exactitud de la longitud de onda: Proporciona exactitud de la
longitud de onda de ±0.02 nanómetro en 1520 a 1580 nanómetro, y
±0.04 nanómetro en 1580 a 1620 nanómetro, con las linearidades de
la longitud de onda de ±0.01 nanómetro, haciéndolo especialmente
útil para las características de alta precisión de la longitud de
onda de la pérdida y la otra evaluación de los dispositivos del
WDM.
- La escala de la longitud de onda indica ambos en aire y en vacío.
- Alta resolución de la longitud de onda: Alcanza la resolución de la
longitud de onda de 0,015 nanómetros.
- Funciones versátiles del análisis: Funciones del análisis para WDM
y otros dispositivos ópticos (LD, LED, FBG, etc.)
- Barrido síncrono: Conjuntamente con una fuente de láser
sintonizable AQ4321, mucho más arriba la resolución/el amplio rango
dinámico de la longitud de onda se puede alcanzar por barrido
síncrono de alta velocidad
- Alta sensibilidad: La alta sensibilidad permite la medida de la luz
en abajo al dBm -90, cubriendo a partir de 1200 a 1650 el
nanómetro.
- Dependencia baja de la polarización: Las medidas tales como aumento
del amplificador óptico pueden ser procedidas exactamente porque la
dependencia de la polarización se suprime tan bajo como DB ±0.05.
- Exactitud de alto nivel: Exacto dentro de DB ±0.3.
- Medida de poder más elevado: DBm del máximo +20 (100 mW)
- Incluso la salida de alta potencia de un amplificador óptico se
puede medir directamente sin un atenuador óptico.
- LCD color 9.4-inch
- La luz pulsada puede ser medida
- Tres memorias individuales del rastro
Especificaciones:
- Fibras aplicables: SMF, SOLDADO ENROLLADO EN EL EJÉRCITO (50/125
µm)
- Gama de longitud de onda de la medida: 600 a 1750 nanómetro)
- Exactitud de la longitud de onda: ±0.02 nanómetro (1520 a 1580
nanómetro, después de la calibración con fuente de luz incorporada
de la referencia); ±0.04 nanómetro (1580 a 1620 nanómetro, después
de la calibración con fuente de luz incorporada de la referencia);
±0.5 nanómetro (600 a 1750 nanómetro)
- Linearidades de la longitud de onda: ±0.01 nanómetro (1520 a 1580
nanómetro); ±0.02 nanómetro (1580 a 1620 nanómetro)
- Repetibilidad de la longitud de onda: ±0.005 nanómetro (1 minuto)
- Resolución de la longitud de onda: Resolución máxima: 0,015
nanómetros o mejor (1520 a 1620 nanómetro, ajuste de la resolución:
0,01 nanómetros)
- Ajuste de la resolución: 0,01, 0,02, 0,05, 0,1, 0,2, 0,5, 1,0, 2,0
nanómetro
- Exactitud de la resolución: ± el 5%: (1300 a 1650 nanómetro,
resolución: 0,05 nanómetros o más, corrección de la resolución: EN)
- Gama llana de la medida: -90 al dBm +20 (1200 a 1650 nanómetro,
sensibilidad: HIGH3); -80 al dBm +20 (1000 a 1200 nanómetro,
sensibilidad: HIGH3); -60 al dBm +20 (600 a 1000 nanómetro,
sensibilidad: HIGH3)
- Exactitud llana 2, 3) DB ±0.3 (1310/1550 nanómetro, entrada: -30
dBm, sensibilidad: HIGH1-3)
- Linearidades llanas: DB ±0.05 (entrada: +10 a -50 dBm,
sensibilidad: HIGH1-3)
- Llanura llana: DB ±0.1 (1520 a 1580 nanómetro), DB ±0.2 (1580 a
1620 nanómetro)
- Dependencia de la polarización: DB ±0.05 (1550/1600 nanómetro),
tipo del DB ±0.05. (1310 nanómetro)
- Rango dinámico: DB 60 (1523 nanómetro, ±0.2 máximo nanómetro,
resolución: 0,01 nanómetros); DB 70 (1523 nanómetro, ±0.4 máximo
nanómetro, resolución: 0,01 nanómetros); DB 45 (1523 nanómetro,
±0.2 máximo nanómetro, resolución: 0,1 nanómetros)
- Tiempo del barrido: Ms aproximadamente 500 (palmo: 100 nanómetro o
menos, sensibilidad: NORMA, CONTROL, avg.: 1, 501 muestras,
corrección de la resolución: APAGADO); Aproximadamente 0,5 minutos
(palmo: 100 nanómetro o menos, sensibilidad: HIGH2, avg: 1, 501
muestras, ninguna señal)
Función:
- Medida automática: Función del programa (20 programas, 200 pasos),
función a largo plazo de la medida
- Determinación de las condiciones de medición: Ajuste del palmo: 0 a
1200 nanómetro
- Ajuste de medición de la sensibilidad: HOLD/AUTO NORMAL, MEDIADOS
DE, HIGH1/2/3
- Número de hacer un promedio del ajuste: 1 a 1000 veces
- Ajuste del número de muestra: 11 a 20001, AUTO
- Función de determinación automática de las condiciones de medición
- función del Barrido-entre-marcador
- 0 funciones del barrido del nanómetro
- Función de la medida de la luz del pulso
- Aire/función de la medida de la longitud de onda del vacío
- TLS sincronizó la función de la medida
Exhibición del rastro:
- Ajuste llano de la escala: 0,1 a 10 dB/div, lineares
- Exhibición simultánea de 3 rastros independientes
- Máximo/exhibición mínima del control
- Rollo que hace un promedio de la exhibición
- exhibición de los Cálculo-entre-rastros
- Exhibición normalizada
- exhibición del Curva-ajuste
- exhibición 3D
- Exhibición partida
- Exhibición de la densidad de poder, % de la exhibición, exhibición
de dB/km
- Exhibición de la frecuencia de la escala horizontal del eje
Análisis de datos:
- Análisis de forma de onda del WDM (exhibición) de la lista de la
longitud de onda/Level/SNR, canal de fibra óptica de GAIN/NF del
análisis del amplificador (, solo/multi), análisis de PMD, análisis
de filtro óptico, análisis de DFB-LD, análisis de FP-LD, análisis
del LED, análisis de SMSR, búsqueda máxima, búsqueda inferior,
búsqueda espectral de la anchura, búsqueda de la anchura de la
muesca
- Marcador del delta (máximo 200), línea marcador (especificación de
la gama del análisis)
- Exhibición del gráfico del resultado a largo plazo de la medida
Otros:
- función de la calibración de la Uno mismo-longitud de onda (usando
fuente de luz incorporada de la referencia)
- Longitud de onda/función llana de la remuneración, función de la
etiqueta, función de ayuda
Memoria:
- FDD incorporado: 3,5 pulgadas 2HD
- Memoria interna: 32 rastros, 20 programas
- Formato de archivo: Fichero de rastro, fichero de programa, fichero
de la condición de medición, archivo de texto (rastro, datos del
análisis, etc.), archivo gráfico (BMP, tiff)
- Salida de datos: Impresora de alta velocidad incorporada de la
impresora
Interfaz:
- Teledirigido: Bus de interface de fines generales (2 puertos);
Interfaces de control de TLS (TTL)
- Entrada de disparador del barrido (TTL)
- La muestra permite la entrada (TTL)
- Entrada de disparador de la muestra (TTL)
- Salida analógica (0 a 5 V)
- Salida video (VGA)
- Exhibición: LCD color de 9,4 pulgadas (resolución: 640 x 480
puntos)
- Conector óptico: FC (estándar)
- Requisito de alimentación: V de la CA 100 a 120/200 a 240, 50/60
herzios
Condiciones ambientales:
- Temperatura de funcionamiento: ºC 5 a 40
- Temperatura de almacenamiento: ºC -10 a +50
- Humedad: Derecho del 80% o menos (ninguna condensación)
- Dimensiones y masa: Aproximadamente 425 (w) x 222 (h) x 450 (d)
milímetros
Usos:
Evaluación óptica del multiplexor
Conjuntamente con la fuente de láser sintonizable AQ4321, el
AQ6317B puede alcanzar la altos resolución/amplio rango dinámico de
la longitud de onda con la función síncrona de alta velocidad del
barrido, y la pérdida de inserción del resultado, pasó longitud de
onda y linearidades centrales como parámetro de la evaluación de
MUX/DEMUX óptico.
Evaluación de fibra óptica del amplificador (EDFA)
El método de la interpolación de ASE se utiliza para medir el
aumento y N-F, parámetros dominantes para la evaluación de fibra
óptica del amplificador.
Conjuntamente con el analizador óptico del amplificador de AQ8423Z,
el sistema puede medir exactamente aumento y el N-F con el método
del pulso, que es óptimo para la evaluación de los amplificadores
de fibra óptica del WDM.
Lista de opciones
Q1-222/R/M | MONTADO EN RACK |
FAQ:
¿1.Can usted orden de la nave a Canadá o a Australia?
Sí, podemos. Enviamos órdenes por todo el mundo.
2. ¿Qué método de la entrega usted utiliza? ¿y plazo de expedición?
Podemos enviar por el ccsme, DHL, Fedex, UPS, TNT con número de
seguimiento. Plazo de expedición usual es 4-7 días laborables.
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