MCU CI

[217]

Conectores de FFC FPC

[3000]

El buffer de salida del reloj

[2459]

Audio para un propósito especial

[1050]

ICs de adquisición de datos

[1000]

ICs integrados

[1000]

Interfaz de circuitos integrados

[1000]

IC lineal

[950]

Lógica IC

[894]

IC de memoria

[984]

GESTIÓN DEL PODER

[939]

RF y radio

[995]

Sensores de temperatura IC

[1000]

Multiplicadores de frecuencia

[934]

Protección de circuito IC

[992]

Semiconductor discreto

[911]

Condensadores del polímero

[699]

sensores ultrasónicos

[1000]

Circuitos integrados IC

[1000]

Protección de circuitos

[692]

Optoelectrónica

[1000]

Conectores coaxiales

[398]

Productos de semiconductor discretos

[851]

Filtros cerámicos de Murata

[757]

Inductores, bobinas y estrangulamientos

[950]

Conectores de especificaciones mil

[890]

circuitos integrados ics

[27]

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MCU CI

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Las condiciones de las pruebas de ensayo deberán ser las siguientes: