Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD
Número de modelo:HXRF-450S
Lugar de origen:China
Cantidad Mínima de Pedido:1 pieza
Condiciones de pago:T/t, PayPal
Capacidad de suministro:5sets/month
Tiempo de entrega:10-15 días laborables después del recibo de su pago
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Beijing Beijing China
Dirección:
7 º piso del Edificio B Chengyuan, la mitad. Camino de Jiancaicheng Dist.BeiJing Haidian, China 100096
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Detalles del producto
Perfil de la compañía
Detalles del producto
HXRF-450S Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por
Fluorescencia de Rayos X
Especificaciones del Producto
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - uranio (U) |
| Detector | SDD |
| Tiempo de prueba | 10-40s |
| Corriente del tubo | 0-1mA (Controlado por programa) |
| Alta presión | 0-50kV (Controlado por programa) |
| Ampliación | Óptica: 40-60× |
| Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
Descripción general del producto
El Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por Fluorescencia de Rayos X HXRF-450S es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimientos y el análisis de materiales en diversas industrias.
Condiciones de trabajo
- Temperatura de funcionamiento: 15-30℃
- Humedad relativa: 40%~50%
- Fuente de alimentación: CA: 220V ± 5V
Rendimiento técnico
- Excelente estabilidad a largo plazo con mínimos requisitos de calibración
- No se necesita preparación de muestras para sistemas de recubrimiento, muestras sólidas o líquidas
- Rendimiento integral que incluye análisis de recubrimientos, análisis cualitativo/cuantitativo, análisis de baños y funciones estadísticas
Aplicaciones
Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, revestimientos funcionales, piezas decorativas, conectores, terminales, sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.
Características de seguridad
- Interfaz de usuario sencilla con autorización limitada del operador
- Capacidades de mantenimiento del supervisor
- Registros automáticos de uso del operador
- Bloqueo automático para la prevención de operaciones no autorizadas
- Sensor de puerta de la cámara de muestras
- Luz de advertencia de rayos X
- Botones de seguridad del panel frontal
Características principales
- Mide hasta 5 capas (4 recubrimientos + sustrato) simultáneamente
- Analiza 15 elementos con corrección automática de la línea espectral
- Alta precisión de medición (hasta μin) con excelente estabilidad
- Medición rápida no destructiva (tan rápido como 10s)
- Analiza sólidos y soluciones con capacidades cualitativas, semi-cuantitativas y cuantitativas
- Identificación y detección de clasificación de materiales
- Estadísticas de datos completas (promedio, desviación estándar, etc.)
- Múltiples opciones de salida (impresión, PDF, Excel) con informes completos
- Vista previa de la posición de medición con aumento óptico de 30×
- Servicio y soporte técnico global
Parámetros técnicos
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - uranio (U) |
| Detector | SDD |
| Tipos de colimador | Orificio único fijo (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm) |
| Sistema de trayectoria óptica | Irradiación vertical |
| Ampliación | Óptica: 40-60× |
| Modos de visualización | Espectro elemental, patrón de etiqueta, elementos y valores de medición |
| Cámara | Cámara industrial de alta definición con aumento local |
| Aplicaciones | Recubrimiento único/doble, recubrimiento de aleación, solución de galvanoplastia |
| Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
| Comunicación | Transmisión USB de alta velocidad |
| Dimensiones | 555*573*573mm (cavidad de 410*478*245mm) |
| Fuente de rayos X | Tubo de luz de microenfoque de alta precisión (objetivo W) |
| Características del software | Algoritmo FP, diagnóstico/corrección automática de fallas, compensación automática |
Configuración estándar
Detector de semiconductores SDD
- Detector de semiconductores SDD refrigerado eléctricamente
- Resolución: 129 ± 5 EV
- Módulo de circuito de amplificación para la detección de rayos X característicos de la muestra
Dispositivo de excitación de rayos X
- Salida máxima de corriente del filamento: 1mA
- Componente de semi-pérdida, 50W, refrigeración por aire
Transmisor de alta presión
- Salida de voltaje máxima: 50kV
- Ajuste controlable mínimo de 5kV
- Protección contra sobrecarga de voltaje incorporada
Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD
Carro de la investigación
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