500 grupos máximos de los datos de la memoria de Leeb de la dureza del probador Usb1.1 del interfaz de comunicaciones

Número de modelo:LYMH310
Lugar del origen:DONGGUAN, CHINA
Cantidad de orden mínima:1 pedazo
Condiciones de pago:T/T, L/C, D/A, D/P, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente:100 piezas al mes
Plazo de expedición:15 días después de receving el depósito
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Dongguan Guangdong China
Dirección: Edificio 74, 96 de la calle Kechuang, Centro de Innovación Lianke, distrito de Nancheng, Dongguan, Guangdong, China.
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500 grupos máximos de los datos de la memoria de Leeb de la dureza del probador Usb1.1 del interfaz de comunicaciones

 

El probador de la dureza de Leeb según el principio de medida de la dureza de Leeb puede estar fácilmente y rápidamente 

mida una variedad de materiales del metal, y exhiba inmediatamente el valor de la dureza medida. Y puede 

convierta rápidamente el valor de la dureza en diversas escalas de la dureza.

 

El error y la repetibilidad del valor exhibido consideran Table1-1 abajo.

 

Cuadro 1-1

 

No.

Tipo de dispositivo del impacto

Valor de la dureza del estándar de Leeb 

bloque de la dureza

Error de valor exhibido

Repetibilidad

1

D

760±30HLD

530±40HLD

±6 HLD

±10 HLD

6 HLD

10 HLD

2

DC

760±30HLDC

530±40HLDC

±6 HLDC

±10 HLDC

6 HLD

10 HLD

3

DL

878±30HLDL

736±40HLDL

±12 HLDL

12 HLDL

4

D+15

766±30HLD+15

544±40HLD+15

±12 HLD+15

12 HLD+15

5

G

590±40HLG 

500±40HLG 

±12 HLG 

12 HLG

6

E

725±30HLE

508±40HLE

±12 HLE

12 HLE

7

C

822±30HLC

590±40HLC

±12 HLC

12 HLC

 

1. Gama de medición: HLD (170~960) HLD

2. Dirección de medición: escala 0°~360°Hardness: HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS

3. Exhibición: segmento LCD

4. Memoria de los datos: 500grupos delmáximo(en relación contiempos delimpacto32~1)

5. Papel de imprenta: la anchura es (57.5±0.5) milímetro, diámetro es 30m m.

6. Batería: 6V NI-MH

7. Cargador de batería: 9V/500mA

8. Período de trabajo continuo: cerca de 150 horas (con el contraluz apagado, ninguna impresión)

9. Interfaz de comunicaciones: USB1.1

 

Uso principal:

 

1. Muere la cavidad de moldes

2. Transportes y otras piezas

3. Análisis del fracaso del recipiente del reactor, del generador de vapor y del otro equipo

4. Pedazo del trabajo pesado

5.  La maquinaria instalada y las piezas permanentemente montadas

6. Superficie de la prueba de un pequeño espacio hueco

7. Identificación material en el almacén de materiales metálicos

8. Prueba rápida en gama grande y áreas de multi-medición para el pedazo en grande del trabajo

 

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