Cámara de envejecimiento acelerada temperatura modificada para requisitos particulares máquina del cielo y tierra de la prueba ambiental

Number modelo:HD-64-NVME
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1set
Condiciones de pago:L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente:150 sistemas/meses
Plazo de expedición:15 días después de la orden
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Dongguan Guangdong China
Dirección: Sitio 105, edificio F4, distrito F, ciudad de Tianan Digital, distrito de Nancheng, ciudad de Dongguan, provincia de Guangdong, China
Proveedor Último login veces: Dentro de 48 Horas
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Detalles del producto

Cámara de envejecimiento acelerada temperatura modificada para requisitos particulares máquina del cielo y tierra de la prueba ambiental

 

Característica

  • Arreglo para requisitos particulares de la ayuda del número de microprocesadores de la prueba de PCIE, tales como 32 microprocesadores, 36 microprocesadores, 64 microprocesadores, 96 microprocesadores, 156 microprocesadores, 216 microprocesadores, etc.;
  • Investigación y desarrollo de la ayuda del arreglo para requisitos particulares microminiatura, tal como 4 pedazos, 8 pedazos, etc.
  • Prueba de la ayuda (- 70°~+ 180°)
  • Prueba anormal del apagón de la ayuda y prueba de envejecimiento
  • Prueba automatizada ayuda del control de la temperatura;
  • Apoye todas las pruebas de control inteligentes con software;
  • Arreglo para requisitos particulares de la ayuda del software de la prueba;
  • Apoye el equilibrio de la velocidad y de la temperatura del viento en la caja;
  • Calefacción rápida de la ayuda y control de enfriamiento;
  • Investigación y desarrollo modificada para requisitos particulares ayuda del envejecimiento de PCIE;
  • Control de red de la ayuda, usted puede controlar la prueba en diversos lugares y ver los resultados de la prueba;
  • Prueba teledirigida del APP de la ayuda;

El sistema de prueba entero de máquina incluye principalmente la caja de la temperatura del cielo y tierra, consejo principal de la PC, tablero del P.M., tablero de microprocesador, tablero de FPGA, los útiles del producto, PC de la PRUEBA del almacén y software posterior de la prueba, etc. La partición del hardware.

 

Descripción de sistema inteligente de prueba del SSD

El sistema de prueba inteligente de SSD adopta la plataforma del sistema operativo Win10, con el modo abierto de la escritura, la temperatura de la caja de la temperatura del cielo y tierra y los artículos de la prueba de los productos de PCIE se pueden modificar arbitrariamente, y la transmisión de datos se realiza a través del sistema de LINUX y del interruptor de red para realizar la operación del uno-botón, control conectado, trabajo de ahorro, realizando la gestión de datos inteligente, y permanentemente conservando resultados de la prueba.

 

Información

modelo del productoHD-64-PCIE
Tamaño interno de la cajaW620×D450×H1100mm
Tamaño externo de la caja约 W1640×D1465×H1875mm (máquina integrada))
Volumen interno de la caja460L
Método de aperturaSola puerta (derecha ábrase)
cámara de enfriamientorefrigerado
pesosobre 900KG
fuente de alimentaciónCA 220V cerca de 6,5 kilovatios

 

Parámetro de la temperatura

gama de temperaturas-5℃~100℃
Fluctuación de la temperatura

≤±0.5℃

≤±1℃

compensación de la temperatura≤±2℃
resolución de la temperatura0.01℃
Velocidad de calentamiento5℃/min (enfriamiento mecánico, bajo carga estándar)
tarifa del cambio de temperatura

La temperatura alta puede resolver ajustable no lineal 5℃~8℃/min (medido en el mercado de aire, la refrigeración mecánica, bajo carga estándar), baja temperatura puede resolver 0℃~2℃/min no lineal

Ajustable (medido en el mercado de aire, enfriamiento mecánico, bajo carga normal)

uniformidad de la temperatura≤±2℃
carga estándar10KG bloque de aluminio, carga 500W;

 

Estándar de la prueba

Equipo de prueba de la temperatura GB/T5170.2-2008

 

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos de prueba AB de la baja temperatura.

 

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGOS des alta temperatura del método de prueba.

 

Método de prueba de alta temperatura GJBl50.3 (MIL-STD-810D).

 

Método de prueba de la baja temperatura GJBl50.4 (MIL-STD-810D).

 

Sistema de control

ExhibiciónPantalla LCD color
Modo de operaciónModo de programa, modo del valor fijo
AjusteMenú chino e inglés (opcional), entrada de la pantalla táctil
Determinación de la gamaTemperatura: Ajuste según la gama del funcionamiento de la temperatura del equipo (límite superior +5°C, un límite más bajo -5°C)

 

resolución de pantalla

Temperatura: 0.01°C

Tiempo: 0.01min

 

 

método de control

BTC equilibró el método + DCC (control de enfriamiento inteligente) del control de la temperatura + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de prueba de la temperatura)

BTHC equilibró temperatura y método de control de humedad + DCC (control de enfriamiento inteligente) + DEC (control eléctrico inteligente) (el equipo de la temperatura y de prueba de la humedad)

 

Función del expediente de la curva

Tiene PEGAR con la protección de la batería, que puede ahorrar el valor determinado, muestreando valor y muestreando la época del dispositivo; el tiempo de registración máximo es 350 días (cuando el período de muestreo es 1.5min)

 

 

 

Función accesoria

Critique la alarma y la causa, procesando la función pronto

Función de la protección del poder-apagado

Función superior y más baja de la protección de la temperatura límite

Función de temporización del calendario (el comienzo y automáticos automáticos paran la operación)

función del autoexamen

 

Nuestra introducción de la compañía:
El HAIDA INTERNACIONAL es fabricante profesional de diversas clases de equipos de prueba durante 24 años. Los productos del HAIDA son ampliamente utilizados en los productos de papel, empaquetando, la impresión de tinta, las cintas adhesivas, los bolsos, calzado, los productos de cuero, el ambiente, juguetes, productos del bebé, hardware, productos electrónicos, productos plásticos, productos y otras industrias, y aplicable de goma a todas las unidades de investigación científica, instituciones de la inspección de la calidad y campos académicos.

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