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B2inch GaN-EN-GaN las obleas verdes azules del epi Micro-LED en los substratos libres de GaN
2inch GaN-EN-GaN las obleas del PIN en los substratos libres de GaN
GaN en GaN
En un GaN en GaN GaN vertical, no hay substratos unidos mal y ningunos de los problemas asociados a la construcción acodada.
La solución vertical de GaN tiene una velocidad que cambia superior. Las velocidades que cambian crecientes reducen el tamaño de los inductores y de los condensadores. Esto da lugar a fuentes de alimentación minúsculas, eficientes.
Alrededor GaN-en-GaN característica introduzca
Los dispositivos de poder verticales de GaN tienen el potencial
para revolucionar la industria del dispositivo de poder,
especialmente en usos con requisitos de alto voltaje, tales como
dispositivos verticales de GaN sobre 600 V. dependiendo de las
propiedades físicas del material, los dispositivos de GaN tienen
en-resistencia más baja en un voltaje de avería dado que los
dispositivos de poder silicio-basados tradicionales y los
dispositivos de poder puros emergentes del carburo de silicio. Los
dispositivos de poder horizontales de GaN, es decir altos
transistores de la movilidad del GaN-en-silicio (HEMTs), compiten
con los dispositivos del silicio en el mercado de baja tensión, y
GaN es superior, que también prueba la superioridad de los
materiales de GaN.
Se espera que los dispositivos de poder verticales de GaN compitan
con los dispositivos de poder puros del carburo de silicio en el
mercado de alto voltaje. En los primeros dos años, sic los
dispositivos han ganado cierta cuota de mercado en el mercado de
alto voltaje del uso, y algunas compañías han ampliado la
producción de 6 pulgadas y de 8 pulgadas sic. En cambio, los
dispositivos verticales de GaN no son todavía disponibles en el
comercio, y muy pocos proveedores pueden crecer 4 obleas de GaN de
la pulgada de diámetro. El aumento de la fuente de las obleas de
alta calidad de GaN es crítico al desarrollo de los dispositivos
verticales de GaN.
Los dispositivos de poder de alto voltaje hicieron del nitruro del
galio tienen tres ventajas potenciales:
1. Bajo voltaje de avería dado, la en-resistencia teórica es un
orden de magnitud más pequeño. Por lo tanto, menos poder se pierde
adentro polariza hacia adelante y el rendimiento energético es más
alto.
En segundo lugar, bajo el voltaje y en-resistencia dados de avería,
el tamaño del dispositivo fabricado es más pequeño. Cuanto más
pequeño es el tamaño del dispositivo, más los dispositivos se
pueden hacer de una sola oblea, que reduce el coste. Además, la
mayoría de los usos requieren microprocesadores más pequeños.
3. el nitruro del galio tiene una ventaja en la frecuencia de
funcionamiento máxima del dispositivo, y la frecuencia es
determinada por las propiedades materiales y el diseño del
dispositivo. La frecuencia más alta del carburo de silicio está
generalmente sobre 1MHz o menos, mientras que los dispositivos de
poder hicieron del nitruro del galio pueden trabajar en frecuencias
más altas, tales como diez de megaciclo. El funcionamiento en
frecuencias más altas es beneficioso para reducir el tamaño de
componentes pasivos, de tal modo reduciendo el tamaño, el peso y el
coste del sistema de conversión de poder.
Los dispositivos verticales de GaN todavía están en la etapa de la
investigación y desarrollo, y la industria todavía no ha alcanzado
un consenso en la estructura del dispositivo de poder vertical
óptimo de GaN. Las tres estructuras del dispositivo de la corriente
principal incluyen el transistor vertical del electrón de la
abertura actual (CAVET), el transistor de efecto de campo del foso
(FET del foso) y el transistor de efecto de campo de la aleta (FET
de la aleta). Todas las estructuras del dispositivo contienen una
capa N-dopada baja como la capa de la deriva. Esta capa es muy
importante porque el grueso de la capa de la deriva determina el
voltaje de avería del dispositivo. Además, la concentración del
electrón desempeña un papel en la realización de la en-resistencia
más baja teórica. papel importante.
Especificaciones para GaN-en-GaN/zafiro/sic/substratos de silicio para cada grado
Substratos | N-tipo libre (Si-dopado) GaN |
Artículo | 2inch GaN-EN-GaN las obleas verdes azules del epi Micro-LED |
Tamaño de las dimensiones | ± 0.3m m de Ф 50.0m m |
Grueso del substrato | 400 µm del ± 30 |
Orientación del substrato | C-AXIS (0001) hacia M-AXIS 0.55± 0.15° |
Polaco | SSP o DSP |
ARCO | <50um after="" epi-growth=""> |
Estructura de Epilyaer | 0.2um pGaN/0.5UM MQWs/2.5um nGaN/FS-GaN |
Epi thickness/STD | 3.0±0.5um/<2> |
Aspereza | <0> |
Densidad de Discolation | <1x107cm-2> |
Longitud de onda std | 465±10um/<1> |
Longitud de onda FWHMs | <20nm for="" Blue="" LED=""> |
Funcionamiento del microprocesador (basado en su tecnología del microprocesador, antes para del refernece, tamaño <100um> | Parámetro para el LED azul: Pico EQE: El >35%, Vfin@1uA:2 .3~2.5V; Vr@-10uA: >40V, Ir@-15V,<0> el 95%; |
Parámetro para el LED verde: Pico EQE: El >25%, Vfin@1uA:2 .2~2.4V; Vr@-10uA: >25V, Ir@-15V,<0> el 95%; | |
Particels (>20um) | <5pcs> |
Área usable | Nivel P el >90%; R el level>80%: El Dlevel>70% (borde y exclusión macra de los defectos) |
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