Instrumento de Orientación de Cristal de Rayos X para Alineación del Plano de Referencia

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Descripción general del producto:


Este instrumento de orientación de cristales por rayos X está diseñado para la alineación de alta precisión del plano de referencia de varillas de cristal único utilizando tecnología de difracción de rayos X. Es capaz de alinear el plano cristalográfico primario (comúnmente la cara ) para varillas con diámetros de 2, 4 y 6 pulgadas. El sistema admite orientaciones estándar y personalizadas, como los planos C o R, lo que lo hace adecuado para diversas aplicaciones de procesamiento de semiconductores y cristales.


Características principales:

  • Plataforma de referencia estable:
    La máquina cuenta con una plataforma base rígida fijada a la estructura principal, que sirve como referencia horizontal durante la medición. El lado derecho de la plataforma está diseñado para el posicionamiento, mientras que el lado izquierdo incluye un mecanismo de sujeción con cierre de rosca para sujetar el accesorio y el cristal de forma segura en su lugar.

  • Orientación precisa del plano :
    El sistema permite una alineación precisa de la cara de referencia , con un ángulo θ estándar de 18,917° (18°55′00″). Se pueden configurar orientaciones alternativas a petición para adaptarse a diferentes direcciones cristalográficas.

  • Operación fácil de usar:

    • Calibración del instrumento: Realizada utilizando una varilla de cristal estándar para garantizar una alineación angular fiable.

    • Posicionamiento y escaneo: Después de la limpieza, el accesorio se coloca en la plataforma y se ajusta hasta que el haz de rayos X irradia la superficie cilíndrica.

    • Detección de picos: La varilla se gira lentamente bajo la exposición a rayos X. Cuando el medidor μA alcanza su lectura máxima, el cristal está correctamente alineado y bloqueado en su lugar.

    • Preparación para el rectificado: El cristal alineado se puede retirar y transferir directamente a una rectificadora para el procesamiento de la superficie.

  • Ajuste vertical automático:
    Admite la funcionalidad de elevación automática para un ajuste de altura conveniente durante el proceso de medición.


Especificaciones técnicas:


ArtículoEspecificación
Fuente de alimentaciónCA 220 V, 50 Hz, monofásica, 0,25 kW
Tubo de rayos XObjetivo de cobre, refrigerado por ventilador, ánodo conectado a tierra
Voltaje/corriente máxima del tubo30 kV / 5 mA (ajustable continuamente)
Límite de corriente recomendado≤ 2,0 mA (para evitar daños y riesgos de radiación)
Tipo de detectorContador (máx. CC 1000 V) o detector de centelleo (máx. CC 1200 V)
Constantes de tiempo2 niveles: Rápido (1) / Lento (2)
Ángulo de orientación (θ)18,917° (18°55′00″)
Obturador de rayos XAutomático
PantallaMedidor de intensidad de radiación
Dimensiones de la máquina (L×A×A)1132 × 642 × 1460 mm
Peso netoAprox. 200 kg

Aplicaciones:


Este sistema de orientación por rayos X es ideal para su uso en la fabricación de cristales semiconductores, incluidos silicio, zafiro y materiales compuestos, donde se requiere una alineación cristalográfica precisa antes del corte de obleas o el procesamiento de la superficie. También es compatible con la investigación y el desarrollo en ciencia de materiales e ingeniería de cristales.


Preguntas y respuestas – Preguntas frecuentes

P1: ¿Qué tipos de cristales son compatibles con este instrumento de orientación por rayos X?
A1: El instrumento es compatible con una variedad de materiales de cristal único como silicio, zafiro, SiC (carburo de silicio), GaN y otros semiconductores compuestos. Admite diámetros de varilla de 2, 4 y 6 pulgadas.


P2: ¿Puede el instrumento medir orientaciones de cristal distintas del plano ?
A2: Sí, además del plano de referencia (θ = 18,917°), el sistema se puede configurar para medir otras direcciones cristalográficas, como el eje C o el eje R, de acuerdo con los requisitos del cliente.


P3: ¿Cómo se calibra el instrumento?
A3: La calibración se realiza utilizando una varilla de cristal estándar certificada. Esto garantiza la precisión angular y la repetibilidad del sistema antes de procesar muestras de producción.


P4: ¿El proceso de medición es automático o manual?
A4: El sistema combina la colocación y el ajuste manuales con funciones automatizadas, incluido el control automático del obturador y la elevación vertical, para simplificar la operación y mejorar la eficiencia.


P5: ¿Qué medidas de seguridad se incluyen para manejar la radiación de rayos X?
A5: El instrumento utiliza un tubo de rayos X de baja potencia e incluye medidas de blindaje para minimizar la exposición. Los usuarios siempre deben operar el equipo siguiendo los protocolos de seguridad radiológica estándar y evitar exceder el límite de corriente recomendado de 2,0 mA.


P6: ¿Qué mantenimiento se requiere para el uso a largo plazo?
A6: Es fundamental la limpieza regular del accesorio y la plataforma. También se recomienda la inspección periódica del tubo de rayos X, los detectores y las conexiones eléctricas. La vida útil del tubo de rayos X se puede extender operando dentro del rango de corriente seguro.


P7: ¿Se puede utilizar el instrumento en un entorno de sala blanca?
A7: Sí, el diseño compacto y la estructura cerrada lo hacen adecuado para aplicaciones de sala blanca, siempre que se observen la manipulación y el mantenimiento adecuados.


P8: ¿Hay personalización disponible para diferentes tamaños de cristal u orientaciones?
A8: Sí, el sistema se puede personalizar para admitir diferentes tamaños de cristal, diseños de accesorios especializados o ángulos de orientación no estándar a petición.

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