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Microscopio metalúrgico de Digitaces del sistema óptico del infinito con la iluminación de DIC y del LED
¿Cuál es contraste diferenciado (DIC) de interferencia?
La microscopia diferenciada de (DIC) del contraste de interferencia, también conocida como el contraste (NIC) de interferencia de Nomarski o microscopia de Nomarski, es una técnica óptica de la microscopia usada para aumentar el contraste en muestras sin manchas, transparentes.
DIC trabaja en el principio de interferometría para ganar la información sobre la longitud de trayectoria óptica de la muestra, para ver características de otra manera invisibles.
Un sistema óptico relativamente complejo produce una imagen con el objeto que aparece negro al blanco en un fondo gris. Esta imagen es similar a ésa obtenida por microscopia del contraste de la fase pero sin el halo brillante de la difracción. La técnica fue desarrollada por el físico polaco Jorte Nomarski en 1952.
Características:
el microscopio diferenciado del contraste del interfaz de la luz reflejada de iMet-230MDIC es una alta tarifa del precio de la capacidad que examina el instrumento óptico.
iMet-230MDIC adopta el sistema excelente de la óptica del infinito, iluminación incorporada del alto brillo LED, él se proporciona la función diferenciada de la observación del contraste del interfaz.
Trinocular/el cuerpo óptico de la fotografía, refleja la reducción del ture de la representación visual observa, fotografía digital e integración de la tecnología de la microscopia, la imagen observada del interfaz tiene un sentido más fuerte de 3D.
iMet-230MDIC es conveniente para la observación microscópica de la morfología de la superficie material no transparante, tal como morfología microscópica de las partículas conductoras del LCD, él es los instrumentos ideales en la inspección de la calidad, análisis estructural de la fabricación de la precisión.
Los microscopios metalúrgicos proporcionan la polarización que hace mucho más fácil ver una variedad de minerales, tipos de metales e incluso muestras de la tinta. El análisis de defecto material se realiza con un microscopio metalúrgico en busca de las causas de la corrosión, del cansancio, de las fracturas de tensión y de las grietas. La protección del medio ambiente y la producción petrolífera utilizan a menudo los microscopios metalúrgicos y particularmente pueden utilizar las altas características de la ampliación y de la polarización de los microscopios metalúrgicos.
Datos técnicos:
Parámetros principales | Ampliación total | 100X (el estándar configura) | ||||
Longitud de tubo mecánica | ∞ | |||||
Distancia conyugal del objetivo | ∞ | |||||
Ocular | ocular del plan del Ancho-campo | WF 10X | número del campo visual Ф22mm | Interfaz del ocular Ф30mm | Distancia de Parfocal 10m m | |
Trinocular | Ángulo de observación de 30° con el puerto de la fotografía, 8:2 de la tarifa del spectro (ocular: fotografía) | |||||
objetivo acromático del plan Tensión-libre | Ampliación | Abertura numérica | Distancia de funcionamiento (milímetro) | Grueso del vidrio de cubierta (milímetro) | Observaciones | |
10X | 0,25 | 20,2 | - | |||
Analizador | Inserte el tipo, puede ser interruptor libremente, la dirección de la polarización ha preestablecido, ningún uso para ajustan | |||||
Polarizador | Inserte el tipo, puede ser interruptor libremente, 360°rotatable | |||||
Resbalador de DIC | Resbalador de DIC que hace juego 5X/10X/20X el objetivo, ajustable horizontal | |||||
Etapa X-Y | etapa del mecanismo de la capa doble, tamaño: 180 x 145m m, gama móvil: 35X 30 milímetros (de X-Y) | |||||
Distancia vertical de la disponibilidad | Distancia disponible 133m m, grueso máximo del sistema del foco del espécimen de observación hasta 130m m. | |||||
sistema del foco | Sistema grueso/fino coaxial del foco, división mínima de concentración de la multa: los 2μm | |||||
Iluminación | Iluminación coaxial usando el alto brillo LED blanco. Brillo ajustable | |||||
Alimentación principal sullpy | CA: 85V~265V 50/60Hz, especificación del fusible: 250V 3.0A | |||||
Accesorio (opcional) | Objetivo | objetivo acromático del plan tensión-libre 20X, NA: 0,40, distancia de funcionamiento: 8.0m m | ||||
Cámara digital | 130, 300, 500, pixeles 1000mega, con software de análisis de imagen. |