Laboratorio del EMC

Nombre de la marca:Kinte
Precio:Price base on test requirement which should talk directly.
Number modelo:Laboratorio del EMC
Lugar del origen:Guangdong, China
Cantidad de orden mínima:1
Plazo de expedición:150 días
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Guangzhou Guangdong China
Dirección: Camino de No.16 Yufeng, ciudad de Shiling, distrito de Huadu, ciudad de Guangzhou, provincia de Guangdong
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Laboratorio del EMC

 

Parte I: Descripción

 

Este esquema se formula en términos de prueba de compatibilidad electromágnetica de los aparatos electrodomésticos.

Este esquema conducirá pruebas según estándares tales como CISPR 11, CISPR 16-1-4, IEC 61000-3-2, inmunidad del ANSI C63.4: IEC 61000-4-2, IEC 61000-4-3, IEC 61000-4-5, IEC 61000-4-6, IEC 61000-4-8 e IEC 61000-4-11.

 

II. requisito de la prueba

Medida del disturbio conducido, gama de frecuencia: 148.5kHz -30MHz

Medida del disturbio irradiado, gama de frecuencia: 30MHz-6GHz

Armónicos y medida del parpadeo basada en criterios: IEC 61000-3-2/3

Medida de la inmunidad al disturbio conducido basado en estándares:

1. IEC 61000-4-2: Prueba de la inmunidad de la descarga electrostática

2. IEC 61000-4-4: Prueba estallada transitoria rápida eléctrica de la inmunidad

3. IEC 61000-4-5: Prueba de la inmunidad de la oleada (impacto)

4.IEC 61000-4-6: Inmunidad a los disturbios conducidos inducidos por los campos de la radiofrecuencia

5. IEC 61000-4-8: Prueba de la inmunidad del campo magnético de la frecuencia del poder

6. IEC 61000-4-11: Inmersiones del voltaje, interrupciones cortas y pruebas de la inmunidad de las variaciones de los voltajes

IV. composición del sistema

El sistema entero del sistema de prueba de compatibilidad electromágnetica se compone de los subsistemas siguientes:

Sistema de prueba continuo de interferencia (conducción)

Sistema de prueba irradiado del disturbio

Sistema de prueba de inmunidad a los disturbios conducidos inducidos por los campos de la radiofrecuencia

Sistema de prueba de inmunidad al disturbio conducido transitorio

Armónicos y sistema de prueba del parpadeo

La introducción detallada de cada subsistema será referida en partido II.

 

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