A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x

Number modelo:A63.7006
Lugar del origen:China
Cantidad de orden mínima:1 PC
Condiciones de pago:T/T, unión del oeste, Paypal
Capacidad de la fuente:5000 meses del PCS/
Plazo de expedición:5~20 días
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Beijing Beijing China
Dirección: Plaza de F-1501 Wanda, camino de no. 18 Shijingshan, Pekín 100043, China
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE, 20x~60000x

  • 20x~60000x Resolución 15nm Con detector SE, BSE opcional, EDS, CCD
  • Etapa de trabajo estándar X/Y/R de 3 ejes, etapa de trabajo opcional de cinco ejes X/Y/Z/R/T
  • Lente de condensador electromagnético de 2 etapas, lente de objetivo electromagnético de 1 etapa
  • Sistema de Vacío: 1 Bomba Turbo Molecular + 1 Bomba Rotativa Mecánica
  • Inicio automático, enfoque automático, brillo automático, ajuste de contraste












Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno (SEM)
 A63.7006A63.7015
Resolución15nm@30KV(SE)5nm@30KV (EEB)
Aumento20x~60000x20x~150000x
Pistola de electronesCartucho de filamento de tungsteno precentrado, sistema automático de voltaje polarizado
VoltajeVoltaje de aceleración 1KV a 30KV,
1KV/5KV/10KV/15KV/20KV/30KV-6 Pasos
Sistema de lentesLente de condensador electromagnético de 2 etapas,
Lente de objetivo electromagnético de 1 etapa
Abertura-Diafragma de iris ajustable 30/50/50/100um, cambie el haz eléctrico para obtener una imagen de alta resolución
Sistema de vacíoBomba Rotativa, 100Litros/min
Bomba turbomolecular, 70 litros/seg.
Bombeo Ttime <3 Minutos
Control de vacío completamente automático
DetectorSE: Detector de electrones secundarios
BSE: detector de dispersión trasera (opcional)
EDS: (Opcional)
Etapa de trabajo del espécimenSistema de 3 ejes, X, eje Y: 35 mm / eje R: 360°Sistema de 5 ejes, X, eje Y: 35 mm / Eje R: 360°, Z: 0~22 mm / Eje de inclinación: 0~45°
Espécimen máximo70 mm de diámetro, 30 mm de altura80 mm de diámetro, 35 mm de altura
Cambio de imagenCambio de imagen X, Y ±150um
Sistema de escaneo de imágenesEscaneo rápido: 320x240 (Tiempo de escaneo: 0,1 seg.)
Escaneo lento: 640x480 (Tiempo de escaneo: 3 seg.)
Modo de foto 1: 1280x960
Modo de foto 2: 2560x1920
Modo de foto 3: 5120x3840
Formato de imagenBMP, JPEG, PNG, TIFF
Función automáticaInicio automático, enfoque automático, brillo/contraste automático
Exhibición de fotosAmpliación, tipo de detector, voltaje de aceleración, modo de vacío, logotipo (texto), fecha y hora, marcador de texto, barra de escala, etc.
Software de ordenadorPC Work Station Win 10 System, con software de análisis de imagen profesional para controlar completamente el funcionamiento completo del microscopio SEM, especificación de computadora no menos que Inter I5 3.2GHz, memoria 4G, monitor LCD IPS de 24", disco duro de 500G, mouse, teclado
Tamaño y pesoCuerpo Microscopio 460x600x950mm, Peso Total 95Kg
A63.7006, A63.7015 Conjunto de piezas y herramientas estándar
1Filamento de tungsteno precentrado5 piezas/caja
2Diám. de etapa de muestra15 mm10 piezas
3Diám. de etapa de muestra25 mm10 piezas
4Diám. de etapa de muestraInclinación de 45° de 15 mm5 piezas
5Diám. de etapa de muestraInclinación de 90° de 15 mm5 piezas
6Maestro estándar de altura1 PC
7Llave Allen1 juego
8CD de software SEM1 PC
9cinta conductora de carbono)1 PC
10Tijeras1 PC
11aurilave1 PC
12Pinzas1 PC


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A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x

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