Sensores de silicio amorfo Detector de panel plano DR dinámico y pruebas no destructivas

Número de modelo:H4343HDA-AG
Lugar de origen:China.
Cantidad mínima de pedido:1
Detalles del embalaje:Paquete de cartón estándar de exportación
El material:sensor de silicio amorfo
Temperatura:10-35°C (funcionamiento); 10~50°C (almacenamiento)
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Sensores de silicio amorfo Detector de panel plano DR dinámico y pruebas no destructivas

 

El H4343HDA-AG es un detector de peso ligero basado en silicio amorfo ((a-Si), que es adecuado para diversos campos, como el ensayo dinámico DR y el ensayo no destructivo.

 

Sensor de la misma
Receptor tipo a-Si

Los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos de los datos.

Área activa 430 x 430 mm

Resolución 3072x 3072

Pitch de los píxeles 139 μm

 

Suministro de energía y batería

Adaptador en AC 100-240V,50-60Hz

Adaptador de salida DC 24V,2.7A

Disposición de energía < 20 W

 

Calidad de imagen
Resolución límite 3,5 LP/mm

Rango de energía 40-160 KV

Rango dinámico ≥ 84 dB

Sensibilidad ≥ 0,54 LSB/nGy

Ghos < 1% 1er cuadro

DQE 42% @(1 LP/mm)

28% @ ((2 LP/mm)

Se aplicarán las siguientes medidas:

38% @ ((2 LP/mm)

20% @ ((3 LP/mm)

 

Aparatos eléctricos y interfaz
Conversión A/D 16 bits

Interfaz de datos Gigabit Ethernet

Tasa de imágenes 1x1 4fps/2x2 15fps/3x3 25fps

Control de la exposición: libre ejecución/adquisición SYNC

 

Mecánica
Dimensión 460 × 460 × 14,8 mm
Peso 3,8 kg

Materiales aleaciones de aluminio y magnesio

Panel delantero de fibra de carbono

 

Medio ambiente

Temperatura 10-35°C (funcionamiento); 10~50°C (almacenamiento)

Humedad 30-70% RH (sin condensación)

Protección de entrada IP51

China Sensores de silicio amorfo Detector de panel plano DR dinámico y pruebas no destructivas supplier

Sensores de silicio amorfo Detector de panel plano DR dinámico y pruebas no destructivas

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