Oblea que examina el microscopio Inspect500
Uso
EXAMINE la serie que mide el microscopio metalúrgico son ampliamente utilizado en los paquetes del semiconductor, cojines de la soldadura, altura del lazo, los paneles de FPD (LCM), nivel CSPS de la oblea y así sucesivamente.
Características y ventajas de la oblea que examinan el microscopio
■Base, tabla de alta precisión y columna de mármol para asegurar altas estabilidad y rigidez
■El diseño de mármol de la tabla, con el carril cruzado de forma de V de la precisión, se asegura que el uso a largo plazo sin deforme, que garantice con eficacia la alta precisión mecánica
■El sistema óptico de alta calidad y el CCD de alta resolución aseguran los bordes de la imagen aguda
■la fuente de luz de la fuente de luz fría de la superficie del anillo del Tres-anillo y de la ocho-zona LED y del contorno, evita la deformación de las piezas de precisión causadas por el calor de la luz
■Nikon opcional que inclina el tubo trinocular + visera del yelmo quíntupla
■Investigación y desarrollo independiente del software de medición de la imagen, potente y fácil actuar
Datos técnicos
| Modelo |
INSPECT300 |
INSPECT400 |
INSPECT500 |
| X, viaje del eje de Y (milímetros) |
300*200 |
400*300 |
500*400 |
| Tamaño de cristal de la etapa (milímetros) |
357*257 |
457*357 |
557*457 |
| Viaje del eje de Z (milímetros) |
100 |
| X, Y, resolución del eje de Z (μm) |
1 |
| Unidad de la longitud |
Escala linear |
| Exactitud de medición (μm) |
longitud de 2.5+L/150 L=measuring (milímetros) |
| Modo de operación (X, Y) |
Manual |
| Modo de operación (Z) |
CNC |
| Sistema de la imagen |
Cámara CCD de alta resolución |
| Visera del yelmo quíntupla |
5X |
10X |
20X |
50X |
| Ocular |
WF10X |
| Software de medición |
2.o software de medición |
| Iluminación |
Transmitido |
sistema de la Epi-iluminación |
| Contorno |
Luz paralela del contorno del LED |
| Fuente de alimentación |
AC100~240V 50/60Hz |
