OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV
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La microscopía electrónica de barrido (SEM) es un medio de observación entre la microscopía electrónica de transmisión (TEM) y la microscopía óptica. Escanea la muestra con un haz de electrones de alta energía enfocado, y excita varias sustancias a través de la interacción entre el haz y la materia. La información se recopila, amplifica y vuelve a generar imágenes para lograr el propósito de caracterizar la morfología microscópica del material. Adhiriéndose a los objetivos de diseño de operación conveniente, imagen rápida y rendimiento estable, OPTO-EDU ha desarrollado de forma independiente un escáner de escritorio de filamento de tungsteno. Microscopio electrónico de barrido A63.7001tiene unavelocidad de escaneo rápiday un ancho de banda de adquisición de señal de 10M, que puede mostrar muestras de forma fluida y en tiempo real en modo de video. Todas las operaciones se pueden completar con un mouse, y no hay necesidad de pasos complejos como centrar el diafragma. Después de enfocar y eliminar el astigmatismo, puede tomar fotografías directamente. El host integra alta tensión y sistema de control, tamaño pequeño, fácil de mover, sin entorno especial para la instalación, solo encuentre una mesa, enchufe la alimentación, puede comenzar a trabajar. |
Especificación principal: 1. Voltaje de aceleración: 5KV/10KV/15KV 2. Tipo de cañón de electrones: filamento de tungsteno prealineado, vida útil 100 horas, fácil de reemplazar por el usuario, lente de cañón de dos etapas altamente integrada, sin necesidad de ajustar manualmente el diafragma del objetivo. 3. Ampliación ≥150000X； 4. Resolución:≤10nm@15KV 5. Detector: detector de electrones secundarios (SE), detector de retrodispersión cuádruple (BSE), 6. Etapa: etapa motorizada XY de 2 ejes, movimiento 40x30mm (40x40mm opcional)； 7. Tamaño máximo de la muestra: 80x42x40mm 8. Cambio de muestra y tiempo de bombeo de alto vacío ≤ 90s. 9. Sistema de alto vacío: bomba turbomolecular incorporada, bomba mecánica externa, el vacío en la cámara de muestra ≥1x10-1Pa, control totalmente automático; 10. Modo de video ≥512x512 píxeles, sin necesidad de escaneo de ventana pequeña. 11. Modo de escaneo rápido: tiempo de imagen ≤3s, 512x512 píxeles. 12. Modo de escaneo lento: tiempo de imagen ≤40s, 2048x2048 píxeles. 13. Archivo de imagen: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de brillo y contraste con una sola tecla, enfoque automático. 15. Función de navegación: navegación con cámara óptica y cámara de cabina. 16. Función de medición de imágenes: distancia, ángulo, etc. 17. Incluye computadora y software, control con mouse. 18. Opcional: --Filamento de tungsteno (20 piezas/caja) --EDS 19. Tamaño del microscopio: 283*553*505mm, tamaño de la bomba mecánica 340*160*140mm |
| Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
| Resolución | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
| Ampliación | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
| Cañón de electrones | Tungsteno | Tungsteno | Tungsteno | LaB6 | Schotty FEG |
| Voltaje | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
| Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
| CCD de navegación | CCD | CCD | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina |
| Tiempo de vacío | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
| Sistema de vacío | Bomba mecánica Bomba molecular | Bomba mecánica Bomba molecular | Bomba mecánica Bomba molecular | Bomba mecánica Bomba molecular Bomba de iones | Bomba mecánica Bomba molecular Bomba de iones x2 |
| Vacío | Alto vacío 1x10-1Pa | Alto vacío 1x10-1Pa | Alto vacío 1x10-1Pa | Alto vacío 5x10-4Pa | Alto vacío 5x10-4Pa |
| Etapa | Etapa XY, 40x30/40x40mm | Etapa XY, 40x30/40x40mm | Etapa XY, 60x55mm | Etapa XY, 60x55mm | Etapa XY, 60x55mm |
| Precisión de la etapa | - | Posición precisa 5um | |||
| Distancia de trabajo | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
| Muestra máxima | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
| Opcional | Filamento de tungsteno 20 piezas/caja | Filamento Lab6 | Lámpara de emisión de campo | ||
| EDS Oxford AZtecOne con XploreCompact 30 | |||||
| - | Bajo vacío 1-100Pa | Bajo vacío 1-30Pa | |||
| - | Módulo del eje Z | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
| - | Módulo del eje T | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
| - | - | Etapa de 5 ejes, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
| - | - | Plataforma amortiguadora de golpes, para etapa de 3 ejes, 5 ejes | |||
| - | Modo de desaceleración 1-10KV para observar muestras no conductoras, solo para BSE | ||||
| - | Etapa in situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. | ||||
| UPS | |||||
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