Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.

Instrumentos ópticos de Phidix Tráigale los productos superiores, los servicios y las soluciones.

Manufacturer from China
Miembro activo
4 Años
Casa / Productos / Scanning Electron Microscope /

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

Contacta
Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.
Ciudad:shanghai
Provincia / Estado:shanghai
País/Región:china
Persona de contacto:MrJohnny Zhang
Contacta

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

Preguntar último precio
Number modelo :M22006
Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :Negociable
Condiciones de pago :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Capacidad de la fuente :10 PCS/Month
Plazo de expedición :40 días del trabajo
Detalles de empaquetado :1 caja de PC/Wooden
Color :blanco
Arreglo para requisitos particulares :OEM, ODM
Embalaje :1 PC/Carton
Garantía :1 año
Plazo de obtención :40 días del trabajo
Resolución :3Nm
Ampliación :300000X
Voltaje de aceleración :1~30kV
Detección de señal :Detector electrónico secundario (SED)
Arma de electrón :bifurcación-tipo mediano Pre-alineado filamento del tungsteno
Tamaño de Max Sample :370m m en diámetro, 68m m en altura
Función auto :Contraste auto del brillo, foco auto
Sistema del vacío :Mejor de PA 9 x 10-4 bajo alto vacío
more
Contacta

Add to Cart

Buscar vídeos similares
Ver descripción del producto

 

Resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 1X-300000X 3nm con la EEB, el EDS, EBSD, WDS y CL opcionales

 

M22006 es un microscopio electrónico rentable de exploración del filamento del tungsteno para la observación de las microestructuras del nanoscale. Tiene una ampliación hasta de 300,000x y de una resolución mejor que 3nm y también se equipa de una cámara de la muestra del diámetro de 370m m. Es un microscopio electrónico de alto rendimiento de exploración con la resolución ultraalta y la calidad excelente de la imagen. La ampliación es continuamente ajustable, y las imágenes claras con alto brillo se pueden obtener en diversos campos visuales. La profundidad del campo es grande y la imagen es rica en estéreo. Equipado de un modo de la cámara grande de la muestra y de la baja tensión amplía grandemente la gama de usos.

 

Specials:

 

- Ampliación 300000X máximo.

- Detección de señal: Detector electrónico secundario (SED).

- Voltaje de aceleración: 1~30KV, alta resolución de imagen.

- BSE/EDS/EBSD/WDS/CL es opcional, para el análisis componente.

- Sistema del alto vacío.

- Automático de tres ejes (estándar).

 

Artículo Especificación M22006
Resolución 3nm@30kV (SE)
Ampliación 1X~300000X
Voltaje de aceleración 1~30kV
Detección de señal Detector electrónico secundario (SED)
Arma de electrón bifurcación-tipo mediano Pre-alineado filamento del tungsteno
Función auto Contraste auto del brillo, foco auto
StageSystem/movimiento Método de control: Válvula automática
Bomba de Turbomolecular: 240 L/S
Bomba mecánica: ³ /h (50 herzios) de 12 m
Cámara: Navegación óptica, supervisando en la cámara de la muestra
Configuración de la etapa de la muestra, automático de tres ejes (estándar)
X: 0~100m m
Y: 0~100m m
Z: 0~60m m
Max Sample Diameter: 370m m
Max Sample Height: 68m m
Cinco AXIS automático (opcional)
X: 0~115m m
Y: 0~115m m
Z: 0~65m m
R: 360°
T: -10°~75°
Max Sample Diameter: 370m m
Max Sample Height: 73m m
Sistema del vacío Mejor de PA 9 x 10-4 bajo alto vacío
Detector opcional BSEEDSEBSDWDSCL
Sistema de la proyección de imagen ≤ 6144 x 4096 del pixel de la imagen
Formato de la imagen: TIFF, JPG, BMP, PNG
Software Lengua: Chino/inglés
Sistema operativo: Windows
Navegación: La navegación óptica, gesticula la navegación rápida
Función especial: Astigmatismo dinámico
Requisitos de la instalación Espacio: L≥ 3000 milímetros, ≥ de W 4000 milímetros, ≥ de H 2300 milímetros
Tamaño de la puerta: ≥ de W 900 milímetros, ≥ de H 2000 milímetros
Temperatura: ℃ 20 al ℃ 25
Humedad: ≤ el 50%
Ruido: ≤ 45dB
Fuente de alimentación: CA 220 V (± 10%), 50 herzios, 2 KVA
Cable de toma de tierra: Menos de 4 Ω
Campo magnético de la CA: Menos NT de 100

Nota:● significa el estándar, ○ significa opcional

 

 

Galería

 

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

 

 

Usos

 

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

 

 

Resolución tablero del microscopio electrónico de exploración de la EEB EDS 1X-300000X 3nm

 

 

 

Carro de la investigación 0