Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash
Number modelo:HD-512-NAND
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1set
Condiciones de pago:L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente:150 sistemas/meses
Plazo de expedición:30 días después de la orden
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Dongguan Guangdong China
Dirección:
Sitio 105, edificio F4, distrito F, ciudad de Tianan Digital, distrito de Nancheng, ciudad de Dongguan, provincia de Guangdong, China
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Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash
especificación de producto
El sistema de prueba inteligente del microprocesador de memoria Flash HD-512-NAND es un sistema de prueba completo de memoria Flash que puede modificar el plan de prueba para requisitos particulares y apoyar la prueba paralela de diversos tipos de partículas de memoria Flash. 64 tipos, el número máximo de prueba de las partículas de memoria Flash paralelamente pueden alcanzar 512.
El sistema de prueba inteligente del microprocesador de memoria Flash YC-512-NAND apoya modelos de prueba múltiples y funciones de encargo del parámetro de la prueba, y puede proveer de proceso básico de la prueba del uno-tecleo y de proceso de alto nivel de la prueba alta flexibilidad, no sólo puede realizar la vida restante de las partículas de memoria Flash, medida real, retención de los datos y leer interferencia y otras pruebas funcionales puede también ayudar a usuarios a verificar la situación de la confiabilidad de las partículas de memoria Flash. Después de que se termine la prueba, el informe de prueba se puede exportar fácilmente y rápidamente con una llave, proveyendo de clientes los datos de prueba gráficos más intuitivos y más exactos. Proporcione la referencia de datos más intuitiva para la clasificación del grado y el uso de las partículas de memoria Flash, y realice la clasificación inteligente basada en los resultados de la inspección de la calidad de las partículas de memoria Flash.
El ※ la base de la prueba cumple con el soporte No.218 de JEDEC: Requisitos de la impulsión de la asociación B-2016 de la tecnología (SSD) y prueba de resistencia de estado sólido de estado sólido Motho;
El ※ la base de la prueba cumple con JEDEC No.47 estándar NVCE: Calificación Tensión-Prueba-conducida asociación de estado sólido de la tecnología de circuitos integrados;
El ※ las especificaciones del diseño del tablero de prueba cumple los requisitos del ambiente de la temperatura de la prueba del industrial-grado;
Información
| Tamaño interno de la caja | W760×D400×H890mm |
| Tamaño externo de la caja | W1870×D890×H1830mm |
| volumen | 270L |
| Método de apertura | Sola puerta (derecha ábrase) |
| cámara de enfriamiento | refrigerado |
| peso | sobre 950KG |
| fuente de alimentación | CA 380V cerca de 7,5 kilovatios |
Parámetro de la temperatura
| gama de temperaturas | -70℃~150℃ |
| Fluctuación de la temperatura | ≤±0.5℃ ≤±1℃ |
| compensación de la temperatura | ≤±2℃ |
| resolución de la temperatura | 0.01℃ |
| Velocidad de calentamiento | 5℃/min (enfriamiento mecánico, bajo carga estándar) |
| tarifa del cambio de temperatura | La temperatura alta puede resolver ajustable no lineal 5℃~8℃/min (medido en el mercado de aire, la refrigeración mecánica, bajo carga estándar), baja temperatura puede resolver 0℃~2℃/min no lineal Ajustable (medido en el mercado de aire, enfriamiento mecánico, bajo carga normal) |
| uniformidad de la temperatura | ≤±2℃ |
| carga estándar | 10KG bloque de aluminio, carga 500W; |
Estándar de la prueba
Equipo de prueba de la temperatura GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos de prueba AB de la baja temperatura.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGOS des alta temperatura del método de prueba.
Método de prueba de alta temperatura GJBl50.3 (MIL-STD-810D).
Método de prueba de la baja temperatura GJBl50.4 (MIL-STD-810D). |
Sistema de control
| Exhibición | Pantalla LCD color |
| Modo de operación | Modo de programa, modo del valor fijo |
| Ajuste | Menú chino e inglés (opcional), entrada de la pantalla táctil |
| Determinación de la gama | Temperatura: Ajuste según la gama del funcionamiento de la temperatura del equipo (límite superior +5°C, un límite más bajo -5°C) |
resolución de pantalla | Temperatura: 0.01°C Tiempo: 0.01min |
método de control | BTC equilibró el método + DCC (control de enfriamiento inteligente) del control de la temperatura + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de prueba de la temperatura) BTHC equilibró temperatura y método de control de humedad + DCC (control de enfriamiento inteligente) + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de la temperatura y de prueba de la humedad) |
Función del expediente de la curva | Tiene PEGAR con la protección de la batería, que puede ahorrar el valor determinado, muestreando valor y muestreando la época del dispositivo; el tiempo de registración máximo es 350 días (cuando el período de muestreo es 1.5min) |
Función accesoria | Critique la alarma y la causa, procesando la función pronto Función de la protección del poder-apagado Función superior y más baja de la protección de la temperatura límite Función de temporización del calendario (el comienzo y automáticos automáticos paran la operación) función del autoexamen |
Cámara de envejecimiento acelerada temperatura completa del cielo y tierra del sistema de prueba de memoria Flash
Carro de la investigación
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