Microscopio óptico + atómico de la fuerza, todo junto

◆Diseño integrado de microscopio metalográfico óptico y de microscopio atómico de la fuerza, funciones potentes

◆Tiene el microscopio óptico y funciones atómicas de la proyección de imagen del microscopio de la fuerza, que pueden trabajar al mismo tiempo sin afectarse

◆Al mismo tiempo, tiene las funciones de la 2.a medida óptica y de la medida atómica del microscopio 3D de la fuerza

• ◆Se integran la cabeza de la detección del laser y la etapa de la exploración de la muestra, la estructura es muy estable, y el antiinterferente es fuerte

  ◆El dispositivo de colocación de la punta de prueba de la precisión, ajuste de la alineación del punto de laser es muy fácil

• ◆La muestra de la impulsión de solo-AXIS se acerca automáticamente a la punta de prueba verticalmente, de modo que el de punta de aguja sea perpendicular a la exploración de la muestra

  ◆El método de alimentación de la aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica a presión motor-controlada protege la punta de prueba y la muestra

• ◆Sistema de colocación óptico de la ampliación ultraalta para alcanzar la colocación exacta del área de la exploración de la punta de prueba y de la muestra

  ◆Redactor no lineal integrado del usuario de la corrección del escáner, nanómetro

• Especificación	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo del trabajo	Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de contacto Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático
  Curva actual del espectro	Curva de RMS-Z [Opcional] F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve
  Gama XY de la exploración	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Resolución XY de la exploración	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Gama de la exploración de Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Resolución de la exploración de Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Velocidad de la exploración	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Ángulo de la exploración	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Tamaño de muestra	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Mudanza XY de la etapa	15×15m m	15×15m m	25×25um	25×25um
  Diseño amortiguador	Suspensión de la primavera	Suspensión de la primavera Metal que protege la caja	Suspensión de la primavera Metal que protege la caja	-
  Syestem óptico	objetivo 4x Resolución 2.5um	objetivo 4x Resolución 2.5um	objetivo 10x Resolución 1um	Ocular 10x Plan LWD APO 5x10x20x50x del infinito los 5.0M Digital Camera 10" monitor LCD, con la medición Iluminación del LED Kohler Concentración gruesa y fina coaxial
  Salida	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Triunfo XP/7/8/10	Triunfo XP/7/8/10	Triunfo XP/7/8/10	Triunfo XP/7/8/10

• Microscopio	Microscopio óptico	Microscopio electrónico	Microscopio de exploración de la punta de prueba
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observación	1500x de immersión en aceite	Átomos de carbono del diamante de la proyección de imagen	Átomos de carbono grafíticos de alto nivel de la proyección de imagen

• Interacción de la Punta de prueba-muestra	Señal de la medida	Información
  Fuerza	Fuerza electrostática	Forma
  Corriente del túnel	Actual	Forma, conductividad
  Fuerza magnética	Fase	Estructura magnética
  Fuerza electrostática	Fase	distribución de carga

• 	Resolución	Condiciones de trabajo	Temperation de trabajo	Damge a muestrear	Profundidad de la inspección
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, líquido, vacío	Sitio o Temperation bajo	Ninguno	1~2 Atom Level
  TEM	Punto 0.3~0.5nm Enrejado 0.1~0.2nm	Alto vacío	Sitio Temperation	Pequeño	Generalmente <100nm>
  SEM	6-10nm	Alto vacío	Sitio Temperation	Pequeño	10m m @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Alto vacío estupendo	30~80K	Damge	Atom Thickness

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