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Cristal MC-306 32.768khz 3.8*8.0 12.5pf 20ppm del diapasón de Epson SMD
uso del producto
Sistemas del microprocesador
Productos electrónicos de consumo
características de producto
Gama de frecuencia ancha
Tamaño pequeño
Cinta y carrete
Flujo disponible
Condición ambiental estándar:
Temperatura ambiental: 15℃~35℃
Humedad: el 45%~85%
Presión atmosférica: 86~106KPa
Gama de temperaturas de funcionamiento: - 20℃~70℃
La frecuencia y la resistencia cristalinas serán probadas bajo condiciones siguientes,
A menos que requirments adicionales:
temperatura estándar (25±2℃) después de la balanza de calor.
Gama de temperaturas de almacenamiento: - 40℃~+85℃
Prueba mecánica:
La unidad del cristal de cuarzo será sujetada a las condiciones atmosféricas normales para 1hr antes de ser probada.
Prueba de caída:
Las unidades se miden para su frecuencia y resistencia de acuerdo con Table1 y sin daño mecánico, después de permitir que el cristal caiga libremente.
A partir del 75 cm de altura 3 veces en la madera consolidada.
Prueba de vibración:
Las unidades se miden para su frecuencia y resistencia de acuerdo con subjectiong mecánico del afer del daño de la tabla 1&without a 2hrs de la vibración con la amplitud de 0.75m m con barrido de frecuencia 10~55Hz 20 veces.
Tirantez del lacre
Prueba de la ventaja del hallazgo: ≤1×10-8atm·cc/S por el detector del masa-masa-espectrómetro del helio, y vacío y alcance 1×10-3Pa;
Resistencia al calor que suelda:
Las unidades se miden para su frecuencia y resistencia de acuerdo con el cuadro 1 después de sumergir en la soldadura fundida con la temperatura de 320℃±10℃; Por 3~4 secs y en una profundidad hasta un punto 2.0m m de la raíz baja.
Especificación de producto
Tipo | MC-306 | |
Gama de frecuencia (kilociclos) | 32.768KHZ | |
Tolerancia de la frecuencia (at25℃) | ±20PPm at25℃+/-2℃ | |
Estabilidad de la frecuencia contra los temporeros (FL-t) | -0.04×10-6/℃2 máximo | |
Gama de temperaturas de funcionamiento | -20~+70℃ -40~+85℃ | |
Gama de temperaturas de almacenamiento | -45~+80℃ | |
Características de la temperatura | ±20PPm | |
Capacitancia de la carga | 8 a 20 PF o Serles | |
Envejecimiento | ±3 PPM/año | |
Resistencia de aislamiento | 500MΩ (DC100V±15V) |
Dimensión
Examen de Refluence
Cambio de la frecuencia: ≤±5ppm
Choque de la temperatura:
Las unidades se miden para su frecuencia y resistencia del acuerdo
con el cuadro 1.
FAQ
El embalar
Las muestras y el soporte técnico se pueden proporcionar gratuitamente.