Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode
Number modelo:A61.4510
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1pc
Condiciones de pago:L/C, Western Union, T/T, MoneyGram
Capacidad de la fuente:5000 meses del PCS/
Plazo de expedición:5~20 días
Contacta
Add to Cart
Evaluación de proveedor
Beijing Beijing China
Dirección:
Plaza de F-1501 Wanda, camino de no. 18 Shijingshan, Pekín 100043, China
Proveedor Último login veces:
Dentro de 1 Horas
Detalles del producto
Perfil de la compañía
Detalles del producto
Microscopio de exploración el hacer un túnel
◆Diseño miniaturizado y desmontable, muy fácil llevar y enseñanza de la sala de clase
◆Se integran la cabeza de la detección y la etapa de la exploración de la muestra, la estructura es muy estable, y el antiinterferente es fuerte
◆La muestra de la impulsión de solo-AXIS se acerca automáticamente a la punta de prueba verticalmente, de modo que el de punta de aguja sea perpendicular a la exploración de la muestra
◆El método de alimentación de la aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica a presión motor-controlada protege la punta de prueba y la muestra
◆Sistema lateral de la observación del CCD, observación en tiempo real del estado de la inserción de la aguja de la punta de prueba y colocación del área de exploración de la muestra de la punta de prueba
◆Efecto a prueba de choques a prueba de choques del método de la suspensión de la primavera, simple y práctico, bueno
◆Redactor no lineal integrado del usuario de la corrección del escáner, caracterización del nanómetro y exactitud de la medida mejor el de 98%
| A61.4510 | |
| Modo del trabajo | Constant Height Mode Constant Current Mode |
| Curva actual del espectro | I-V Curve Curva de la Actual-distancia |
| Gama XY de la exploración | 5×5um |
| Resolución XY de la exploración | 0.05nm |
| Gama de la exploración de Z | 1um |
| Resolución de la exploración de Y | 0.01nm |
| Velocidad de la exploración | 0.1Hz~62Hz |
| Ángulo de la exploración | 0~360° |
| Tamaño de muestra | Φ≤68mm H≤20mm |
| Mudanza XY de la etapa | 15×15m m |
| Diseño amortiguador | Suspensión de la primavera |
| Syestem óptico | enfoque continuo 1~500x |
| Salida | USB2.0/3.0 |
| Software | Triunfo XP/7/8/10 |
| Microscopio | Microscopio óptico | Microscopio electrónico | Microscopio de exploración de la punta de prueba |
| Max Resolution (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Observación | 1500x de immersión en aceite | Átomos de carbono del diamante de la proyección de imagen | Átomos de carbono grafíticos de alto nivel de la proyección de imagen |
| Interacción de la Punta de prueba-muestra | Señal de la medida | Información |
| Fuerza | Fuerza electrostática | Forma |
| Corriente del túnel | Actual | Forma, conductividad |
| Fuerza magnética | Fase | Estructura magnética |
| Fuerza electrostática | Fase | distribución de carga |
| Resolución | Condiciones de trabajo | Temperation de trabajo | Damge a muestrear | Profundidad de la inspección | |
| SPM | Atom Level 0.1nm | Normal, líquido, vacío | Sitio o Temperation bajo | Ninguno | 1~2 Atom Level |
| TEM | Punto 0.3~0.5nm Enrejado 0.1~0.2nm | Alto vacío | Sitio Temperation | Pequeño | Generalmente <100nm> |
| SEM | 6-10nm | Alto vacío | Sitio Temperation | Pequeño | 10m m @10x 1um @10000x |
| FIM | Atom Level 0.1nm | Alto vacío estupendo | 30~80K | Damge | Atom Thickness |
Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode
Carro de la investigación
0